Типы интерференционных систем

Типы интерференционных систем [c.132]

В этой связи рассмотрим несколько типов интерференционных систем и приборов, а также их настройку. Некоторые из рассматриваемых ниже приборов известны давно и являются классическими (интерферометры Цендера-Маха, Рождественского, Майкельсона), другие появились позже (интерферометры последовательного типа, интерферометры сдвига). Однако все эти приборы имеют общую основу построения и близкие области применения. [c.146]

Контроль ко.эффициента преломления оптических элементов, выявление неоднородности стекла, включений типа пузырей и свилей являются важными. этапами контроля качества оптических изделий. С конца прошлого столетия основным оптическим инструментом, применяющимся для количественных измерений прозрачных неоднородных материалов, был интерферометр Маха-Цендера, на основе которого разработаны теневые и интерференционные методы контроля. Ограничением ЭТИХ методов являются аберрации оптических систем самого интерферометра. Методы голографической интерферометрии позволяют компенсировать аберрации и тем самым существенно улучшать качество проводимых измерений. [c.105]

В выражении (3.20) определенная экспериментально интерференционная функция представлена как суперпозиция парциальных интерференционных функций Saa(Q), Sab(Q) и Sbb(Q) по типам парных корреляций между компонентами Л—А, А—В и В—В. Поэтому, если определить S(Q) трех Л—В сплавов одинаковых составов, но с разными величинами Ьа или Ьв, то в принципе можно получить систему трех уравнений, решение которой даст значения парциальных структурных факторов. [c.67]

Наиболее широко распространены интерференционные устройства зеркального типа, построенные по схеме Майкельсона и Маха—Цендера (31, 118, 1911. Они имеют раздельные ветви — измерительную, в которой помещается камера аэродинамической установки, и ветвь сравнения, в которой устанавливается компенсационная камера. Интерференционная картина образуется при разделении падающей волны на две с помощью зеркальных систем. [c.153]

Например, если толщина материала, используемого для записи голограмм, превышает размеры записываемой дифракционной картины, то голограмма приобретает свойства трехмерной дифракционной решетки. При этом дифракцию следует описывать через брэгговские углы отражения, аналогично дифракции рентгеновских лучей на кристаллах. Свойства этих систем, т. е. чувствительность реконструированного изображения к углу падения и длине волны считывающего голограмму пучка, можно исследовать на примере синусоидальной пространственной решетки, типа решетки, получаемой при экспонировании эмульсии в интерференционном поле от двух произвольных плоских волн. В этом случае профиль показателя преломления определяется выражением (3.17.1), причем ось г параллельна разности векторов к, - кз, где к, и к2 — волновые векторы двух плоских волн. [c.211]

Линии постоянной плотности можно получить также на интерференционных полосах смещения, если наложить систему полос без потока на соответствующую систему с потоком. Участки, где полосы сдвинуты по фазе на 180°, имеют вид серых прерывистых полос (типа муаровых), представляющих собой линии постоянных смещений и, следовательно, постоянной плотности. При благоприятных условиях положение этих линий может быть определено с погрешностью не более 1/20 полосы. [c.163]

В гл. 3 было показано, что интерферометры с делением волнового фронта обладают существенно меньшей светосилой по сравнению с интерферометрами с делением амплитуды волны. Дисперсионные спектральные приборы по существу являются многолучевыми интерференционными системами, в которых монохроматизация излучения обеспечивается делением волнового фронта на входном отверстии. Следствием этого является их малая светосила. ИФП, используемый в качестве спектральной системы, обладает существенно большей светосилой. Последнее является результатом того, что ИФП представляет собой интерференционную систему с делением амплитуды световой волны и его светосила определяется существенно большей областью продольной пространственной когерентности по сравнению с поперечной при одном и том же размере источника. Другими словами спектральные системы с двумерной дисперсией (ИФП) более светосильны, чем спектральные системы с одномерной дисперсией. В ИФП выделение узких спектральных составляющих возможно благодаря многолучевой интерференции. Двухлучевые интерферометры, например, типа Майкельсона являются, как и ИФП, спектральными системами с двумерной дисперсией, но не могут быть использованы для выделения узких спектральных интервалов без использования специальных приемов регистрации спектра. Одним из таких приемов является интерфренционная селективная модуляция. [c.473]

Помехоустойчивость схем является весьма существенной характеристикой, поскольку интерференция помехи и полезного сигнала является источником ошибок. Помехоустойчивость часто оценивает значение интерференционного импульса, который может переключать схему. Пдя многих типов цифровых систем помехоустойчивость оценивается разницей между фактическим напряжением уровня О или I, существующим в аппаратуре и напряжением, при котором происходит переключение схемы. Например, если максимальный уровень логического нуля составляет 0,8 В, а реально схема переключается при 1,4 В, то достаточно постороннего импульса 0,6 В, чтобы вызвать неприятности. Некоторые схемы, в том числе первые ТТЛ-схемы, весьма подвержены помехам по цепям питания, и эго обстоятельство является дополнительным аргументом в пользу установки конденсатора мезкду питающим проводом и заземляющим выводом каждого прибора. [c.25]

Явление интерференции двух световых лучей — прямого от источника света и отраженного от вибрирующей поверхности используется преимущественно для лабораторных испытаний. Этот метод является одним из наиболее точных при измерении малых амплитуд. Интерференционный метод довольно широко применялся в начале нашего столетия, но затем он уступил место более совершенным методам измерения при помощи электромеханических систем. Однако в последнее время интерференционный метод снова стал применяться для абсолютной калибровки других типов виброизмери-тельной аппаратуры при высоких частотах и весьма малых амплитудах вибрации. Интерференционному методу посвящена уже довольно обширная современная литература. Применение фотоумножителя в качестве регистратора [28 ] и использования для наблюдения интерференционных максимумов высшего порядка [29] значительно расширяет возможности метода. [c.404]

Бонарт и Хоземан [28] объясняют такой характер интерференции следующей моделью. Одномерная точечная решетка имеет своим образом в обратном пространстве систему слоевых плоскостей (рис. 238,а). Заменяя точки в двумерном случае штрихами, а в трехмерном — ограниченными плоскостями, например дисками, перпендикулярными главной оси, мы получим (одинаковое) стягивание интенсивности во всех слоевых к меридиану (рис. 238, б). Увеличивая ширину штрихов, можно добиться сжатия интенсивности в слоевых к любым В. Теперь нужно добиться эффекта расширения слоевой с / = 1 (и далее), но так, чтобы нулевая слоевая расширения не получила. В 4 главы VI мы установили, что такого типа расширение соответствует сдвигу в периодических -труктурах вдоль направления периодичности г. При этом соот- зетствующие множители 21(8)22(8) интерференционной функции представляют собой систему конусов, выходящих из узлов экваториальной плоскости. Такой конус выходит и из узла (ООО) (рис. 163, б), а в нашем случае он является единственным, так как других узлов на ней при большой ширине штрихов нет. Сдвиг [c.349]

А ). Этот случай является более общим, чем первый. Пусть оптические толщины йх и ( 2 находятся в рациональном отношении, т. е. дйх = рй , где 7 и р — целые числа. Если (А ) мало по сравнению с йх и 2, то д и р —большие и мало отличающиеся между собой числа. Для такого типа четырехзеркальной интерференционной системы характерно периодическое совпадение интерференционных максимумов каждой из систем. Частота повторения максимумов для каждой воздушной пластины различна из-за того, что й-1 Ф й . Можно рассчитать период этих совпадений. Наложение двух распределений с разными периодами приводит к своеобразным биениям пропускания. Частота повторений максимумов пропусканий в длинах волн определяется как отношение [c.72]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...