Параметры элементарной ячейки кристаллической

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕМЕНТАРНОЙ ЯЧЕЙКИ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ [c.46]

Определение параметров элементарной ячейки кристаллических материалов 47 [c.47]

Строение и дефекты твердых тел. Кристаллическая решетка — это присущее кристаллическому состоянию вещества регулярное расположение частиц (атомов, ионов, молекул), характеризующееся периодической повторяемостью, в трех измерениях. Полное описание кристаллической решетки дается пространственной группой, параметрами элементарной ячейки, координатами атомов в ячейке. В этом смысле понятие кристаллической решетки эквивалентно понятию атомарной структуры кристалла. Русский ученый Е. С. Федоров почти на 40 лет раньше, чем были найдены методы рентгеноструктурного анализа, рассчитал возможные расположения частиц в кристаллических решетках различных веществ. Он подразделил кристаллы на 32 класса симметрии, объединяющих 230 возможных пространственных групп. Кристаллы могут различаться по двойному лучепреломлению, по пьезо- и пироэлектрическим свойствам, образованию адсорбционных центров, работе выхода электронов и т. п. [c.11]

Возможной причиной обнаруженного уменьшения параметра и объема элементарной ячейки кристаллической решетки является [c.74]

Точное определение параметров элементарной ячейки имеет большое практическое значение при изучении состава, структуры и физико-химических свойств многих кристаллических материалов, особенно металлов и сплавов. Так, непрерывная регистрация изменений параметров решетки по мере изменения температуры позволяет определить коэффициент теплового расширения. Зависимость параметров элементарной ячейки от наличия примесей в исследуемом веществе дает возможность определить состав твердых растворов и фазовые границы на диаграммах равновесия. С помощью точно измеренных размеров элементарной ячейки можно определить плотность, а также молекулярные веса кристаллов. Даже весьма незначительные изменения параметров решетки позволяют выявить причины появления внут- [c.46]

Параметры элементарной ячейки можно определить, используя формулы для их расчета при различных сингониях кристаллического вещества, т.е. формах его кристаллической ячейки, связывающие эти параметры, межплоскостные расстояния и индексы отражающих плоскостей h, к, I (табл. 2.1.1). [c.49]

Объем элементарной ячейки для известных кристаллических веществ определяется по справочным данным об их параметрах и сингонии. Для расчета плотности веществ с неизвестными параметрами элементарной ячейки необходимо снять рентгенограмму вещества и рассчитать эти параметры (лабораторная работа 2.1). [c.188]

Полное описание кристаллической решетки дается параметрами элементарной ячейки, координатами атомов в ней и пространственной груп- [c.30]

Для однозначного описания элементарной ячейки кристаллической решетки необходимо знание величин параметров а, Ь, с я углов между ними. [c.8]

Фазы Кристаллическая система Параметры элементарной ячейки, А [c.422]

Наименование и формула Кристаллическая система Простран- ственная группа Параметр элементарной ячейки, А Плот- ность, г/см= Твердость Показатели преломления [c.733]

Плот- ность, г/см Сингония Параметры элементарной ячейки Температуры дегидратации, °С Кристаллические фазы, образующиеся при разложении [c.385]

Железо - один из самых распространенных элементов в природе, его содержание в земной коре составляет 4,65 % по массе. Железо - блестящий серебристо-белый пластичный металл. При обычном давлении существуют три кристаллических полиморфных модификации Fe. До температуры- 910 °С (по другим данным -917 °С) существует a-Fe с ОЦК-решеткой (см. рис. 1.4, б) (а = = 0,286645 нм N = 2). Фаза a-Fe ферромагнитная, но с ростом температуры, при 768 °С (точка Кюри, фазовый переход 2-го рода), превращается в парамагнитную ( 3-Fe) без изменения сингонии и других свойств, кроме магнитных. В интервале 910+1392 °С (по другим данным - до 1390, 1394 °С) существует у- е с ГЦК-решеткой (см. рис. 1.4, в) (а - 0,3656 нм N = 4). Выше 1392 °С существует б-Fe с ОЦК-решеткой (при 1425 °С а = 0,293 нм N - 2). Так как б-Fe и a-Fe имеют ОЦК-решетку и близкий параметр элементарной ячейки, то часто вместо б применяют а-обозначение. Однако идентичность этих фаз не доказана. [c.86]

В таблице 1.1 представлены различные кристаллические структуры некоторых элементов и параметры, описывающие кристаллическую структуру число атомов, приходящееся на элементарную ячейку, периоды решетки и расстояние между ближайшими соседями. [c.52]

Металлы имеют различные типы кристаллической решетки, характеризуемые как рисунком расположения в ней линий, так и параметрами — расстояниями между узлами в элементарной ячейке решетки., т. е. в том минимальном по количеству атомов элементе, при помощи многократного повторения которого мыслится образование всей решетки. [c.226]

Для изготовления лазерных элементов обычно используют бледно-розовый рубин, концентрация хрома в котором порядка 0,05 % (мае.). Введение ионов хрома слегка искажает кристаллическую решетку матрицы, поскольку они имеют радиус 0,065 нм, несколько больший радиуса иона алюминия (0,057 нм). Эти искажения, во-первых, вызывают появление внутренних напряжений в монокристаллах рубина и ограничивают предельнуьэ концентрацию ионов хрома в них и, во-вторых, приводят к смещению иона хрома вдоль пространственной диагонали в октаэдре из ионов кислорода. С ростом концентрации ионов хрома параметры элементарной ячейки кристаллической решетки увеличиваются. Поскольку монокристаллы рубина анизотропны, их свойства зависят от ориентации образца. [c.74]

Для определения параметров элементарной ячейки кристаллических материалов необходимо выполнить индицирование атом-ньрс плоскостей, т.е. обозначить последние индексами, которые определяют их пространственное положение в элементарной ячейке относительно выбранных в ней координатных осей (А, к, I — индексы Миллера). [c.48]

Разные металлы в модели твердых шаров характеризуются единственным параметром — радиусом шара или атомным радиусом. Его легко определить-Ведь, как мы видели, атомный радиус просто связан с размерами элементарной ячейки, которые, в свою очередь, можно легко определить из эксперимента с рентгеновскими лучами. Полученные таким образом данные сводятся в специальные таблицы, первая из которых была составлена в 1920 году Брэггом. Мы приведем ее современный вариант. Обратите внимание, что в табл. 5 указаны и атомные радиусы некоторых неметаллических элементов. Они определяются тем же образом — по параметрам элементарных ячеек кристаллических решеток, хотя для них, строго го- [c.93]

В кристаллической решетке можно вьщелить элемент объема, образованный минимальным количеством атомов, многократное повторение которого в пространстве по трем непараллельным направлениям позволяет воспроизвести весь кристалл. Такой элементарный объем, характеризующий особенности строения данного типа кристалла, называется злемеитарной ячейкой. Для ее описания используют шесть величин три ребра ячейки а,Ь,ск три угла между ними а, Р, Y (рис. 1.1, а). Эти величины называются параметрами элементарной ячейки. [c.5]

В табл. 2 приведены химические и кристаллооптические константы для твердых фаз системы СаО—РгОб—Н2О и минералов апатитовой группы. Данные табл. 2 позволяют сделать вывод о том, что однотипность кристаллической решетки с закономерным изменением параметров элементарной ячейки, а также изотропность и близость показателей преломления кристаллов указанных веществ являются следствием того, что кальций-фосфатные образования с решеткой апатита представляют собой изоморфные твердые растворы [8]. [c.270]

Земанн [2] изучил кристаллическую структуру ортофосфата лития LigPO . Кристаллы этого соединения относятся к ромбической сингонии с параметрами элементарной ячейки а.=6,12, 6=10.55, с=4.83 A. [c.489]

Соединение Структурная формула Габитус кристал- лов Показатели светопре- ломления Плот- ность, г/см Сингония Параметры элементарной ячейки Температуры дегидратации, С Кристаллические фазы, образую-щиеся при рааложении [c.384]

Соединение Nd2pej4B имеет сложную тетрагональную кристаллическую структуру с параметрами элементарной ячейки а = = 0,881 нм и с = 1,221 нм. При 20 °С ось с является направлением легкого намагничивания, константа естественной магнитнокристаллической анизотропии К=4,0 МДж/м . Так как соединение имеет невысокую темпфа-туру Кюри (550 °С), температурный коэффициент индукции не меньше 0,04 %/°С. [c.407]

Известно, что оксидом железа, который может существовать термодинамически равновесно непосредственно на поверхности углеродистой стали и обладать оптимальными защитными свойствами, является магнетит. Он относится к классу шпинелей и в результате соответствия параметров кристаллических -решеток хорошо сцепляется со сталью. Пространственная структура зародыша элементарной ячейки магнетита РезО представляет собой шестиатомное кольцо, пять атомов которого лежат в одной плоскости, шестой (атом кислорода) — в плоскости, перпендикулярной плоскости основного кольца. Соотношение концентраций двух- и трехвалентного железа в классическом магнетите составляет 1 2. Известно, что вторым оксидом, обладающим достаточно хорошими защитными свойствами, является маггемит. Однако при низких температурах оксид трехвалентного железа не может существовать термодинамически равновесно непосредственно на по-нерхности стали. [c.48]

Наноструктурная Си, полученная РКУ-прессованием, обладает усредненным значением параметра кристаллической решетки, равным 3,6133 0,0005 А [82], что на 0,04 соответствующего крупнокристаллической Си. Анализ рис. 2.10 указьшает на уменьшение параметра решетки во всех направлениях в кристаллической решетке. Объем элементарной ячейки в наноструктурной Си, полученной РКУ-прессованием, оказался равным 47,175 3 А . Данное значение примерно на 0,1 % меньше, чем в крупнокристаллической Си [81, 82]. [c.73]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...