Профилографы Аммона Левина

Каждый прибор имеет определенную область применения. Так, советский профилограф Аммона может оценивать профиль на длинной трассе (до 125 мм), т. е. прибор пригоден для оценки не только шероховатости, но также волнистости поверхности. Профилограф Левина имеет иглу с радиусом закругления на конце в 1,5 мк, что дает возможность записывать наиболее мелкие неровности. [c.288]

В профилографе Браш и в некоторых конструкциях датчиков профилометра применяется одинарная плоская пружина. Профилограф Аммона имеет сложную ощупывающую головку, в которой вертикально расположенная игла находится под воздействием трех спиральных пружин и се рии рычагов, причем две пружины перемещают иглу в одну сторону, а другие три пружины — в противоположную сторону. Рационален крестообразный пружинный подвес иглы, примененный в профилографе Левина. Четыре крестообразно расположенные плоские 290 [c.290]

При наличии значительного удельного давления алмазной иглы на ощупываемую поверхность профилометр Киселева (и в особенности Аббота) и профилограф Аммона значительно разрущают верхний слой металла при оценке поверхности детали из цветных сплавов и других металлов с низким сопротивлением разрыву. При многократном прохождении иглы профилометра по одному и тому же месту в процессе измерения микронеровностей игла переходит по царапинам, образовавшимся при предыдущих проходах, — показания прибора искажаются. Иглы профилографов Левина и Браш незначительно царапают испытываемую поверхность. Эти профилографы пригодны для оценки микрогеометрии не только металлов, но также слепков микронеровностей (це.ллулоид, пластмассы), лакокрасочных покрытий и т. д. [c.291]

Различные щуповые приборы имеют алмазные иглы с различной величиной радиуса закругления на конце профилограф Левина — 1,5 мк, профилометр Аббота и профилограф Аммона — 12 мк, профилограф Браш—от 2,5 до 15 мк. [c.291]

Для оценки шероховатости поверхности в настоящее время пользуются или механическими ощупывающими приборами (профилометр Аббота, профилограф Аммона и Левина) или [c.121]

Профилографы. также основаны на принципе ощупывания поверхности алмазной иглой. Эти приборы являются оптико-механическими. При помощи оптического устройства профиль поверхности записывается на фотографической ленте в увеличенном виде. На профилограмме увеличение в вертикальном направлении (по высоте) больше, чем в горизонтальном (по длине). К числу таких приборов относятся профилографы К. Л. Аммона и Б. М. Левина первый рассчитан на измерение шероховатости поверхности от 4-го до 11-го класса, второй — от 3-го до 12-го класса. [c.90]

К щуповым приборам относятся электромагнитный профилометр Киселева или Аббота, оптико-механические профилографы Левина и Аммона и пьезо-электрический профилограф. [c.287]

Диапазон измеряемых неровностей по их высоте для различных щуповых приборов различен. Для оптико-механических профилографов (Левина и Аммона) он зависит от ширины применяемой в приборе фотобумаги или фотопленки и вертикального увеличения прибора. Для профилометра и пьезо-электрического профилографа лимитирующим фактором является частотная характеристика приборов. Оба последних электрических прибора работают с постоянной скоростью перемещения щупа. Частота колебаний иглы при перемещении ее по неровностям определяется расстоянием между 9 291 [c.291]

При сравнении профилограмм, снятых на профилографах Левина и Аммона, с профилем поверхности, полученным двойным микроскопом и методом кошдх шлифов, оказалось, что профилографы Левина и Аммона дают профиль, близкий к истинному. Профилограф Браш значительно искажает профиль поверхности. При очень большой скорости перемещения иглы и записывающего пера профиль, записанный при ходе иглы в одну сторону, не совпадает с профилем, записанным при ходе иглы в другую сторону. [c.292]

М профилографы Левина и Аммона. [c.292]

Количественный метод оценка основан на измерении микрогеометрии специальными приборами двойным микроскопом и микроинтерферометром В. П. Липника, профилографами К. Л. Аммона и Б. М. Левина, пьезоэлектрическим профилографом МАХИ, индуктивным профплографом-профнлометром Ка-либр-ВЭИ и др. [c.37]

Оптико-механические профилографы за последние годы были значительно усовершенствованы в результате работ К. Аммона и Б. Левина. [c.79]

Профилографы советских инженеров Левина и Аммона позволяют записывать профнлограммы поверхностей с большим увеличением, достигающим 18 ООО раз. [c.63]

Для контроля волнистости могут использоваться профилографы типа Аммона а Левина, а также координатные методы, базирующиеся на применении универсальных приборов (рычан<но-оптических, рычажно-механических и др.) в сочетании с отсчетными устройствами, связанными с предметным столом. Кроме того, могут применяться универсальные приборы с опорной базой, путем перемещения которых оценивается наибольшее значение высоты волны на исследуемом участке профиля (так называемые волномеры ). [c.164]

У профилографа алмазная игла связана с зеркалом. На зеркало падает тонкий луч света. При колебаниях иглы, перемещаемой по исследуемой поверхности, отраженный луч света через систему зеркал направляется на вращающийся барабан со светочувствительной бумагой, на которой записывается профилограмма, отображающая неровности с увеличением по вертикали в 500—13800 раз и по горизонтали в 25—1000 раз. Профилографы типа Аммона и Левина пригодны для оценки чистоты в пределах 3—10-го классов. Они применяются главным образом в лабораторных исследованиях, так как использование их в производственных условиях затруднительно. Оценку класса чистоты поверхности оптическими методами производят с помощью микроскопа (фиг. 4) и микроинтерферометра акад. В. П. Линника. Первый используется для замера неровностей в пределах 3—8-го классов чистоты, второй — для контроля поверхностей 10—14-го классов. [c.24]

Наиболее распространенными и имеющими практическое значение методами оценки чистоты, т. е. микрогеометрии поверхности являются а) оптические методы измерения профиля поверхности на двойном микроскопе, микроинтерферометре и микропрофилометре акад. В. П. Линника б) методы ощупывания профиля поверхности иглой с записью профилограммы на профилографах Б. М. Левина, К. Л. Аммона и др. , в) метод ощупывания профиля поверхности иглой с непосредственным получением числовой величины, характеризующей микропрофиль в Нек, на профилометрах В. М. Киселева и др. г) метод сравнения поверхности контролируемой детали с образцами чистоты поверхности д) метод исследования естественных профилограмм е) метод слепков. [c.137]

Профилографами называются приборы, регистрирующие (запи-сываюпще) показатели чистоты поверхности на графике. Приборы Левина ИЗП-17 и Аммона основаны на онтико-механических принципах. Перемещение иглы через систему пружин вызывает поворот зеркала. Луч от лампочки попадает на зеркало и, отражаясь в виде зайчика, попадает на шкалу прибора или на фотобумагу, при помощи которой регистрируется профиль шероховатостей (фиг. 117). Эти приборы применяют для измерения шероховатости поверхности достаточно твердых металлов, которые могут выдерживать давление иглы. Для измерения чистоты деталей из мягких металлов применяют микроинтерферометр акад. Линника. [c.138]

Профилометр рассчитан на измерение чистоты поверхностей с 5 по 12-й класс и дает числовое значение Большое распространение имеет профилограф Левина и Аммона, основанный на оптикомеханическом принципе, фиксирующий результаты перемещений иглы на фотопленке (фиг. 51). При этом профиль поверхности дается увеличенным по вертикали в 250—5000 раз, а по горизонтали в 25— [c.63]

Фиг. 51, Диаграмма результатов проверки чистоты поверхности профилографом Левина и Аммона.

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...