Кристалл-рефрактометр

Показатели преломления кристалла можно измерить с помощью кристалл-рефрактометра, действующего по следующему принципу. Пластинка исследуемого кристалла кладется на плоскую поверхность стеклянного полушария с очень высоким (до 2) показателем преломления N. Свет падает со стороны стеклянного полушария вдоль его радиуса и отражается от пластинки. Показатель преломления п исследуемого вещества вычисляется по предельному углу полного отражения по формуле п = W sin ф. В случае отражения от кристалла существуют два предельных угла, соответствующих двум преломленным лучам в кристалле. [c.462]

Как надо ориентировать на кристалл-рефрактометре плоскопараллельную пластинку, вырезанную произвольным образом из одноосного кристалла, чтобы получить оба главных показателя преломления кристалла и n i [c.462]

Решение. Для определения обыкновенного показателя преломления Пд пластинка, очевидно, может быть ориентирована как угодно. Чтобы получить необыкновенный показатель преломления (т. е. максимальное или минимальное значение Лц), пластинку надо ориентировать так, чтобы плоскость, проходящая через оптическую ось кристалла и нормаль к границе раздела пластинки со стеклом кристалл-рефрактометра, была перпендикулярна к плоскости падения. [c.463]

Действительно, при полном отражении световое поле проникает во вторую среду, вообще говоря, в виде неоднородной (поверхностной) волны. Но если свет падает строго под предельным углом полного отражения, то волна во второй среде будет еще однородна. Ее волновая нормаль параллельна линии пересечения плоскости падения с плоскостью раздела сред. Повернем кристалл так, чтобы его оптическая ось стала перпендикулярна к этой линии. Тогда волна в кристалле будет распространяться перпендикулярно к оптической оси. При такой ориентировке кристалла электрический вектор необыкновенной волны будет параллелен оптической оси. Значит, на кристалл-рефрактометре в этом случае будет измерен главный показатель преломления необыкновенной волны, т. е. величина п . [c.463]

При измерении показателей преломления кристаллической пластинки на кристалл-рефрактометре оказалось, что один показатель преломления сохраняет постоянное значение Пд при всех поворотах стеклянного полушария. Другой показатель преломления изменяется так, что значение Пд для него 1) максимально, 2) минимально. Определить оптический знак кристалла ) и ориентировку пластинки относительно оптической оси. [c.463]

Как будут меняться при вращении полушария кристалл-рефрактометра оба показателя преломления пластинки, если она вырезана перпендикулярно к оптической оси [c.463]

Как надо ориентировать пластинку из двуосного кристалла, чтобы получить на кристалл-рефрактометре три главных показателя преломления [c.499]

Описанный рефрактометр используется также и для измерения показателей преломления порошков и анизотропных кристаллов, которые помещаются на эталонную нризму с той или иной ориентацией оптических осей. Для последнего случая чаще применяют более универсальные рефрактометры, принцип работы которых не отличается от описанного, однако эталонная среда [c.469]

Для измерения п кристаллов и твердых тел слулшт кристалл-рефрактометр Аббе, основанный на принципе полного внутреннего отражения при освещении отраженным светом. Для определения главных п кристаллов необходимо кристалл вращать, чтобы найти максимум (минимум) двух границ, даваемых кристаллом. Поэтому здесь призма заменена полусферой с большим щ поворот призмы отсчитывается на горизонтальном круге. Зрительная труба вращается около вертикального круга с делениями ось вращения трубы проходит через центр полусферы и перпендикулярна оси вращения полусферы. Т. о. при вращении кристалла луч все время попадает в зрительную тру-к-рая имеет плоско-вогнутую линзу (фиг. 11) из того же стекла, что и полусфера, и одинакового с ней радиуса кривизны. Между полусферой и линзой получается тонкая прослойка воздуха одинаковой толщины в результате луч всегда перпендикулярен к зрительной трубе, благодаря чему измеряется непосредственно угол полного внутреннего отражения n=N sin i, так как рефрактометр действует как Р. с призмой с изменяющимся преломляющим углом. Кристалл-рефрактометр освещается монохроматич. светом отраженными лучами с помощью зеркала, что дает возможность измерять п непрозрачных твердых тел. Можно освещать и скользящим светом, наблюдая границу преломления, причем исследуемому телу придают форму цилиндра высотой 0,15 мм, с помощью НИКОЛЯ, помещенного над окуляром, определяют состояние [c.357]

Показатели преломления являются осн. оптич. константами кристаллов и часто служат их диагностич. признаком. О методах измерения п см. в ст. Рефрактометрия, Рефрактометр, Ыммерсиоимый метод. Особую роль в К. играют исследования кристаллов в поляризац. микроскопе с помощью универсального вращающегося столика Фёдорова, к-рый позволяет наблюдать кристаллич. препарат в любом направлении и вращать его вокруг любой проходяш ей через него оси. Разработанная Фёдоровым методика позволяет, наблюдая погасания кристаллов при поворотах, определять ориентацию осей индикатрисы кристал.тгов относительно его граней, плоскостей спайности, двойниковых плоскостей, находить законы двойникования, из.мерять углы оптических осей, показатели преломления кристаллов (определяя смещение изображения при наклоннол прохождении света через кристаллич. пластинку известной толщины). [c.513]

II изготовляется в виде полусферы. Это необходимо для удобства измерения показателей преломления анизотропного кристалла, посаженного на оптический контакт на плоскую грань полусферы. Такие рефрактометры получили название кристаллоре-фрактометров, [c.469]

Существует несколько систем ионных радиусов, отличающихся значениями ионных радиусов индивидуальных ионов, но приводящих к примерно одинаковым межъядер-ным расстояниям. Первая работа по определению ионных радиусов была проведена В. М. Гольдшмитом в 20-х годах XX века. В ней автор использовал, с одной стороны, межъядерные расстояния в ионных кристаллах, измеренные методами рентгеновского структурного анализа, а, с другой стороны, — значения ионных радиусов Е и О , определенные методом рефрактометрии. Большинство других систем также опирается на определенные дифракционными методами межъядерные расстояния в кристаллах и на некоторые реперные значения ионного радиуса конкретного иона. В наиболее широко известной системе Полинга этим реперным значением является ионный радиус пероксид-иона О , равный 1.40 А. Эта величина для О хорошо согласуется с теоретическими расчетами. В системе Г. Б. Бокия и П. В. Белова, считающейся одной из наиболее надежных, ионный радиус О принимается равным 1.36 А. [c.54]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...