Дифракция на двумерных структурах

Дифракция на двумерных структурах [c.225]

Дифракция на двумерных пропускающих диэлектрических структурах [c.201]

Интерференционное поле, образующееся в области перекрытия опорной и предметной волн, конечно, не локализовано на поверхности фотопластинки. Как и в любом опыте с когерентными волнами, места повышенных и пониженных значений амплитуды суммарного колебания распределены во всем пространстве по тому или иному закону, зависящему от вида волновых фронтов. Поэтому в слое фоточувствительной эмульсии, всегда обладающем некоторой толщиной, образуется трехмерная структура почернений, а не двумерная, как приближенно предполагалось нами ранее. Вместе с.тем, законы дифракции света на трехмерных структурах имеют свои особенности (см. гл. X), которые, как сейчас выяснится, находят интересные применения в голографии. [c.262]

Дифракция на отражающих двумерных структурах [c.193]

В двумерных задачах дифракции на кромке краевая волна была цилиндрической. Наиболее существенным новым фактором, появляющимся в рещении в произвольном трехмерном случае, является усложнение лучевой структуры краевой волны. Она определяется вторым законом ГТД угол раствора конуса дифракционных лучей равен углу ю(ст) между кромкой и падающим лучом. [c.112]

Другим видом электрооптической тонкопленочной модуляции является использование двумерной брэгговской дифракции волноводной моды на пространственной периодической модуляции показателя преломления. Периодическое изменение показателя преломления можно получить с помощью периодического электрического поля, создаваемого гребенчатой электродной структурой, показанной на рис. 11.19. Этот случай формально аналогичен случаю брэгговского рассеяния на звуковой волне (см. гл. 9), когда модуляция показателя преломления была обусловлена акустической деформацией. [c.492]

Для обратного преобразования двумерное сечение обратной решетки можно смоделировать, делая отверстия, площади которых пропорциональны Для центросимметричной структуры отрицательные знаки для некоторых отражений можно получить, закрывая отверстия пластинками, меняющими фазу на л. В результате интенсивность в плоскости дифракции будет иметь вид [c.142]

Уже в первых исследованиях ДМЭ было обнаружено, что на фоне дифракционных рефлексов от объемной структуры кристалла четко фиксируются рефлексы от его поверхности. Дифракционная картина от поверхностных атомов наблюдалась только в случае атомарно-чистой поверхности и полностью исчезала даже при слабом ее окислении. Сам факт возникновения дифракции однозначно говорит о существовании на атомарно-чистой поверхности упорядоченных областей, обладающих трансляционной двумерной инвариантностью. [c.133]

В заключение попытаемся качественно объяснить явление рассеяния света различными средами. Мы видели, что дифракция электромагнитной волны на неправильной плоской (двумерной ) структуре приводит к отклонению части потока энергии от его первоначального направления, т.е. к рассеянию света. Аналогичный процесс должен происходить и при дифракции на неправильной пространственной (трехмерной) структуре — дифракция света на каждой частице приведет к отклонению части пучка. Интерференция отклонившихся от первоначального направления волн (обусловливающая возникновение острых дифракционных максимумов) в данном случае не происходит. Весь эффект пропорционален когщентрации рассеивающих центров. [c.352]

Метод анализа дифракции световой волны на двумерной пропускающей диэлектрической структуре основан на шсленном решении уравнений Максвелла в пространственно-частотных координатах. Систему уравнений Максвелла (3.5), (3.6) за-пишем в следующем виде, раскрывая векторный оператор [c.201]

Проблемы, возникающие при изучении дифракционных явлений, относятся к наиболее трудным в оптике, и их редко удается довести до строгого решения. Первое такое решение было получено только в 1896 г. А. Зоммерфельдом, рассмотревшим важный вопрос дифракции плоской волны на идеально проводящем полубесконечном плоском экране. С тех пор было найдено строгое решение только нескольких дифракционных задач, относящихся главным образом к двумерным структурам (см. гл. 11). В больпшнстве же случаев, представляющих практический ннтерес, из-за математических трудностей приходится прибегать к приближенным методам, и тут теория Гюйгенса и Френеля служит чрезвычайно мощным орудием, позволяющим решить большинство вопросов, встречающихся в инструментальной оптике. Эта теория и некоторые се приложения составляют главное содержание настоящей главы. [c.341]

Здесь имеется аналогия с фоторефрактивным голографическим преобразователем изображений, который рассматривался выше. Там запись изображений осуществляется во внешнем поле, промодули-рованном за счет записи когерентным светом синусоидальной решетки здесь внешнее поле оказывается также промодулированным, но за счет системы электродов на поверхности кристалла. Однако относительно низкая пространственная частота внешнего поля (v л л 1.5 лин/мм) практически не позволяет, по крайней мере для двумерных изображений, восстановить записанное изображение в первом порядке дифракции считывающего света на решетке внешнего поля. Чтобы это можно было сделать, желательно увеличить пространственную частоту электродной структуры. Однако глубина проникновения внешнего поля в кристалл пропорциональна расстоянию между электродами. Поэтому увеличение частоты электродной стр уктуры должно привести к уменьшению слоя кристалла, в котором происходит запись изображения, и, следовательно, к уменьшению чувствительности и дифракционной эффективности ПВМС, В работе [8.92] было предложено использовать ФРК для электрически управляемой записи информации. В простейшем варианте такая запись может быть осуществлена, например, на ПВМС ПРИЗ [c.201]

В двумерной проекции вдоль любого другого направления, наклонного по отношению к направлению с, структура со сдвигами (проектируюш имися на это направление) будет выглядеть как обладаюш,ая нарушениями второго рода, причем увеличение наклона даст увеличение проекции сдвигов. В обратном пространстве дифракции от таких косых проекций соответствуют плоскости с ненулевыми I, на которых, таким образом, рефлексы будут размываться. Непрерывному сдвигу t(z) (47) соответствует полная потеря периодичности при любом наклоне направления проектирования, кроме идеального вдоль с. Поэтому при непрерывном [c.267]

До сих пор мы рассматривали только одномерную решетку, но наш анализ легко распространть на дву- и трехмерную периодические структуры, вызывающие дифракцию. Двумерные решетки (называемые пересекающимися) не нашли практического применения, хотя действие подобных решеток наблюдается часто, например при рассматривании яркого источника света сквозь тонкую чкань (хотя бы носовой платок). Теория же трехмерных решеток представляет огромный практический интерес, так как такие решетки образуются в кристаллах благодаря правильному расположению атомов. Постоянная этой [c.373]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...