Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Параметрический анализ как дополнительный к анализу

Параметрический анализ кок дополнительный к анализу переходных процессов..............................167  [c.155]

Параметрический анализ как дополнительный к анализу переходных процессов  [c.167]

В системах с высокой степенью неизотермичности развитие тепловых и гидродинамических процессов зависит от диапазона изменения всех физических свойств в системе. Анализ физических условий однозначности для уравнений движения и энергии показывает, что в этом случае появляются дополнительные параметрические критерии вида  [c.16]


Специфика работы магнитного усилителя в качестве ШИМ. импульсного стабилизатора (особенно компенсационно-параметрического) выдвигает ряд дополнительных требований к точности анализа магнитного усилителя. В данном качестве зависимость у от напряжения питания и частоты становится столь же важной, как зависимость у от сигнала управления. При рассмотрении этих зависимостей некоторые из допущений, принимаемых при выводе соотношений, характеризующих усилительные свойства магнитного усилителя, приводят к результатам, существенно отличающимся от результатов эксперимента.  [c.336]

АНАЛИЗ ПАРАМЕТРИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ СИСТЕМЫ УПРАВЛЕНИЯ ПО ЕЕ ДОПОЛНИТЕЛЬНОМУ ДВИЖЕНИЮ  [c.131]

Чрезвычайно заманчиво было бы построить графики, представляющие диапазон значений амплитуд поперечных перемещений, которые соответствуют устойчивым волнам, в зависимости от длины волны и толщины оболочки. Однако такая диаграмма будет иметь разрывы по двум причинам. Во-первых, при изменении величины одного из параметров значение, соответствующее точке бифуркации для критической формы, может понизиться и точка бифуркации в конце концов может исчезнуть во-вторых, наоборот, могут появиться новые точки бифуркации. В обоих случаях появляется скачок критического значения амплитуды. Кроме того, существует возможность столкнуться с явлением субгармонического резонанса второстепенных координат. Поэтому затраты, связанные с проведением дополнительных вычислений для построения точных параметрических диаграмм, представляются недопустимо большими. Вместо этого приведены табл. 1 и 2, в которых указаны типичные критические предельные значения, а также величины всех коэффициентов, играющих роль при анализе.  [c.77]

Шаг Руководствуясь данными на рис. 8.23, проведите в окне Parametri предвари-28 тельную установку параметрического анализа дополнительной переменной (сопротивление как глобальный параметр). Задайте изменение значения R нагрузочного резистора R, от R = 4 Ом до R = 12 Ом с интервалами в 1 Ом.  [c.167]

Проведите параметрический анализ как дополнительный к анализу D Sweep, A Sweep либо к анализу переходных процессов и таким образо.м создайте в PROBE семейство кривых.  [c.211]

Если число взаимодействующих частот превышает три, то два соотношения Мэнли — Роу не дают возможности решить задачу до конца. Необходим анализ конкретной схемы. Однако эти соотношения служат двумя дополнительными уравнениями, облегчающими решение задачи о поведении параметрической системы с п степенями свободы.  [c.311]


Обратим теперь внимание на то, что построение системы Карунена—Лоэва решает только часть общей проблемы перехода к параметрическому описанию, ибо остается еще не выясненным вопрос, сколькими членами этого разложения можно ограничиться для описания исходной информации. В случае, когда имеется полная априорная информация, этот вопрос может быть решен на основе анализа эффективности распознавания. Однако при отсутствии информации о ложных целях такая возможность, естественно, исчезает и поэтому приходится прибегать к некоторым дополнительным соображениям. В частности, очевидно, что выбрать требуемое число членов можно основываясь на анализе точности описания отдельных эталонов.  [c.139]

Функциональная вибрационная диагностика осуществляется без дополнительных тестовых воздействий и без нарушения режимов работы оборудования, т. е. при его функционировании. Однако по сравнению с диагностическими сигналами функциональной параметрической диагностики, характеризуемыми только одним или несколькими параметрами (температура, давление, износ, напряжение, ток мощность, наличие механических частиц в смазке и др.), вибрационные сигналы содержат значительно больший объем диагностической информации. Это общий уровень сигналов, их спектр, амплитуды, частоты и начальные фазы каждой составляющей, соотношение между составляющими и т.д. Обработка и анализ вибраци-  [c.27]

В системах же с регулируемой адаптацией цепь адаптации замкнута. В общем виде самонастраивающаяся система состоит из основной системы и ряда дополнительных устройств (рис. 61, б). Основная система, построенная на принципе управления по отклонению, включает в себя устройство управления У У и объект управления ОУ. На ее вход вместе с входным сигналом Хв% ( ) поступает некоторая помеха п (t), а на объект управления действуют возмущения /вк( )- Чтобы обеспечить требуемые показатели качества процесса управления, к основной системе подключен контур самонастройки устройства управления. Контур самонастройки содержит следующие дополнительные элементы У АВС — устройство анализа входного сигнала, которое оценивает свойства входного сигнала, например, определяет первую и вторую производную х у. ( ), а также вычисляет отношение сигнал/шум УАОУ — устройство анализа объекта управления, оценивающее изменение динамических свойств объекта управления, например изменение его коэффициента передачи под воздействием параметрического возмущения ВУ — вычислительное устройство, определяющее способ изменения характеристик устройства управления (параметров, структуры или закона управления) на основе заложенных в нем критериев оптимальности и информации, поступающей с У АВС и УАОУ ИУ — исполнительное устройство контура самонастройки, которое настривает УУ в соответствии с сигналами, поступаемыми с ВУ. Именно контур самонастройки обеспечивает системе свойство адаптации, а последнее придает ей новые существенные качества, повышая ее эффективность.  [c.149]


Смотреть страницы где упоминается термин Параметрический анализ как дополнительный к анализу : [c.156]    [c.115]    [c.156]    [c.157]    [c.169]    [c.82]    [c.366]    [c.539]    [c.311]    [c.27]   
Смотреть главы в:

PSPICE Моделирование работы электронных схем  -> Параметрический анализ как дополнительный к анализу



ПОИСК



Анализ дополнительный

Анализ параметрический

Ряд параметрический



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте