ПРЕДМЕТНЫЙ рабочих поверхностей

Конические цапфы применяются довольно редко, преимущественно в геодезических и астрономических приборах, а также в микроскопах (револьвер для смены объективов, предметный столик, угломерный окуляр (рис. 22 и 23). Опоры с двумя коническими цапфами (опоры на центрах, рис. 24) применяются для легких деталей с точной центрировкой. Рабочие поверхности винта следует калить до твердости HR 55—60. [c.494]

Размеры рабочей поверхности предметного сто [c.125]

Одновременно проверяют параллельность рабочей поверхности стола и предметного стекла плоскости движения салазок. Наконечник микромера приводят в этом случае в контакт непосредственно с поверхностью стола, а затем стекла в их крайних положениях. Стойка с микромером устанавливается на плите, стоящей рядом с прибором, либо прибор и стойку помещают на одну плиту. Отклонение от параллельности допускается в пределах 0,02 мм для плоскости стола на всей длине его перемещения и 0,03 мм для плоскости предметного стекла по его диаметру. [c.183]

Юстировка предметного стекла. Рабочая поверхность предметного стекла 4 (фиг. 207,6) должна быть перпендикулярна оси вращения стола и параллельна ее опорным поверхностям. Неперпендикулярность не должна превышать 0,02 мм на длине 50 мм, а непараллельность — 0,02 мм на длине 100 мм. [c.397]

В большинстве случаев измерительные поверхности инструментов и приборов изготовляются плоскими. К ним относятся поверхности предметных столиков универсальных стоек, торцовые поверхности пяток и шпинделей микрометров, измерительные поверхности губок штангенциркулей и т. д. Исключение составляют некоторые типы измерительных наконечников со сферическими рабочими поверхностями. [c.650]

Рабочая камера 11 типа сосуда Дьюара, выполненная из кварцевого стекла с нанесенным на внутреннюю поверхность металлизационным слоем 12, снабжена плоскопараллельным смотровым стеклом 13, расположенным в дне рабочей камеры. С помощью вакуумного уплотнения 14, размещенного между шлифованной кромкой рабочей камеры и основанием 15, устанавливаемом на предметный столик 16 металлографического микроскопа, рабочая камера связана через штуцер 17 с трубопроводом 18 откачивающей системы. Объектив 19 может свободно перемещаться в вертикальном направлении с помощью резинового вакуумного уплотнения 20, герметизирующего зону расположения объектива в основании рабочей камеры. В специальной втулке 21, установленной на опорном кольце 22 микроскопа и служащей для размещения объектива 19, расположено герметизированное плоскопараллельное стекло 23. Это стекло с уплотнениями 14 и 20 обеспечивает вакуум между стенками рабочей камеры, вполне достаточный для того, чтобы предотвратить выделение конденсата влаги на смотровом стекле 13. В результате оказалось возможным прямое наблюдение и фотографирование нижней горизонтальной полированной поверхности образца 1 через слой заливаемого в рабочую камеру хладагента 24, в качестве которого используются, как уже отмечалось, сжиженные газы или любые прозрачные охлаждающие смеси. [c.197]

Одновременно проверяют параллельность рабочей поверхности стола и предметного стекла плоскости движения. Проверку производят микромером, зажатым в стойку, установленную иа плите рядом с микроскопом. Наконечник микромера приводят в контакг с поверхностью стола (илп стекла) и, перемещая стол, производят отсчет по шкале микромера в крайних положениях стола. Допустимые отклонения от парал.тельностн для плоскости стола 0,02 мм иа всей длине перемещения стола и 0,04 мм на диаметре предметного стекла. [c.136]

Пластинка псевдосплава, изготовленная на основе твердого связующего, должна пройти первичную обдирку 35, с. 218]. Цель этой операции состоит в том, чтобы выравнить рабочую поверхность будущего шлифа и снять все острые кромки и выступы, имёющиеся на ней. Для удобства последующей установки готового шлифа на предметное стекло рекомендуется слегка обработать и плоскость пластинки, противоположную рабочей, чтобы она была параллельна рабочей поверхности шлифа. Обдирку проводят на чугунном диске, вращающемся с частотой 300—400 об/мин. На диск подается абразивный материал (размер зерен 20— 30 мкм) в виде жидкой кашицы в воде. Для шлифов, компоненты которых могут реагировать с водой, абразив размешивают в глицерине, керосине или другой жидкости. В ходе обдирки рабочей поверхности шлифу придается форма и размеры, обеспёчивающие удобство установки его на предметное стекло или металлическую пластинку. [c.112]

Предметное стекло. Предметное стекло нижней своей плоскостью устанавливается на рабочую поверхность столика. Толщина предметного стекла входит в расчет конденсорных систем. Предметное стекло для микропрепаратов должно отвечать следующим техническим требованиям ГОСТ 9284—59. [c.403]

В целом можно сказать, что комбинированный симметричный объектив с дифракционной асферикой довольно ограничен по своим возможностям. Силовым элементом в нем будет мениск с равными радиусами, который при небольшой толщине ввиду значительной кривизны поверхностен (требуемой для получения заданной оптической силы) не способен обеспечить значительного апертурного угла, т. е. высокого разрешения. При аномальном увеличении толщины мениска (di > г), добиваются высокого разрешения на оси системы, однако в этом случае входной зрачок объектива расположен вблизи предметной плоскости, в результате чего при отходе от оси резко возрастает угол между главным лучом и нормалью к поверхности мениска. Это приводит к росту аберраций высших порядков и уменьшению рабочего поля. Так, при габаритном размере системы L = 810 мм, что совпадает с габаритным размером симметричного двухлинзового дифракционного объектива при фокусном расстоянии каждой ДЛ f = 270 мм, и разрешении б = = 3 мкм на длине волны = 441,6 нм удается получить рабочее поле диаметром всего лишь 16 мм (ср. с данными табл. 4.6). Если не предъявлять высоких требований к разрешению и рабочему полю, комбинированный, триплет с дифракционной асферикой не лишен положительных качеств его светопропускание может быть обеспечено на уровне обычного рефракционного объектива, а хроматизм позволяет использовать излучение газоразрядных приборов, например типа ртутной лампы высокого давления (см. гл. 6). [c.168]

На фиг. 32 представлена схема прибора типа НВ завода ГЗИП для измерения твёрдости алмазной пирамидой. Испытуемая деталь укладывается на предметный столик подъёмного винта JS и маховичком /5 поджимается к чехлу J0, внутри которого помещается рабочий шпиндель с алмазным наконечником ff. Зазор между испытуемой поверхностью и пирамидой равен 0,1—0,3 мм. [c.14]

В основу интерференционных микроскопов положен принцип интерференции света, т. е. использование длины световой волны. Для аттестации рабочих образцов и фотографирования высот неровностей у деталей с ответственными поверхностями успешно применяют интерферометр Линника МИИ-4. На этом приборе (рис. 77) можно измерять шероховатость поверхности 10—14-го классов (самых высоких). Измеряемая деталь устанавливается на предметный столик 1, который может перемещаться во взаимно перпендикулярных направлениях. Источником света является лампа осветителя 2. В поле зрения окуляра 3 одновре.менно наблюдают шероховатость исследуемой поверхности и интерфе- [c.119]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...