Метод Мюллера — См. Мюллера метод

Мюллера — См. Мюллера метод [c.512]

Для решения уравнения (19) необходимо, очевидно, применение некоторого численного метода, в качестве которого был выбран итерационный метод Мюллера (см. [33]) нахождения корней уравнения по методу квадратичной интерполяции. Для применения этого метода требуется первоначальная оценка трех пробных значений круговой частоты со с последующим использованием этих величин при вычислении следующего приближения. Если эти три первоначальные величины взяты достаточно точно (т. е. в пределах 10 %), то для определения частоты колебаний потребуется всего лишь [c.105]

Обзор методов эмиссионной (автоэлектронной) микроскопии дан п работе Гуда и Мюллера [2] см. также [2а]. Единичные атомы элемента с большим атомным весом, нанесенного на углеродную подложку, наблюдались Крю и др. на сканирующем электронном микроскопе с высоким разрешением [3] используемая в работе [3] электронно-оптическая система фокусирует электроны в пятно диаметром приблизительно 5 А. [c.59]

Наиболее огнеупорная, а также наименее химически активная окись — окись тория. Она пригодна для применения в тиглях, предназначенных для сплавов с очень высокой температурой плавления. Тигли, набитые окисью тория, могут быть применены до 2700°. Окись магния, окись бериллия и окись циркония тоже представляют собой материалы с высокими огнеупорными свойствами, но они более химически активны и поэтому менее пригодны, чем окись тория. Окись алюминия имеет максимальную температуру службы до 1900—1950°, что является пределом, до которого можно применять оптический пирометр с исчезающей нитью, смотровой трубой из корундиза и экраном как источником излучения абсолютно черного тела. Современное производство прямых непористых смотровых труб из окиси тория значительно расширяет область применения этого метода. При более высоких температурах возможно измерение лучеиспускания непосредственно поверхности металла только оптическим пирометром или фотоэлектрическим элементом. В этом случае поверхность металла не удовлетворяет условиям излучения абсолютно черного тела, и поэтому такой метод можно применять только в том случае, если известны данные об эмиссионной способности металла и если для градуировки имеются в распоряжении металшы с известной точкой плавления и эмиссионной способностью, близкой к исследуемому сплаву. Однако точность такого метода не очень высока. Подробности мы рассматриваем ниже при описании метода Мюллера. Вольфрам-ирридиевые, вольфрам-мо-либденовые и различные другие термопары могут быть применены для измерения высоких температур однако эти термопары нельзя считать удовлетворительными ввиду трудности получения повторимых результатов (см. ниже). [c.179]

Второй метод — автоионная микроскопия — предложен Мюллером [10.2] в 1951 г. Это — уникальный метод, единственный, который позволяет наблюдать изображение поверхности твердого тела с атомным разрешением (0,2—0,3 нм). Образец представляет собой тонкое, заточенное травлением острие из исследуемого металла. Поверхность его кончика, представляют,ая собой почти полусферу радиусом 20—200 нм, радиально проектируется на люминесцентный экран. Для создания изображения используется явление десорбции полем (10 В/см), испарения полем (при высоких температурах) и — чаще всего — ионизации полем постороннего газа (гелия, неона или водорода). Кристаллические грани поверхности острия изображаются на экране с увеличением порядка 10 и разрешением 0,2—0,3 нм, так что можно различать отдельные атомы, в том числе междоузельные и адсорбированные, вакансии, радиационные повреждения, дислокационные полосы скольжения и границы зерен. Была также показана возможность обнажения глубинных слоев образца путем контролируемого послойного испарения полем [9.3]. Слчетание полевого ионного микроскопа с масс-спектрометром сделало его прибором не только структурного, но и химического анализа. [c.117]

Джонс [5] (1941 г.) рассмотрел заново задачу о монохроматическом (и, следовательно, полностью поляризованном) излучении и ввел при этом матричные методы. Вместе со своими сотрудниками он успешно проанализировал полностью поляризованные волновые поля, оперируя с составляющими поля и описывая прибор с помощью комплексной (2 X 2)-матрицы 1). Но сами составляющие поля излучения не могут быть наблюдаемы на высоких (оптических) частотах. Учитывая это, Мюллер (см. [6]) использовал параметры Стокса, которые, как мы увидим, могут быть измерены в поле излучения. Параметры выходящего поля были затем получены следующим образом прибор представляется действительной (4 X 4)-матрицей (матрицей Мюллера), которая действует на четыре параметра Стокса, представленные в виде четырехэлементного векторного столбца (вектора Стокса), и дает вектор Стокса для выходящего поля. [c.198]

Особые вопросы возникают при изображении отрывных течений. Положение точек отрыва и вторичного присоединения потока можно определить только при помощи полуаналитических методов (Ундервуд [1969]). Если такие точки нужно нанести, то надо указать, что их нашли экстраполяцией и т. п. см. Лаван с соавторами [1969], Роуч и Мюллер [1970], Шаве и Ричардс [1970]. (Это же замечание справедливо и для определения положения точек отрыва и вторичного присоединения потока в физическом эксперименте.) [c.498]

Особые вопросы возникают при изображении отрывных течений. Положение точек отрыва и вторичного присоединения потока можно определить только при помоши полуаналитических методов (Ундервуд [1969]). Если такие точки нужно нанести, то надо указать, что их нашли экстраполяцией и т. п. см. Лаван с соавторами [1969], Роуч и Мюллер [1970], Шаве и Ричардс [c.498]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...