Система кристаллографическая моноклинная

Зависимость между числом фаз, находящихся в равновесии, и числом степеней свободы можно пояснить на примере диаграммы состояния серы, которая имеет точку кристаллографического превращения. На рис. 8.2 отмечены области существования ромбической, моноклинной, жидкой и парообразной серы. Диаграмма показывает, что могут быть следующие равновесные системы [c.132]

Исследуемую среду можно считать бесконечно протяженной, если ее размеры очень велики по сравнению с длинами распространяющихся в ней упругих волн ). Скорости распространения разных типов волн, могущих распространяться в твердом теле, различны и зависят от упругих постоянных среды. В наиболее простом случае изотропной среды ее упругие свойства характеризуются двумя постоянными в анизотропных телах—кристаллах—число постоянных определяется кристаллографической системой. Упругие свойства правильного кристалла определяются тремя постоянными, кристалла тригональной или тетрагональной системы— шестью, кристалла моноклинной системы—тринадцатью и кристалла триклинной системы— двадцатью одной постоянной ). [c.343]

Существует 14 типов решеток Бравэ. Они распределяются по семи кристаллографическим системам. Пусть а , — длины ребер элементарной ячейки, а qjf, фз, фз — углы между ребрами (рис. 6.2). Перечислим системы в порядке возрастания степени симметрии триклинная (а фа фйз, моноклинная фаз, фз= ф1=ф2=л/2) ромбическая а фа фаз, ф1=ф2=фз=я/2) тригональная а =а =аз, ф1=ф2=фз=5 л/2) гексагональная (ai= = а. фаз ф1=ф2=я/2 фз=2я/3) тетрагональная (а, = а. .Фаз ф = =Ф2=Фз = я/2) кубическая (а1=а2=аз ф1=ф2=фз=я/2). Тригональ-ные, гексагональные и тетрагональные кристаллы называют в оптике одноосными. Они обладают осью симметрии относительно высокого порядка (ось имеет порядок п, если объект совмещается сам [c.130]

Моноклинная система. Моноклинные кристаллы имеют единственную ось симметрии второго порядка (класс Со) или одну плоскость симметрии (класс С< ) или то и другое вместе (класс Сзл). Для всех моноклинных кристаллов в качестве стандартной выбирается система прямоугольных координат X, У, Z, приведенная на рис. 70, д. Ось симметрии С , или нормаль к плоскости симметрии, совпадающая с осью симметрии второго порядка, принимается за ось Ь, вдоль которой направляется ось У, ось X выбирается таким образом, чтобы она совпадала с кристаллографической осью а. Оси а п с выбираются в пюскости, перпендикуляриг й оси Ь. Таблица модулей упругости, обнесенная к таким осям, для всех трех [c.259]

Минералы группы пироксена весьма близки между собой как по своим кристаллографическим и физическим свойствам, так и по химическому составу. И пто несмотря па то, что они кристаллизуются в двух раз [ИЧ1п.1х системах (ромбической и моноклинной). Во всех случаях главной и наибо.дее обычнох формой является основная призма с углом между гранями около 87 или 93°, причем параллельно обеим призматическим граням проходят направления [c.322]

Кристаплографичесное строение. Кристаллографически С, OTHO irr H к моноклинной системе, но некоторые С. вследствие незначительности угла меясду оптическими ося- -- [c.133]

Рис. 10.3. Связь кристаллографических осей а, Ь, с с прямоугольной системой координат X, V, 2 для снигоний а) триклинной, б) моноклинной, в) ромбической, г) гексагональной и тригональной, д) тетрагональной, е) кубической.

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...