Ширина аппаратурная линии

Эти кривые имеют большое значение при рассмотрении вопроса об обнаружении и измерении слабых компонентов, находящихся вблизи ярких компонентов, а также для оценки относительной интенсивности. При исследовании формы спектральных линий наблюдаемая форма максимумов будет представлять собой сложное распределение интенсивности, что, с одной стороны, связано с шириной самой линии, а с другой — с аппаратурной шириной. Отсюда совершенно ясно, что даже строго монохроматическая линия будет иметь определенную аппаратурную ширину, которая ограничивает предел разрешения прибора. [c.196]

Уширение мессбауэровской линии (АГ), если ее форма близка к лоренцевой, находят как разницу между экспериментально измеренной шириной линии на половине высоты и суммарной шириной линий источника и поглотителя. К уширению приводят три вида причин. Во-первых, причины методического характера конечная толщина поглотителя, аппаратурное уширение — непостоянство скорости, недостаточное разрешение и др. Влияние конечной толщины можно качественно оценить по формулам [11.6]. [c.142]

Как п в случае линий излучения, величина аппаратурных искажений полос поглощения зависит от соотношения между истинной шириной полосы поглощения Р (или АХ) и шириной аппаратной функции монохроматора а = (или 6Х). При значительном [c.403]

Выражение для спектральной прозрачности атмосферы справедливо для идеального случая, когда ширина линии излучения источника Дve полагается равной 0. Спектр излучения реальных лазерных источников, естественно, имеет конечную ширину Дve= 0. Если в пределах спектрального интервала Ave коэффициент ослабления нельзя считать постоянным, то при лазерном зондировании регистрируется уже не спектральная прозрачность атмосферы, а функция пропускания, искаженная действием аппаратурной функции источника /(V—Уе), которая характеризует форму контура линии излучения с центром Ve. Наиболее сильное проявление этого факта имеет место, когда измеряется пропускание атмосферного канала в районе селективных линий поглощения атмосферных газов, спектральные ширины которых могут быть сравнимы или уже линии лазерного излучения. При этом реги- [c.34]

Искажения контура линии за счет инерционности фотоэлектрической установки, так же как и любые аппаратурные искажения, не влияют на величину ее интегральной интенсивности. Во всех случаях ширина и интенсивность в максимуме линии изменяются таким образом, что их произведение, пропорциональное интегральной интенсивности линии, остается постоянным [c.121]

Если необходимо записать контур линии комбинационного рассеяния без заметных искажений, то щирину входной и выходной щелей 5 берут не больще половины щирины наблюдаемого контура линии б. В этих условиях щирина линии б и интенсивность в максимуме /о искажаются мало. Однако они отличаются от истинных параметров линии. Наблюдаемый контур линии комбинационного рассеяния искажается не только за счет влияния ширины щелей спектрометра, но также за счет спектральногс распределения в пучке возбуждающего света и различных аппаратурных влияний спектрометра (дифракция света, аберрация и др.). [c.122]

Аппаратурные искажения спектрометра и немонохроматичность. возбуждающего источника света оказывают влияние не только на ширину линии комбинационного рассеяния, но и на ее интенсивность в максимуме. Из соотношения (3.60) следует, что интенсивность в максимуме наблюдаемого контура линии имеет вид [c.124]

При очень высоких электронных плотностях уширение линий настолько велико, что крылья линий с разными главными квантовыми числами перекрываются. В этих условиях измерение ширины линий затруднено и, кроме того, к линейному штарк-эффекту добавляется квадратичный. При значениях Л е, меньших 10 см , штарковское уширение становится незначительным, и контур линии в большей степени может определяться другими факторами, например эффектом Доплера. При малой ширине линии нельзя пренебрегать и аппаратурными искажениями формы линии. [c.272]

Значительным прогрессом в аппаратурном обеспечении количественной металлографии явилось создание приборов, действие которых основано на при1щипе сканирования микроструктуры световым лучом. Используют два принципиально различных метода сканирования. При сканировании щелью пользуются узкой щелеобразной аиертурой, расположенной перпендикулярно к линии сканирования. Высота сканирующей щели при этом превышает средний линейный размер (поперечник) микрочастиц. При сканировании пятном световой луч прочерчивает линию, ширина которой (равная диаметру пятна) должна быть возможно меньшего размера и значительно меньше среднего линейного размера микрочастиц. Процесс сканирования пятном подобен анализу микроструктуры с применением секущих линий. [c.490]

По сравнению с оптич. спектроскопией и инфракрасной спектроскопией Р. имеет ряд особенностей. В Р. практически отсутствует аппаратурное уширение спектральных линий, поскольку в качестве источника радиоволн используют когерентные генераторы, а частоту V можно измерить с высокой точностью. Отсутствует и типичное для оптич, диапазона радиационное ушире-вие, т. к. вероятность спонтанного испускания, пропорциональная V, в диапазоне радиоволны пренебрежимо мала. Из-за малой энергии к на единицу мощности приходится большое число квантов, что практически устраняет квантовомеханич. неонредеяёнвость фазы радиочастотного поля, к-рое можно описывать классически. Всё это позволяет получать информацию о веществе из точных измерений формы резонансных линий, к-рая определяется в Р. взаимодействием микрочастиц друг с другом, с тепловыми колебаниями матрицы и др. полями, а также их движением (в частности, Доплера эффектом в газах). Ширина линий в Р. меняется в очень широких пределах от 1 Гц для ЯМР в жидкостях до 101 Гц для ЭПР в концентриров. парамагнетиках, ферромагн. резонанса, параэлектрического резонанса ионов в твёрдых телах. [c.234]

Контур спектральной линии зависит, конечно, не только от условия освещения и ширины входной щели. Аппаратурные искажения спектральных приборов имеют и нещелевой характер. Так, например, кривизна спектральных лини11 может вызывать в монохроматорах как асимметрию наблюдаемого контура, так даже и смещение его максимудга. Увеличение высоты щели и ее наклон относительно преломляющего ребра призм или штрихов дифракционной решетки приводят к некоторому увеличению нолу- [c.106]

Чувствительность лазерного газоанализа методом дифференциального поглощения в значительной степени зависит от ширины линии зондирующего лазерного излучения Ave, поскольку регистрируемое пропускание атмосферы представляет собой свертку истинного спектрального пропускания с аппаратурной функцией лазерного источника (см. формулу (1.58)) из п. 1.3. С увеличением Ave чувствительность газоанализа снижается. Более подробна влияние конечной ширины линии лазерного излучения в методе дифференциального поглощения рассматривается в п. 5.2.1. [c.140]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...