Коэффициент кривизны

Здесь dm=(di+d2)/2 —средний диаметр и б= ( 2—[c.21]

Фиг. 1. Коэффициент кривизны цилиндрической стенки.

Коэффициент кривизны зависит от соотношений сопротивлений элементов прибора и определяется по табл. 2-16 или формуле [c.157]

А —коэффициент кривизны, зависящий от рода тер мопар и от предела измеряемой температуры 0 — средняя температура свободных концов термо пары в условиях опыта [c.158]

Расчет теплопотерь через цилиндрические или искривленные стены можно вести по формулам для плоской, но с поправочным коэффициентом кривизны ф [c.90]

Рис. 2-1. Коэффициент кривизны цилиндрической стенкн.

Коэффициент кривизны характеристики идеального перехода Дополнительный коэффициент кривизны [c.501]

Широкое распространение для описания топографии получил математический аппарат теории случайных полей. Знание статистических моментов спектральной плотности нулевого (тд), второго (wj) и четвертого (т ) порядков позволяет определить такие характеристики, как высотный параметр, угловой коэффициент, кривизны вершин неровностей. Анализ зависимости интенсивности вторичной эмиссии электронов от угла падения зонда показывает, что по характеру изменения и амплитуде сигнала ВЭЭ можно непосредственно определить число экстремумов поверхности (число пересечений сигнала со средней линией на единицу длины), средний тангенс угла 178 [c.178]

Здесь изменение базиса учтено введением символов Кристофеля Гар и коэффициентов кривизны Ва, Вар. [c.95]

Фиг. 7-2. Коэффициент кривизны цилиндрической стенки в зависимости от отношения наружного диаметра к внутреннему.

Фиг. 7-2. <a href="/info/109197">Коэффициент кривизны цилиндрической стенки</a> в зависимости от отношения <a href="/info/435985">наружного диаметра</a> к внутреннему.

Коэффициент кривизны в рассчитываемом сечении определяем по формуле [c.109]

Проверка. Чтобы проверить метод, который мы изложили выше, возьмем для примера согласно (6.19) и (6.25) профиль Жуковского со следующими характеристиками хорда с = 4 = 4д радиус образующей окружности а = g + m os 8 = g (1 коэффициент кривизны (стрела) /q. [c.119]

Здесь С — коэффициент цилиндрической жесткости оболочки, х — переменная кривизна кольца, 5н — ее изменение R — радиус кривизны. Для недеформированной оболочки R = а, щ = а . Обозначим х — 1/ где г = а 1 + w) (см. (21), (24)) тогда для коэффициента кривизны >с имеем выражение [c.54]

Можно показать [16], что при этом типе аберрации плоскость предмета точно отображается на искривленную поверхность, касающуюся гауссовой плоскости в точке изображения первого порядка. Отсюда название этой аберрации — кривизна поля. Эта аберрация может быть полностью компенсирована, если вместо плоского используется слегка искривленный экран или мишень. Аналогично искривленная поверхность объекта может давать гауссову плоскость, как плоскость идеального изображения. Поверхность может быть как выпуклой, так и вогнутой в зависимости от коэффициента кривизны поля. [c.285]

Несколько десятилетий тому назад концентрацию напряжений в подкрепленных вырезах на корпусах сосудов определяли путем расчета пластин с такими же подкрепленными вырезами, находящихся в том же двухосном напряженном состоянии, что и стенка обечайки или сферической части. Позже было замечено, что такой расчет дает заниженную величину напряжений. Затем была установлена зависимость, указывающая, что величина кд в вырезе на обечайке равна расчетному коэффициенту концентрации напряжений в таком же вырезе на пластине, умноженному на опытный коэффициент кривизны к , [c.10]

Условные измерители, применяемые в настоящее время, основываются на различных зависимостях и понятиях, а именно на простейших соотношениях между геометрическими величинами, на понятии о коэффициенте ослабления обечайки вырезом, на результатах условного расчета концентрации напряжений в вырезе на обечайке сосуда и на понятии о коэффициенте кривизны, позволяющем распространить на цилиндрические оболочки решения, полученные для пластин. [c.28]

Ниже приведен анализ условных измерителей, используемых для оценки прочности корпусов сосудов в области вырезов. Этот анализ показывает, что большинство условных измерителей позволяет лишь выбрать размеры подкрепления, удовлетворяющие тем условиям проектирования сосудов, которые учитывались автором данного условного измерителя. Напряженное состояние в области выреза оценивается только условным измерителем, основывающимся на понятии о коэффициенте кривизны, но и этот измеритель не имеет общего характера. [c.28]

Условный измеритель, основывающийся на понятии о коэффициенте кривизны [c.34]

Р — опытный коэффициент пропорциональности между кк и кк, коэффициентом кривизны для подкрепленного выреза на рассматриваемой обечайке, т. е. кк [c.36]

Для трапеции с основаниями Ьх, и высотой Л коэффициент кривизны [c.36]

Mu = Fd/2-, ое = Me/We, где 1г — коэффициенты кривизны балки в, расчетных сечениях. [c.67]

Задаемся индексом пружины С и по нему определяем коэффициент кривизны. [c.191]

Для построения поверхности прочности слоистого композита на основании рассмотренного метода составлена вычислительная программа иод шифром SQ-5 [18]. Она позволяет исследовать несимметричный (Btj ф 0) композит, нагруженный изгибающими нагрузками и силами в плоскости. В качестве исходных данных в программе используются предельные значения продольных, поперечных и сдвиговых деформаций слоя, определенных при растяжении и сжатии, и средние значения уиругих констант Ей Ei, vi2, Gn- Нагрузки могут иметь как механическое, так и термическое ироисхождение. Программа SQ-5 обеспечивает расчет полного напряженного и деформированного состояний слоя и композита в целом упругих констант композита Е х, Еуу, Vxy, Gxy, А, В, D коэффициентов термического расширения коэффициентов кривизны межслойных сдвиговых напряжений координат вершин углов предельной кривой композита. Кроме того, программа позволяет идентифицировать слои, в которых достигнуто предельное состояние, и соответствующие этому компоненты напряжения. [c.149]

Рассмотренные до сих пор два типа объективов — апланаты и кинопроекционные еще нельзя считать настоящими фотографическими объективами. Ни тот ни другой не исправлены в отношении кривизны изображения. В апланатах коэффициент кривизны Siv равен приблизительно 0,80 в светосильных объективах второго типа этот коэффициент еще больше он превышает единицу, доходя до 1,2—1,4. Такие объективы, естественно, обладают малыми углами поля, и лишь малое синосительное отверстне и сильное виньетирование дали возможность добиться от них углов поля зреиня, позволяющих снимать группы людей или ландшафты. Кинопроекционные объективы (к которым следует еще отнести объективы Пецваля, отличающиеся от описанных только тем, что в одном из компонентов, обычно во втором, линзы разделены воздушным промежутком) могли применяться лишь в качестве портретных, давая очень резкое изображение лица [c.232]

Еще в конце прошлого, а главным образом в начале нашего столетия было понято, насколько важным является решение вопроса об нсправленин кривизны нзображения. Весьма странным кажется то обстоятельство, что Пецваль, автор знаменитой формулы, выражающей значение коэффициента кривизны через ра диусы и показатели, сам не нашел или не счел нужным искать решения этой задачи, хотя оно было исключительно простым. Достаточно было к разработанному им же типу портретного объектива (описанной выше конструкции) добавить отрицательную линзу на небольшом расстоянии впереди фокальной плоскост) , чтобы кривизна поля стала близкой к нулю и качество изображения на краях полк значительно улучшилось. Однако эта простейшая идея была осуществлена по крайней мере на столетие позже. [c.233]

Смотреть страницы где упоминается термин Коэффициент кривизны : [c.23] [c.23] [c.127] [c.194] [c.153] [c.157] [c.166] [c.275] [c.276] [c.144] [c.18] [c.49] [c.162] [c.163] [c.402] [c.144] [c.275] [c.347] [c.464] [c.34] [c.36] [c.125] [c.240]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...