Длительные и короткие экспозиции

Как можно ожидать на основании вида изображений, приведенных на рис. 8.12, имеется существенное различие между ОПФ, полученными при длительной и короткой экспозиции. В данном параграфе мы рассмотрим только случай большой экспозиции, который соответствует, например, регистрации изображения слабых астрономических объектов, требующих времени интегрирования, измеряемого секундами,. минутами и даже часами. В основе нашего анализа будет лежать предположение о временной эргодичности, а именно о том, что усредненная за большой промежуток времени ОПФ, на которую оказывает влияние большое число независимых реализаций атмо- [c.378]

А. Длительные и короткие экспозиции [c.407]

В ряде мест мы утверждали, что средний квадрат МПФ будет оставаться значительным в области частот, намного больших, чем для усредненных ОПФ при длительной и короткой экспозиции. Мы изложим интуитивное доказательство правильности этого утверждения, а затем перейдем к более строгому доказательству. [c.419]

II,7 и 38,4. На том же графике показаны также усредненные ОПФ для длительной и короткой экспозиции в тех же случаях. [c.426]

Рассмотрим еще раз различие в ФРТ для длительной н короткой экспозиции (см. рис. 8.12 и 8.27). Изображение точечного источника, полученное при короткой экспозиции, обнаруживает сложную высокочастотную структуру, часто называемую спекл-структурой, тогда как изображение точки, полученное при длительной экспозиции, оказывается сравнительно плавным и регулярным. Это говорит о том, что при короткой экспозиции ОПФ имеет больший высокочастотный отклик, чем при длительной экспозиции, как это и видно на рис. 8.27. [c.415]

Было показано [150], что можно восстановить изображение звезды, записав изображение, полученное при длительной экспозиции, и определив автокорреляцию изображения, полученного при короткой экспозиции. Такой метод применим только к малым изолированным объектам на темном фоне (т. е. к звездам он применим). [c.128]

ФРТ и ОПФ, отвечающие изображениям, полученным при короткой экспозиции, заметно отличаются от соответствующих функций при длительной экспозиции. Как показано на рис. 8.27 (см. также рис. 8.12), ФРТ для длительно экспонируемого изображения— плавная и широкая функция, а соответствующая ОПФ — плавная и узкая. В случае же короткой экспозиции ФРТ — зубчатая и суженная, тогда как соответствующая ОПФ обнаруживает значительные флуктуации как величины, так и фазы при изменении пространственной частоты. [c.408]

Рнс. 8.27. Типичные функции размытия точки и передаточные функции для изображений, полученных при разной экспозиции, а — длительная экспозиция б — короткая экспозиция. [c.408]

Усреднение числителя и знаменателя в этом выражении по отдельности привело к нашему предыдущему выражению для длительно экспонированной ОПФ. Теперь мы хотим учесть то, что наклон волнового фронта не влияет на качество изображения в случае короткой экспозиции. Таким образом, нам нужно исключить наклон волнового фронта из фаз 5] и в выражении (8.7.1), а затем выполнить усреднение. [c.409]

На рис. 8.28 представлены кривые общих усредненных ОПФ системы для телескопа с круглым зеркалом диаметром 1 м и атмосферы с Го = 10 см. Длина волны принята равной 0,5 мкм. Кривая при а = 0 соответствует длительной экспозиции, а кривые при а =1/2 и а=1—короткой экспозиции. На том же графике показана ОПФ дифракционно-ограниченной системы прн диаметре круглой оптики, равном 1 м. [c.413]

Ячейка Керра, работающая в электрическом поле короткого мощного светового импульса, может служить фотографическим затвором, который позволяет делать время экспозиции порядка 10 с. Она с успехом применяется для изучения длительности люминесценции и других молекулярных процессов. Ячейка Керра, подобная изображенной на рис. 27.2, может служить для модуляции интенсивности света необходимо только питать конденсатор напряжением высокой частоты. [c.536]

Так как коррозия никеля имела локальный характер, то не могло наблюдаться определенной связи ее с длительностью экспозиции. Тем не менее, интенсивность питтинговой и щелевой коррозии возрастала с увеличением длительности экспозиции как на глубине, так и у поверхности. Скорости коррозии на глубине 1830 м возрастали с длительностью экспозиции, хотя это увеличение не было постоянным. В некоторых случаях скорости коррозии были существенно выше после коротких периодов экспозиции, чем после более длительных. Скорости коррозии на глубине 760 м с увеличением длительности экспозиции не менялись. [c.303]

Выбор того или иного источника света определяется тем, движется объект или находится в покое. Для объектов, которые за время экспонирования перемещаются на расстояние, меньшее, чем Х/20, годится освещение непрерывным светом с механическим прерыванием. Для освещения же быстро движущегося объекта приходится применять импульсный источник света. Максимальная скорость объекта для данной длины волны Я и времени экспонирования Ы оказывается порядка i/8A/. Движение объекта может накладывать и другие ограничения, например требование к пиковой мощности вместо энергии светового импульса короткой длительности. Любая фоточувствительная среда характеризуется определенным уровнем экспозиции (энергией на единицу площади), выше которого она обеспечивает хорошее качество голограмм. Так как при освещении коротким импульсом время экспонирования короче, то для достижения той же самой экспозиции мощность импульса должна быть больше (см. гл. 8, т. 1 настоящей книги). Это может потребовать такой большой пиковой мощности излучения, которое, будучи направлено нн объект и оптические приборы, приведет к их разрушению, особенно в тех случаях, когда значитель- [c.628]

Различие между результатами для длительной и короткой экспозиции связано с множителем [1 — а(й/йо) ]- В случае длительной экспозиции мы имеем а = О, и этот член равен единице. В случае же короткой экспозиции ненулевое значение а приводит к возрастанию ОПФ, особенно когда й приближается к йо- В различных значениях параметра а, отвечающих случаям ближнего и дальнего поля, просто находит отражение то обстоятельство, что изменение фазы, связанное с наклонной компонентой волнового фронта, ие влияет на ОПФ, а сама фаза играет меньшую роль в случае дальнего поля, чем в случае ближнего поля. В ближнем поле вся нечеткость обусловлена фазовыми эффектами, тогда как в дальнем поле только половина нечеткости обусловлена фазовыми возмущениями, а другая половина — амплитрудными эффектами. [c.413]

В предыдущих параграфах мы изучали ограничения, налагаемые на качество изображения атмосферными неоднородностями, при формировании изображения оптической системой в условиях длительной и короткой экспозиции. Влияние атмосферы описывалось передаточными функциями, которые уменьшают пространственно-частотный отклик на высоких частотах и нередко существенно снижают разрешение системы. Теперь мы перейдем к новому важному методу сбора и обработки данных, который позволяет извлечь из серии коротко экспонированных изображений информацию о пространственных частотах, значительно больших, чем те, которые могли бы быть пропущены рассмотренными ранее усредненными длительно и коротко экспонированными передаточными функциями. Такой метод формирования изображения предложил и впервые продемонстрировал в астрономической обсерватории Лабейри [8.33, 8.34 [c.414]

Адгезионная прочность за короткий промежуток времени снижается до постоянного уровня, который не меняется в течение длительного времени экспозиции. Анализ приведенных зависимостей показал, что время падения адгезионной прочности складывается из времени проникповення агрессивной среды к поверхност. металла н времени, необходимого для развития коррозионных процессов ria металле. Это время можно оценить с помощью коэффициента диффузии и коэффициента проницаемости среды через покрытие. [c.47]

Из рис. 11 следует, что голограмма сфокусированного изображения обеспечивает минимальный уровень фона независимо от длительности экспозиции фотопластинки, в то время как в случае регистрации голограмм по френелевской схеме такой уровень фона имеет место лишь при оптимальной длительности зкспо-зиции. Следовательно, сфокусированная голограмма может регистрироваться при относительно больших зкспо-зициях, обеспечиваюших весьма короткое время проявления. Что же касается голограмм Френеля, то при их получении необходимо строго контролировать режим зкспозиции и обработки фотопластинки во избежание появления значительных нелинейных шумов. [c.30]

Рис, 8.29. Зависимость нормированного разрешения Зг/Згмакс от нормированного диаметра >/го оптической системы, формирующей изображение при короткой и длительной экспозиции [8,28]. [c.414]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...