Источник ионов

Электропроводность жидких диэлектриков. В неполярных жидких диэлектриках диссоциация молекул на ионы незначительна, поэтому число носителей заряда в единице объема невелико и проводимость мала. Источником ионов в неполярной жидкости могут быть примеси — влага, различные полярные жидкости, частицы твердых веществ, молекулы которых диссоциируют на ионы. В таких случаях проводимость жидкости называют примесной. Молекулы полярных жидкостей диссоциируют на ионы в большей степени, поэтому их проводимость большая. Если в полярной жидкости содержится даже небольшое количество полярной примеси, то ее молекулы практически все диссоциируют, возрастает и количество диссоциировавших молекул жидкости и проводимость сильно увеличивается. [c.140]

Анализ летучих продуктов разложения проведен на масс-спектрометре МХ-1303 со счетчиком ионов СИ-03. Пиролитическая ячейка соединена непосредственно с источником ионов. После анализа при фиксированной температуре производилось вакуумирование образца до уровня фона. О влиянии добавок на термическую деструкцию судили по анализу интенсивности ионных токов бензола, Пд, П4 и Пд (где П=(СНз)2 310) в момент [c.181]

Покрытия этого типа в отличие от рассмотренных выше содержат помимо дисперсной фазы, разряжающейся на катоде, ион металла, образованный благодаря частичной растворимости этой фазы. Частицы труднорастворимых веществ могут быть источником ионов, способных разряжаться на катоде с образованием металла. Не исключена возможность и непосредственного восстановления некоторых веществ на катоде. [c.217]

Источник ионов или частиц [c.13]

МАСС-СЕПАРАТОР прибор для измерения массовых чисел А нуклидов, образующихся в ядерных реакциях (на ускорителях или в ядерных реакторах). При изучении радиоактивных долгоживущих нуклидов (период полураспада T y 1 мин) в качестве М.-с. используют статич. масс-спектрометры со спец, конструкцией ионного источника, позволяющей быстро помещать образец в источник ионов или облучать его непосредственно в масс-спектрометре. Для определения А короткоживущих нуклидов применяются М.-с. с торможением ионов в камере, наполненной газом и помещённой в поперечное магн. поле. При определ. условиях изменение заряда иона (при торможении ядра <(обрастают электронами) компенсируется изменением его скорости, и радиус траектории определяется лишь массой иона. Разрешающая способность газонаполненных М.-с. 100, мин. время анализа 10" с. Лейпунский. [c.53]

Рис. 4, Схема масс-спектрометра с двойной фокусировкой. Пучок ускоренных ионов, вышедших ив щели источника ионов, проходит через электрическое поле Е цилиндрического конденсатора, который отклоняет ионы на 90 , затем через Магнитное поле Н, отклоняющее ионы ещё на 60°, и фокусируется в щель коллектора.

В качестве источника ионов применяют специальные плазмотроны или другие устройства, в которых ионизируется какой-либо элемент, например инертный газ — гелий. Удельная мощность в пятне нагрева при действии ионного пучка значительно ниже, чем при электронно-лучевом нагреве. [c.454]

Основные оксиды, присутствующие в сварочных шлаках и флюсах — это СаО MgO FeO MnO, иногда присутствует NiO. Эти оксиды служат источником ионов 0 , которые связывают оксиды Si02, TiOz и АЬОз в сложные анионы и понижают этим их химическую активность. У этих оксидов различная термодинамическая устойчивость и эффективные потенциалы ионов, влияющие на процессы их диссоциации. [c.353]

Второй вариант метода времени пролета — метод мигающего ускорителя — был предложен в 1938 г. американским физиком Альварецом. В основе метода лежит получение пульсирующего пучка медленных нейтронов при помощи ускорителя (в первых опытах — циклотрона), работающего в импульсном режиме. Если дугу источника ионов, например дейтонов в циклотроне, периодически включать на короткое время Дто, то с тем же периодом в циклотроне будут возникать ускоренные дейтоны. Поставив на пути дейтонов бериллиевую мишень, можно получить [c.339]

Рис. 25.53. Вольт-амперные характеристики источника ионов цезия из алюмосиликата цезия ( s2-Al20a-2Si02) в импульсном режиме при различных температурах катода [32]. Расстояние катод—анод 2 мм, длительность импульсов тока 10 МКС, частота повторения 25 с

Рис. 25.54. Вольт-амперные характеристики источника ионов К" на основе алюмосиликата калия с присадкой польфрама (КгО-А120з-2510г+10%W) в импульсном режиме при разных температурах источника [33]. Значения ионного тока усреднены по импульсу. Длительность импульсов 700 мкс, частота повторения 10 с

В настоящее время для модифицирования инструментальных материалов применяются различные источники ионов, существенно разли-чаюпщеся по своим технологическим параметрам, таким, как используемый диапазон энергий ионов, возможность варьирования их химического состава, плотность ионного тока (соответственно удельная мощность облучения), прерывистость ионного потока и др. Имеются также данные об успешном использовании мощных ионных пучков (МИГ ) для гювьипения износостойкости твердосплавных режущих инструментов [21, 86, 104, 112, I 14. 118]. [c.218]

ПЫБОР ВИДА И ПАРАМЕТРОВ ИСТОЧНИКА ИОНОВ [c.243]

В зависимости от природы используемого восстановителя реко мендуемая температура раствора может изменяться от комнатной температуры до температуры кипения Источником иона кобальта являются сернокислая или хлористая соль кобальта в концентрации 0 01 — 1 О моль/л [c.62]

Облучение лиц, непосредственно не работающих с источниками иони зирующего излучения. ... [c.353]

Для бомбардировки мишени удобно использовать заряженные частицы — ионы, так как их легко разгонять до нужной энергии в электрическом поле. Иногда для распыления мишени применяют специальные источники ионных пучков, в которых ионы отсортиро ваны по массам и имеют одну и ту же энергию. Но чаще в качестве источника ионов используется газоразрядная плазма, из которой положительные ионы вытягиваются отрицательно заряженной мишенью. Такой способ распыления называют аонно-плазменным. Рассмотрим его более подробно. , [c.62]

Сплав серебро—сурьма. Предложены способы получения сплавов благородных металлов из суспензий, содержащих порошки различных веществ, являющихся источниками ионов второго соосаждаемого металла [24]. [c.218]

Вытягивающий электрод укреплен на керамических стойках (служащих для подсоединения формирующей ионно-оптической системы) и отделен от анода фторопластовым кольцом. Места соединения постоянных магнитов с металлическими частями конструкции уплотнены фторопластовыми прокладками с целью уменьшения газовой нагрузки на вакуумные насосы при работающем источнике ионов. Вся конструкция собрана на фланце для присоединения к вакуумной системе. Катодный узел, совмещенный с трубкой напуска рабочего газа (пропан), также выполнен на разборном фланцевом соединении для возможности замены катода. Система формирования пучка положительных ионов углерода включает в себя фокусирующую одиночную линзу и отклоняющую систему. [c.49]

В первом случае источником ионов водорода является минеральная кислота, добавляемая к воде, а во втором эта кислота используется для регенерации Н-катионита, который отдает Н+-ионы в результате взаимодействия с катионами воды (см. гл. б). Таким образом, при Н-катионировании кислота как бы совершает двойную работу, нейтрализуя НСОТ-ионы и удаляя из воды Са2+, т. е. оба компонента, участвующие в образовании карбонатной накипи. [c.335]

Ри( . 2. Схема жргдкометалличе-ского источника ионов 1 и 2 — жидкий металл . — металлич. игла 4 — жидкoмeтaJJлич, остриё 5 — ионы металла й — эк-страктор 7 — область свечения. [c.208]

Такая же чувствительность достигается в масс-спектрографах за счёт длит, экспозиции. Однако из-за малой точности измерения ионных токов и громоздкости устройств введения фотопластинок в вакуумную камеру анализатора фоторегистрадия уступает место координатным детекторам частиц, особенно в тех случаях, когда необходимо одновременно регистрировать большой участок масс-спектра (из-за нестабильности источника ионов, наир, при элементном хии. анализе в случае ионизации вакуумной искрой). [c.57]

Рис. 4. Схемы тонких линз а — магнитной 6 — электростатической вакуумной в — электростатической плазменной 7 —источник ионов г — линза а — приёмный экран 4 — пучок. Штриховые линии — магнитные силовые линии, сплошные — эквипотснциалы.

Данные о П. д. важны для ряда техн. приложений, таких как ионные двигатели, точечные источники ионов, катоды и др., а также для решения смежных науч. задач определения сил связи на поверхности, изучения двумерных фазовых переходов, кинетики катали-тич. реакций, определения поверхностной энергии анизотропных твердых тел. [c.645]

Электропроводность П. в основном оп,ре-деляется наличием яизкомолекулярных примесей, являющихся источниками ионов. Подвижность иопов определяется их взаимодействием со звеньями полимерных цепей, поэтому увеличение подвижности звеньев (напр., с повышением темн-ры выше Tg) приводит к у величению электропроводности. В стеклообразном состоянии 5 д. электропроводность П. slQ- —10- ом-см)- , у резин, в зависимости от состава и технологии, она может быть увеличена от 10 до 1 (oм м) . С повышением темп-ры (ниже Tg) электропроводность П. возрастает по экспоненциальному закону. Пробивное напряжение П. зависит от наличия в них полярных групп, повышающих пробивное напряжение, а также от содержания влаги и воздушных включений, сильно снижающих электрич. прочность. Пробивное напряжение П. равно 10 — 10 el M, у эбонита оно равно2—8-10 в/см, у резин — 1—2 -10 в см. При этом для электрич. прочности резин существенное значение имеет темп ра. [c.22]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...