Осветительная система и методы освещения

Изучение препарата при рассмотренном способе освещения называется методом светлого поля в проходящем свете. При реализации данного метода необходимо обеспечить достаточно строгую соосность оптических осей объектива и осветительной системы. Этот метод применяют для исследования прозрачных препаратов с элементами, по разному поглощающими свет. [c.36]

ОСВЕТИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА И МЕТОДЫ ОСВЕЩЕНИЯ [c.18]

Освещение предмета по методу светлого поля осуществляется лучами, которые, выйдя из осветительной системы и пройдя через прозрачный объект или отразившись от непрозрачного объекта, поступают в объектив. При этом фон, на котором наблюдается предмет, будет светлым. [c.203]

На рис. 1.15 представлена принципиальная оптическая схема осветительного устройства металлографического микроскопа по методу светлого (рис. 1.15, а) и темного (рис. 1.15, б) поля. Схема светлого поля обеспечивает нормальное освещение по Келеру. Источник света 1 изображается коллектором 2 на апертурной диафрагме 5, которая находится в переднем фокусе линзы 6. Линзы 6 я 8 действуют как оборачивающая система и проецируют апертурную диафрагму в выходной зрачок объектива 10, совпадающий с его задним фокусом fee- Объектив 10 рассчитан на тубус бесконечность и работает совместно с ахроматическим объективом 11. Линзы 4 6 действуют аналогично оборачивающей системе и изображают оправу 3 коллектора 2 в плоскости полевой диафрагмы 7. Эта диафрагма установлена в фокусе линзы 8 и проецируется ею и объективом 10 в плоскость предмета 0. [c.23]

Конструкция микроскопа показана на фиг. 34. В основании 1 установлена стойка 2, на которой винтом 3 закреплен корпус 4 с оптической головкой 5. Снизу головки на салазках вставлен эпиобъектив 6. Центрирующийся патрон 7 с лампой помещен в патрубке 8 осветительной системы. В передвижной колодке 9 смонтированы сменные диафрагмы для светлого и темного поля. Рукоятка 10 служит для выключения полупрозрачной пластинки при переходе к освещению по методу темного поля. [c.76]

Методы измерения шероховатости поверхности разделяют на бесконтактные и контактные. Для бесконтактных измерений применяют различные оптические гГриборы, предназначенные главным образом для оценки шероховатости по параметру Яг. Среди них наибольшее распространение получил двойной микроскоп Линника. Действие двойного микроскопа основано на принципе светового сечения поверхности. Положим, требуется определить размер Н выступа на обработанной детали 1 (рис. 36, а). На контролируемую поверхность с помощью осветительного тубуса 3 направляют узкую полоску света. Для этого внутри тубуса имеется миниатюрная лампочка, от которой лучи света через линзы направляются в щелевую диафрагму, а оттуда в виде узкой полоски через оптическую систему (на рисунке не показана) падают на контролируемую поверхность. Если она неровная, световая полоска, попадая на нее, изгибается, четко обрисовывая контуры неровностей. Так как осветительный тубус наклонен под углом 45 к поверхности детали, то освещенные неровности выглядят в световом сечении увеличенными. Световое сечение рассматривают через наблюдательный тубус 2 под углом 90° к этому сечению. Оптическая система наблюдательного тубуса позволяет видеть это сечение сильно увеличенным. [c.74]

Лабораторные и исследовательские модели микроскопов Комплектуются объективами-апохроматами и объективами-план-апохроматами со специально рассчитанными для них компенсационными окулярами с увеличенным полем зрения, фотографическими и проекционными системами, различными насадками для спектрофотометрических, микроспектрофотометрических измерений и другими оптическими устройствами, обеспечивающими современные методы исследования. Осветительные оптические устройства в этих микроскопах выполняются встроенными и освещение производится по принципу Кёлера. Для фотографирования, спектрофотометрирования, исследования в свете люминесценции и при реализации других методов исследования используются источники большой яркости (ДРШ-250, ДРШ-100 и т. д.). Коллекторы и конденсоры применяются с апланатической и ахроматической коррекцией. Некоторые конструкции микроскопов снабжаются универсальными панкратическими конденсорами, позволяющими производить освещение объектов по методам светлого и темного поля, фазового контраста с плавным изменением числовой апертуры и величины освещаемого поля. Одной из основных задач при разработке унифицированных моделей микроскопов, с одной стороны, является достижение определенного экономического эффекта, с другой, — сокращения номенклатуры узлов и деталей, широкой взаимозаменяемости последних, а также повышение технологического уровня и долговечности и. надежности прибора в целом. [c.371]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...