Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Спектральная линия, форма распространение

Вместе с тем естественно применить аппарат нелинейной акустики к анализу распространения случайных звуковых возмущений. Рассмотрение деформации формы начального спектрального распределения, динамики различных нелинейных взаимодействий представляет и здесь несомненный интерес. Важность этих исследований обусловлена в первую очередь наличием реальных источников, являющихся, по существу, источниками шумовых волн. В качестве примеров можно указать на такие явления, как кавитация [8], электрические разряды в воде [116], взрывы, мощные струйные течения и т. д., сопровождающиеся излучением интенсивных шумов. Более того, обычные источники ультразвука, с которыми приходится иметь дело в повседневной лабораторной практике, также не вполне монохроматичны. Несмотря на высокую добротность линий, они имеют все же конечную ширину, что  [c.251]


С появлением лазерных источников стало необходимым, а с развитием вычислительной техники — возможным использование метода прямого расчета функций пропускания, учитывающих вклады всех линий поглощения, находящихся в интервале излучаемых частот так называемого метода line by line . Он является самым точным из существующих ныне. С его помощью расчет функций поглощения и пропускания проводится по строгим формулам (8.6) — (8.9) с привлечением высокоточной информации, получаемой с высоким спектральным разрешением на современных спектрометрах, включая лазерные приборы, а также современными расчетными методами, рассмотренными выше, и дающими точность описания спектра, сравнимую с экспериментальной. Необходимая информация включает в себя данные о структуре спектра поглощения и параметрах отдельных спектральных линий форме контура линий поглощения в широком интервале смещенных частот зависимости характеристик спектральных линий от состава, давления и температуры газа, а также дополнительную информацию о метеомоделях и высотных профилях газовых составляющих атмосферы и параметрах трассы распространения.  [c.188]

Взаимовлияние излучения и вещества характерно для излучающей плазмы. Действителыю, с одной стороны, само излучение обусловлено ускорением частиц и его спектр формируется их тепловым движением, а с др. стороны, радиац. потери плазмы ограничивают её темп-ру, т. е. интенсивность движения частиц. В горячей разреженной плазме И. п. имеет определяющее значение также и в формировании распределения ионов по кратностям ионизации (см. Ионизационное равновесие), а для данного Z/ — по возбуждённым уровням. Эти распределения вместе с максвелловским распределением электронов по скоростям (к-рое обычно легко поддерживается их частыми взаимными столкновениями и потому не искажается излучением) образуют полный набор излучателей для ЛИ, ТИ, ФИ и ЦИ. В свою очередь, частицы плазмы влияют на форму излучаемых спектров, приводя к уширению спектральных линий, й на распространение излучения в среде (см. ниже Запирание излучения, а также Перенос излучения). Наиб, полным взаимовлияние плазмы и излучения оказывается для ЛИ дискретность спектра предопределяет его чувствительность к многообразным уширяющим воздействиям электронов и ионов, а ко1[центрацня излучающих электронов на возбуждённых уровнях в сильной степени определяется скоростью радиац. процессов девозбуждения и возбуждения.  [c.108]

ИНТЕРФЕРОМЕТР — прибор, основанный на явлении интерференции волн. В соответствии с природой волн существуют интерферометры акустические для звуковых волн и И. для ол.-магн. воли. К последним относятся онтич. И. и радиоинтерферометр. В данной статье расс.матриваются оптич. И., к-рые получили наиб, распространение как приборы для измерения длин волн спектральных линий и их структуры для из.мере-ния показателей преломления прозрачных сред в метрологии для абс. и относит, измерений длин и перемещений тел, измерения угл. размеров звёзд (см. Интерферометр звкздпъьй) для коитроля формы, микрорельефа и деформации поверхностей оитич. деталей и чистоты мета ллич. поверхностей и пр.  [c.170]


Сравнение методов восстановления СКСЛ позволяет сделать следующий практический вывод. В тех ситуациях, когда заранее известна форма контура спектральной линии, целесообразно использовать менее общий прямой метод извлечения информации. Заметим, что такие ситуации являются весьма распространенными в спектроскопии высокой разрешающей силы.  [c.105]

Конденсированная искра высокого напряжения работает значительно более стабильно, чем дуга постоянного тока. Однако, конечно, эта стабильность совершенно недостаточна для фотометрических целей, так как относительная интенсивность спектральных линий в спектре во время работы самопроизвольно изменяется в силу ряда причин. В целях улгеньшепия указанных флук-туацш в интенсивности предложены различные варианты схем включения конденсированной искры высокого напряжения. Однако в спектральнол анализе получили распространение только две схемы схема II рис. 182 и схема рис. 183. Было установлено, что величина пробивного напряжения очень сильно зависит не только от длины искрового промежутка, но и от формы и состояния поверхности электродов, в силу чего разряд конденсатора С колебательного контура искры происходит в каждый полупериод напряжения питающей сети различным образом. Поэтому через электродный промежуток в разные полупериоды проходят различной величины токи, что нарушает в свою очередь стабильность в интенсивности искры. В целях существенного уменьшения указанного влияния рабочего электродного промежутка в цепь искры вводится  [c.243]

Рассмотрим теперь случай, когда световой импульс имеет столь большую ширину линии Асоо, что линейный закон не будет более хорошо аппроксимировать дисперсионное уравнение (рис. 8.11, в). В этом случае различные спектральные области импульса распространяются с различными групповыми скоростями и, следовательно, форма импульса меняется во время распространения. Выбрав две соседние элементарные спектральные области импульса вблизи частоты (о, разделенные элементарным частотным интервалом da, определим изменение временной задержки dxd-  [c.517]


Смотреть страницы где упоминается термин Спектральная линия, форма распространение : [c.114]   
Статистическая оптика (1988) -- [ c.194 , c.196 ]



ПОИСК



Линия спектральная

Спектральная линия, форма

Форма линии



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте