Рентгеноструктурный анализ интенсивность линий

Сопоставление интенсивностей линий играет важную роль в рентгеноструктурном анализе. Интенсивности линий определяют по фотометрическим кривым (см. ниже). [c.133]

Сочетание методов тепловой микроскопии с методами рентгеноструктурного анализа и просвечивающей электронной микроскопии дает более широкие представления о механизме и кинетике протекания дисперсионного твердения аустенитных нержавеющих сталей. Возросший за последнее время интерес к электронной микроскопии связан главным образом с появлением нового метода исследования на просвет тонких (до 1000 А) пленок, полученных из массивных образцов. Это стало возможным при применении в современных электронных микроскопах электронного пучка, обладающего большой проникающей способностью и высокой интенсивностью, что обеспечивается системой двойных конденсорных линз. Метод тонких пленок позволяет полностью использовать разрешающую способность современного электронного микроскопа и имеет по сравнению с методом реплик ряд преимуществ, основные из которых заключаются в получении трехмерной картины микроструктуры и возможности легко наблюдать такие дефекты матрицы, как линии дислокаций, и изучать их взаимодействие с выделениями. Можно также изучать картину электронной дифракции с небольших участков поверхности (около 0,25 мкм). [c.223]

Выявление второй фазы ограничивается чувствительностью метода рентгеноструктурного анализа, которая определяется возможностью регистрации нескольких характерных (т. е. самых интенсивных) линий. Эта чувствительность зависит от рассеивающей способности атомов элементов, составляющих вторую фазу, от ее кристаллической структуры, а также от степени искажения решетки. Чем меньше порядковый номер элемента (г), ниже симметрия решетки (меньше фактор повторяемости в выражении интенсивности), тем ниже чувствительность. Для остаточного аустенита в стали эта чувствительность около 1 %, а для цементита — несколько процентов. Чувствительность качественного фазового анализа существенно улучшается при использовании монохроматизации, снижающей уровень интенсивности фона. [c.125]

Более точным является метод рентгеноструктурного анализа. На съемках искаженной кристаллической решетки поверхности наклеп выявляется в виде размытого кольца на рентгенограммах. По мере стравливания наклепанных слоев интенсивность изображений кольца возрастает, а ширина линий уменьшается. [c.87]

Рентгеноструктурный анализ дает возможность определять и количественное соотношение фаз в сплаве, поскольку количество фазы в сплаве пропорционально интенсивности линий данной фазы. Прн этом необходимо, однако, учитывать ряд моментов. [c.197]

Рентгеноструктурный анализ является основным средством изучения структурных изменений при отдыхе. Установлено, что при отдыхе происходит частичное уменьшение напряжений П, а в ряде случаев и III рода уменьшается ширина линий и возрастает интегральная интенсивность линий с большими углами скольжения. [c.143]

Сопоставление интенсивностей линий играет важную роль в рентгеноструктурном анализе. Интенсивности линий определяют по фотометрическим кривым, которые изображают угловую зависимость плотности почернения фотопленки. При соблюдении определенных условий эта плотность почернения пропорциональна интенсивности рентгеновых лучей, вызвавших соответствующее почернение. [c.192]

Рассматривая ползучесть как некоторый вид квазивязкого течения металла, мы должны допустить, что в каждый момент скорость ползучести при данном структурном состоянии определяется однозначно действующим напряжением и температурой. Структурное состояние — это термин, чуждый по существу механике, поэтому применение его в данном контексте должно быть пояснено более детально. Понятие о структурном состоянии связано с теми или иньгаи физическими методами фиксации этого состояния — металлографическими наблюдениями, рентгеноструктурным анализом, измерением электрической проводимости и т. д. Обычно физические методы дают лишь качественную характеристику структуры, выражающуюся, например, в словесном описании картины, наблюдаемой на микрофотографии шлифа. Иногда эта характеристика может быть выражена числом, но это число бывает затруднительно ввести в механические определяющие уравнения. В современной физической литературе, относящейся к описанию процессов пластической деформации и особенно ползучести, в качестве структурного параметра, характеризующего, например, степень упрочнения материала, принимается плотность дислокаций. Понятие плотности дислокаций нуждается в некотором пояснении. Линейная дислокация характеризуется совокупностью двух векторов — направленного вдоль оси дислокации и вектора Бюргерса. Можно заменить приближенно распределение большого числа близко расположенных дискретных дислокаций их непрерывным распределением и определить, таким образом, плотность дислокаций, которая представляет собою тензор. Экспериментальных методов для измерения тензора плотности дислокаций не существует. Однако некоторую относительную оценку можно получить, например, путем подсчета так называемых ямок травления. Когда линия дислокации выходит на поверхность, в окрестности точек выхода имеется концентрация напряжений. При травлении реактивами поверхности кристалла окрестность точки выхода дислокаций растравливается более интенсивно, около этой точки образуется ямка. Таким образом, определяется некоторая скалярная мера плотности дислокаций, которая вводится в определяюпще уравнения как структурный параметр. Условность такого приема очевидна. [c.619]

В табл. 14 приведены данные для фазового рентгеноструктурного анализа упрочняющих фаз внедрения (боридов, карбидов, нитридов) и окислов ряда металлов [И]. Химические формулы соединений (в алфавитном порядке химических символов металлов) даны в следующей последовательности бориды, карбиды, нитриды, окислы. Обозначения см. табл. 13. Для каждого вещества указаны мвжплоскостные расстояния и интенсивности линий на рентгенограммах для трех-четырех наиболее интенсивных линий. Для некоторых из перечисленных соединений более подробные таблицы межплоскостных расстояний и интенсивностей, а также структуры содержатся в работах [3], об индексах линий на рентгенограммах см. [3]. [c.76]

Интенсивность интерференции при рентгеноструктурном анализе определяется содержанием соответствующих кристаллов и плоскостями, от которых происходит отражение. Средняя величина частиц в исследуемом образце должна быть не более Юмкм, если требуется воспроизводимость в пределах +1,5%. Хотя величина частиц в боксите, как уже отмечалось, чаще всего меньше микрона, пробу боксита нужно измельчить тоньше 10 мкм, потому что по структуре бокситы очень неоднородны. На яркость интерференционных линий также весьма влияет плотность упаковки пробы и абсорбционной способности. Это влияние можно исключить, если применить метод внутреннего стандарта . Для установления эталонных линий исходят нз двухкомпонентных систем, которые составляют из постоянных количеств подходящих стандартных материалов —эталонов. Интенсивность каких-либо дифракционных линий определяемого минерала и эталонов наносят на диаграмму относительно концентрации. Так получают эталонную линию, которая может быть перенесена на многокомпонентную систему. [c.31]

Химический анализ показал, что полученный окисел гидратирован, причем окончательная дегидратация происходит лишь выше температуры разложения окисла. Рентгеноструктурный анализ был произведен с помощью аппарата ДРОН-1. Ниже приведены межпло-скостные расстояния , А) и интенсивности линий (/, %) Р10а [c.34]

Рассмотрение рентгенограмм показывает, что кривые распределения интенсивности интерференционных линий, полученные при рентгеноструктурном анализе нетермообработанных покрытий с различным содержанием фосфора, заметно отличаются друг от друга в то время как интерференционные линии покрытий с 9% фосфора весьма сильно размыты, линии покрытий с 5% фосфора сравнительно четки (фиг. 29). Такая дифракционная картина может наблюдаться либо в тех случаях, когда структура весьма мелкодисперсна, либо когда кристаллические решетки сильно деформированы. В данном случае было сделано предположение, что в исходном состоянии осадки имеют структуру с деформированными решетками, причем степень искаженности решетки у щелочных покрытий (с 5% фосфора) меньше, чем у кислых покрытий с 9% фосфора). [c.41]

На никелевые пластины, отличающиеся только разной концентрацией вакансий, осаждали из трилонатного электролита висмут, а затем оба образца подвергали изотермическому отжигу в вакууме при температуре 120 С и через определенные промежутки времени проводили рентгеноструктурный анализ. Поскольку толщина нанесенного висмутового слоя составляла всего 100 нм. на дифрактограммах кроме рефлексов, принадлежащих висмуту, отчетливо разрешались рефлексы никелевой основы. Это позволяло одновременно контролировать по ходу эксперимента саруктурные. характеристики висмута и никеля, в частности, изменения интенсивности линии ( 02) висмута и параметра кристалдаческой решетки никеля, для определения которого использовали линию (311). [c.51]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...