Полнота теста

В программах синтеза тестов обычно используют комбинирование вероятностных и детерминированных методов. С помощью первых генерируется и анализируется некоторое заранее заданное число наборов. Если полнота теста после этого недостаточна, то выбирают неисправности, не выявляемые уже полученными наборами, и для этих неисправностей ищут входные наборы детерминированным методом. [c.260]

Полнота теста р — отношение числа выявляемых тестом неисправностей к общему числу возможных неисправностей заданного класса. Если р = 1, то тест полный. [c.110]

Таким образом, основные трудности в решении проблем технического диагностирования дискретных устройств связаны с недостаточной эффективностью тестов, получаемых известными методами. Приемлемая трудоемкость применения и разработки тестов достигается только при ориентации на ограниченный класс дефектов и при невысокой полноте тестов р<1. Эти трудности усугубляются при проектировании БИС и СБИС, поскольку ограниченное число внешних выводов ухудшает управляемость и наблюдаемость схем. [c.111]

Рис. 5.8. Зависимость Поэтому для анализа тестов стараются полноты теста от числа применять наиболее быстродействующие входных наборов алгоритмы. В тестах должны быть только корректные входные наборы. Например, нецелесообразно использовать наборы, при которых в схеме возникают опасные состязания, поскольку результат применения теста оказывается неопределенным. Это все обусловливает предпочтительность синхронного троичного моделирования с учетом задержек и с решением уравнений по методу Зейделя с ранжированием.

Тест может быть избыточным, поэтому целесообразна минимизация его длины при сохранении полноты теста. [c.126]

Рассматриваемая система состоит из Л последовательно соединенных элементов с интенсивностями отказов 0,. По признаку автономности диагностирования элементы группируются в М контролируемых блоков, имеющих интенсивности отказов А.о,-, i = 1, М. Длительность и полнота диагностирования связаны зависимостями а,- = ф или Г,- (а,), где - длительность полного теста i-ro контроли- [c.312]

Для синтеза тестов применяют вероятностные и детерминированные методы. В вероятностных методах наборы генерируются с помощью датчиков случайных чисел. Основные затраты машинного времени приходятся при этом на анализ проверяющих возможностей генерируемых наборов. Анализ каждого набора состоит в расчете реакции на воздействие Х как исправного блока, так и всех его возможных разновидностей. Если блок состоит из N элементов, то имеем 3N таких разновидностей и общее число eapriaii-тов моделирования блока окажется пропорциональным произведению sN, где S — число проверяемых входных наборов. Практика показывает, что при заданной полноте теста s зависит от yv и в результате затраты машшчного времени оказываются пропорциональными Nгде а = 2-ьЗ. [c.259]

При синтезе диагностических тестов результаты генерации и анализа входных наборов представляют в форме диагностической таблицы. Каждая строка этой таблицы соответствует одной из неисправностей, а каждый столбец —очередному входному набору. Элемент диагностической таблицы йц=, если -я неисправность обнаруживается на /-м наборе, иначе с1ц = 0. По этой таблице устанавливаются полнота теста (в строках невыявляемых неисправностей оказываются одни нули) и диагностические возможности по обнаружению места неисправности (число различаемых подмножеств неисправностей равно числу различаемых строк диагностической таблицы). [c.126]

С помощью одной элементарной проверки нельзя выявить все неисправности даже ограниченного класса и тем более нельзя локализовать неисправность. Поэтому тест представляет собой множество элементарных проверок Число элементарных проверок в тесте называют его длиной Тест, предназначенный только для установления факта не исправности блока, называют контролирующим (проверяю щим), а тест, с помощью которого дополнительно устанавли вается место неисправности в блоке, — диагностическим Тест, который выявляет все неисправности заданного клас са, называют полным, а тест, из которого нельзя исключить ни одну элементарную проверку без изменения его полноты, — неизбыточным. [c.258]

Актуальность проблемы тестирования обусловлена ограниченными управляемостью и наблюдаемостью СБИС, поскольку при десятках-сотнях миллионов транзисторов на кристалле имеется лишь несколько сотен внешних выводов. Синтез и анализ тестов занимают до 35 % времени в цикле проектирования СБИС, и, несмотря на такие затраты, удается разрабатывать тесты с приемлемой полнотой обнаружения константных неисправностей только для комбинационных схем. Поэтому проблема тестируемости СБИС сохраняет постоянную актуальность. [c.133]

Оптимизация периодического контроля в одноканальных однофазных системах с непополняемым резервом времени. Задача оптимизации периодического контроля возникает при действии двух факторов возможности, появления в системе или отдельных ее устройствах скрытых (латентных) отказов и частичном или полном обесценивании результатов предыдущей работы, вызванном использованием неисправного оборудования. Обнаружение скрытых отказов производится с помощью периодических сеансов диагностирования. Вероятность обнаружения отказа в каждом сеансе (полнота диагностирования) зависит от длительности сеанса и становится равной единице только при использовании полного теста. Примерами устройств в составе энергосистем, обладающих скрытыми отказами и требующих периодического диагностирования, являются многие устройства системной автоматики автоматические регуляторы частоты (АРЧ), перетока (АРП), автоматические ограничители перетока (АОП), управляющие вычислительные комплексы (УВК), релейные блоки противоаварийной автоматики и др. [11]. [c.310]

Актуальность проблемы тестирования обусловлена сравнительно малым числом внешних выводов СБИС, т. е. ограниченными управляемостью и наблюдаемостью СБИС. Отметим также, что синтез и анализ тестов занимают до 35 % времени в цикле проектирования СБИС и, несмотря на такие затраты, удается разрабатывать тесты с приемлемой полнотой обнаружения константных неисправностей только для комбинацио1Шьгх схем. [c.227]

Контролепригодность изделия обеспечивается правильным выбором измеряемых и контролируемых, в том числе — диагностических параметров изделия, полнотой контроля, глубиной поиска дефектов и длиной теста диагностирования, удобством присоединения внешних средств измерений и контроля к выводам (вводам) аппаратуры нзделия, а также информационной, метрологической, энергетической совместимостью. [c.193]

Основной способ верификации схем при функционально-логическом проектировании — моделирование процессов в схеме при подаче на ее входы специальных тестовых воздействий. Для полного контроля работоспособности комбинационной схемы нужно выполнить столько вариантов моделирования, сколько различных комбинаций сигналов может появиться на ее входах. В последовательностной схеме проявление каждого входного воздействия зависит от состояния, в котором схема находилась перед возбуждением, т. е. от состояния ее элементов памяти. Если в схеме имеется п входов и пг элементов памяти, то оценкой числа вариантов моделирования оказывается значение 2"+ . Практическая реализация такого большого числа вариантов невозможна, необходимо уметь создавать тесты существенно меньшей длины и обеспечивающие достаточную полноту контроля. Важность проблемы тестирования обусловлена тем, что тесты нужны не только для верификации при проектировании схем, но и для контроля продукции в процессе производства. [c.100]

Разработка тестов включает задачи синтеза и анализа. Синтез гесга —формирование элементарных проверок s . Анализ теста — определение его характеристик. Важнейшими характеристиками качества теста являются глубина диагностирования, полнота и длина теста. [c.110]

Полный тест минимальной длины называется минимальным. Тест, из которого нельзя исключить ни одной элементарной проверки без изменения его полноты, называется неизбыточным. [c.111]

При разработке любой логической схемы первоочередной задачей является выбор логических элементов, которые следует использовать. Так, например, может быть использован ряд канонических двоичных множеств логических элементов. Чтобы сделать наше обсуждение условий вхождения логического элемента в каноническую систему более живым, в разд. 4.2 дано краткое описание проблемы полноты двоичной логики. Этот вопрос, обобщенный до представлений о полноте многозначной логики, является решающим при определении, когда группа оптических явлений может рассматриваться как часть канонического множества оптических логических элементов. В разд. 4.3 описан специфический пример многозначной логической системы, обладающей слабой полнотой,— системы счисления в остаточных классах (ССОК). Еще совсем недавно алгебра ССОК рассматривалась применительно к арифметическим вычислениям в остаточных классах. По вопросу оптической реализации различных операций в ССОК имеется большое число публикаций, обзор которых сделан в разд. 4.4. Оптические элементы могут образовывать стандартные блоки оптической многозначной логической схемы. В заключительном, в значительной мере техническом разделе описаны некоторые из необходимых тестов, служащих для установления принадлежности многозначной логической функции каноническому множеству. В этом случае такие многозначные логические функции и их оптическая реализация могли бы послужить новыми элементами оптических многозначных логических схем. [c.114]

На этом изложение типов функций, искомых для получения полноты многозначной логики, завершено. Однако следует упомянуть раннюю теорему Слупецкого [33], так как она часто дает более простые тесты, чем теорема Розенберга. Изложение дается так, как в работе [2]. [c.138]

Другая форма контроля временных параметров, известная как динамический временной анализ, или DTA — dynami timing analysis, в наши дни не очень-то популярна и упомянута здесь для полноты обзора рассматриваемых средств. Эта форма проверки основана на использовании системы событийного моделирования, и в процессе работы использует набор тестов. В отличие от стандартной системы событийного моделирования, которая использует одно из значений задержки, т. е. минимальное (мин), номинальное (ном) или максимальное (макс), для каждого пути прохождения сигнала, динамический анализатор работает с парой значений задержки, т. е. мин ном, ном макс или мин макс). Например, рассмотрим, как две системы моделирования оценят работу простого буферного вентиля (Рис. 19.14). [c.258]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...