Принцип оптической локализации

Возможности оптического метода в принципе позволяют также изучать различные деформационные эффекты, свойственные термоусталостным испытаниям (например, эффект локализации пластической деформации, кинетику одностороннего накопления деформации, формоизменение и пр.) протекающие при высоких температурах [27]. Применение оптического метода оправдано для оценки величины упругопластической деформации в первых циклах термоциклического нагружения и для та- [c.31]

При высоких энергиях (в смысле п. 1) основной вклад в амплитуду рассеяния на данный угол дают большие значения I. С точки зрения квантовой механики этот факт можно объяснить, исходя из аналогии с оптическим принципом локализации или используя то свойство бесселевых функции, которое обсуждалось в начале гл. 3, 5. Если радиус взаимодействия есть R, то будут доминировать орбитальные моменты I, по порядку равные [c.526]

Полученные представления справедливы при всех значениях энергий и углов. Однако при высоких энергиях можно применить оптический принцип локализации (гл. 3, 5). При 2Ьк > 1 единственным членом ряда (18.40), который будет давать заметный вклад, является член с 2/+1 2Ьк. Следовательно, [c.536]

Такое резкое обрезание при J + Уг > х физически можно объяснить с помощью принципа оптической локализации, который, грубо говоря, утверждает, что член порядка J в разовджении по парциальныл волнам соответствует лучу , проходящему от рассеивателя на расстоянии (J + Уг)//г. Это аналог хороию известного в квантовой механике факта, согласно которому парциальная волна с угловым моментом J соответствует частице, прицельный параметр которой равен J -Ь /г)/ , и чем больше к, тем более правильно это соответствие. С учетом сказанного можно пренебречь членами с такими значениями J, для которых J + /г)/ > Р, так как соответствующие лучи никогда не попадут на сферу радиусом R. Это в точности соответствует обрезанию, получаемому чисто математическим путем. [c.76]

Прежде чем перейти к рассмотрению собственно голографической интерферометрии, остановимся в гл. 2 на некоторых основных положениях дифференциальной геометрии и механики сплошных тел, а в гл. 3 — на принципах формирования изображения в голографии. В гл. 2 приводятся сведения, которые являются основой изложения всей книги. В гл. 3 рассматривается с одной стороны, получение исследуемых волновых фронтов, и, с другой стороны, детально. анализируются свойства изображения, в частности, аберрации, которые могут возникать, если оптическая схема, используемая при восстановлении, отлична от х ы регистрации. В этой же главе показано взаимопроникновение понятий механики и оптики. Затем в основной части книги — гл. 4 — исследуется процесс образования интерференционной картины, обусловленной суперпозицией волновых полей, соответствующих двум данным конфигурациям объекта, и обратная задача — измерение деформаций объекта по данной интерференционной картине. В ней, во-первых, показано, как определяют порядок полосы, т. е. оптическую разность хода интерферирующих лучей, и как отсюда находят вектор смещения. Во-вторых, рассмотрены некоторые характеристики интерференционных полос, их частота, ориентация, видность и область локализации, которые зависят от первых производных от оцтйческой разности хода. Затем показано изменение производной от смещения (т. е. относительной деформации и наклона). В-третьих, определено влияние изменений в схеме восстаноэле ния на вид интерференционной картины и методы измерения. Наконец в гл. 5 кратко приведены некоторые возможные примеры использования голографической интерферометрии для определения производных высших порядков от оптической разности хода в механике сплошных сред, [c.9]

Прежде, чем перейти к дальнейшему анализу обоих типов локализации, сделаем некоторые дополнительные пояснения относительно упрощенного описания явления интерференции, приведенного в пп. 4.1 и 4.2.1. Там рассматривались только два луча из всего пучка лучей, участвующих в образовании интерференционной полосы, т. е. подразумевалось, что все лучи вносят одинаковый вклад в формирование полосы. В принципе это справедливо только для случая полной локализации. Действительно, из выражения (4.75) следует, что в этом случае номер полосы зависит только от О. Однако это приближение годится также и в общем случае, но при условии, что апертура оптической системы V наблюдения очень мала, так что изменением йОкчля 8 в (4.70) можно пренебречь. Тогда полосы можно наблюдать повсюду, однако они будут иметь слабую яркость и подчас весьма невысокую видность. Здесь мы можем определить номер полосы в любой точке К вдоль направления наблюдения. Если, наоборот, величинами 40 и б нельзя пренебречь вследствие того, что не мала апертура, то может возникнуть [c.111]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...