Характеристическая дифракционная

Указанные критерии чувствительности, однако, недостаточно полно характеризуют светочувствительные пластинки или пленки применительно к условиям их использования для голографического кинематографа. Это объясняется тем, что из условий достижения более высокого контраста голографического изображения в ряде случаев целесообразно выбирать значения экспозиции существенно меньшие, чем те, при которых достигается максимальная дифракционная эффективность. Поэтому более удобно для целей голографического кинематографа пользоваться значениями чувствительности, определяемой по объектно слагающей экспозиции, т. е. по экспозиции, обусловленной только объектным пучком. Такая чувствительность может быть определена по характеристическим дифракционным кривым голографических фотоматериалов, представляющим кривые зависимости дифракционной эффективности от объектной слагающей экспозиции при неизменных значениях опорной слагающей экспозиции. [c.58]

Важным требованием к рабочему участку характеристической дифракционной кривой голографического кинофотоматериала является его линейность, что необходимо для правильной передачи контраста. [c.59]

Вал<нейший вывод модовой теории заключается в том, что в рабочей области, используемой в изобразительной голографии и голографическом кинематографе, интенсивность основного дифрагированного Пучка света при воспроизведении изображения связана линейной зависимостью с интенсивностью объектного пучка при получении голограммы. Эта линейная зависимость соблюдается в рабочей области характеристической дифракционной кривой не только для объектного пучка в целом, но и для отдельных элементарных составляющих объектного пучка, соответствующих малым элементам поверхности объекта. [c.219]

По своей физической природе идеальный голографический процесс передачи яркости деталей изображений (объект — изображе-вие) является линейным. Однако многие факторы нарушают эту линейность, особенно в области низких и высоких значений яркости. Главной характеристикой, определяюш,ей передачу контраста в голографическом процессе, является характеристическая дифракционная кривая фотоматериала, рабочей частью которой является приблизительно прямолинейная часть зависимости дифракционной эффективности от объектной составляющей экспозиции при неизменном значении опорной составляющей. В верхней части прямолинейный участок ограничивается предельным значением дифракционной эффективности в нижней части — уровнем шума, который определяется главным образом светорассеянием в слое, зависящим от опорной составляющей. Уровень шума определяется при этом коэффициентом i,v, равным отношению интенсивности рассеянного света к интенсивности восстанавливающего пучка (рис. 134). [c.243]

Характеристическая дифракционная кривая 58, 64, 243 Художественная голография 9 [c.283]

Возможности дифракционных измерителей в сильной степени зависят от выбора регистрируемых параметров дифракционного распределения, по которым судят об измеряемом размере. В зависимости от вида регистрируемых параметров дифракционные способы измерения можно разделить на две большие группы 1) способы, основанные на регистрации интенсивности дифракционного распределения в фиксированных точках (например, точках Л и В на рис. 147, б) 2) способы, основанные на регистрации характеристических размеров (угловых или линейных) дифракционного распределения (например, расстояния I между экстремальными точками дифракционного распределения). [c.250]

Рассмотрим также на примере щели дифракционные способы, использующие для измерения характеристические размеры дифракционного распределения-расстояния (угловые или линейные) между его экстремальными точками. [c.253]

Таким образом, наиболее предпочтительным и перспективным с точки зрения создания быстродействующих автоматических дифракционных измерителей является дифракционный способ, использующий для измерения размера автоматическое измерение характеристического размера соответствующего дифракционного изображения, предварительно преобразованного в электрический сигнал. [c.255]

Преобразователь оптического сигнала в электрический 5 для измерителей, использующих измерение характеристических размеров дифракционного изображения, обычно включает в себя [c.256]

Рис. 154. Схема дифракционного измерителя, использующего для измерения характеристический размер дифракционного изображения

Источником рентгеновских лучей для структурного анализа служат электронные отпаянные трубки (табл. 5.10). На анод этих трубок нанесен слой определенного металла (Сг, Ре, Со, N1, Си, Мо, Ag). Используется характеристическое излучение К-серии, В ряде случаев применяют фильтры, чтобы исключить излучение Яд (табл. 5.11) или монохроматоры (табл. 5.12). Дифрагированное излучение (дифракционная картина) регистрируется либо на рентгеновскую фотопленку (табл. 5.13), либо с помощью детекторов, в которых используется ионизационное или сцинтилляционное действие рентгеновских лучей (табл. 5.14). [c.116]

В случае работы на прямолинейном участке дифракционной характеристической кривой для достижения максимальной дифракционной эффективности следует соблюдать следующее условие [c.189]

Как видно из уравнения (11.56), квадрат отношения переменных слагающих экспозиции, определяющий снижение максимальной дифракционной эффективности, при переходе от одновременного к последовательному экспонированию, уменьшается с ростом числа последовательных экспонирований не столь сильно, как в случае одинаковых значений суммарных слагающих интенсивностей опорных пучков света (11.52). Например, при числе последовательных экспонировании / =10 квадрат отношения переменных слагающих экспозиции для условия получения максимальной дифракционной эффективности на линейном участке дифракционной характеристической кривой равен, согласно формуле (П.56) [c.190]

В рентгеновских дифракционных экспериментах обычно используют характеристическое Ка-излучение атомов со средними атомными весами с длинами волн от 2,28 А для хрома до 0,71 А для молибдена, причем наиболее часто используется излучение атомов меди с длиной волны 1,54 А, а точнее, дублет Ка, и Ка с длинами волн соответственно 1,537 и 1,541 А. Излучение от обычной рентгеновской трубки в дополнение к указанным сильным максимумам содержит также одну или несколько линий К,в с более короткими длинами волн, несколько слабых длинноволновых линий Ь-серии, несколько слабых линий, возникающих из-за наличия примесей или загрязнений на аноде рентгеновской трубки, и непрерывного фона белого излучения. Этот фон имеет резкую границу при длине волны, соответствующей коротковолновому пределу, для которого энергия испускаемого рентгеновского луча кс/Х равна энергии электронов возбуждающего электронного пучка еЕ, проходит через максимум и затем уменьшается с увеличением длины волны. Искажение дифракционной картины указанным примесным излучением можно уменьшить, используя различные монохроматизирующие устройства, включая поглощающие фильтры, кристаллические монохроматоры и селективные энергетические детекторы. [c.82]

Для рентгеновских лучей и нейтронов главный эффект поглощения обычно не дает вклада в дифракционную картину. Падающие рентгеновские лучи могут возбудить электроны внутренних оболочек атомов образца, теряя при этом большую часть своей энергии. Характеристическое излучение, испускаемое возбужденными атомами, обычно отфильтровывается. Как было показано в гл. 4, амплитуды атомного рассеяния для атомов образца в результате становятся комплексными и состоят из действительной и мнимой частей / =/о +Г + Мнимая часть связана с поглощением. Например, рассеянное излучение в направлении падающего луча дает смещение по фазе на я/2 и амплитуду в электронных единицах фо + /(0)- Следовательно, /" (0) вычитается изт о и, таким образом, уменьшается интенсивность падающего излучения. [c.280]

Одним из самых важных характеристических параметров ДОЭ является наименьшая ширина зоны (обычно крайней), которую для дифракционной линзы в параксиальном приближении можно оценить выражением 11 [c.259]

В истории физики дифракционные решетки выступают как одни из самых незаменимых инструментов. До 1891 г., когда Майкельсон изобрел интерферометр, названный его именем, дифракционные решетки были единственным инструментом, с помощью которого измерялись характеристические длины волн атомных спектров. [c.434]

Рис. 35. Характеристические дифракционные кривые фотопластинок 8E75HD для фазовых голограмм при экспонировании лазером импульсного действия. Каждая кривая соответствует неизменному значению интенсивности опорного пучка i — 35 эрг/см 2 — 200 эрг/см 5 — 300 spr/см 4—-700 эрг/см

На рис. 35 изображены характеристические дифракционные кривые фотопластинок 8E75HD (в случае фазовых голограмм), т. е. кривые зависимости дифракционной эффективности от объектной слагающей экспозиции при неизменных значениях опорной слагающей экспозиции. Как видно из этих кривых, наиболее правильная передача контраста изображения достигается в начальном участке [c.64]

Рис. 4-12. Изменения а — интенсивности I характеристических дифракционных линий ЗРЬО-РЬ 804-Н2О

Рис. 4-13. Изменения а — интенсивности / характеристических дифракционных линий ЗРЬО-РЬ504Н,0

Техника исследований включает ряд методов, в числе которых метод Брэгга— Баррета, с помощью которого получают отображение расположенных вблизи поверхности слоев компактных кристаллов, и метод Ланга, применяемый для тонких кристаллов, через которые могут проникать характеристические рентгеновские лучи при этом представляется возможной регистрация дифракционной картины за кристаллом. [c.157]

Рис. 5.4. Решения характеристического уравнения для симметричного триплета с дифракционной асферикой при показателях преломления менисков и =1,5 1) и я = 1,7 (2)

Обычно при анализе процессов получения голограмм предполагается, что пропускание голограммы и экспозиция связаны линейно. Для того чтобы зта связь обеспечивалась на практике, приходится уменьшать вид-ность интерференционной картины с тем, чтобы пределы изменения зкспозиции не выходили за границы линейного участка характеристической кривой. С этой целью интенсивность опорного пучка выбирается в нес-кольно раз больше (обычно 4-5-5) интенсивности предметного пучка [93-94]. Известно, однако, что уменьшение видности интерференционных полос ограничивает дифракционную эффективность, максимальное значение которой достигается при равенстве интенсивностей интерферирующих пучков. Таким образом, при получении голограмм известных типов имеет место хорошо известный компромисс между увеличением дифракционной эффективности и уменьшением нелинейных эффектов, приводящих к появлению шумов. [c.26]

Как для рентгеновских лучей, так и для электронов, фон диффузного рассеяния и поглощение энергии, приводящие к уменьшению интенсивности резких брэгговских отражений,возникают прежде всего из-за неупругого рассеяния падающего излучения на электронах в кристалле. Представление амплитуды атомного рассеяния рентгеновских лучей в виде суммы действительной и мнимой частей, связанное с возбуждением электронов внутренних электронных оболочек, обсуждалось в гл. 4. Мнимая часть амплитуды рассеяния определяет коэффициент поглощения, который может бьгть весьма значительным для длин волн падающего излучения, меньших длины волны края поглощения, т.е. когда падающие кванты обладают достаточной энергией для того, чтобы выбить электрон из одной из внутренних оболочек. В этом случае на дифракционной картине появляется диффузный фон благодаря возникновению характеристического излучения от атомов образца. [c.269]

Из (12.28) видно, что для объемных плазмонов полуширина углового распределения дается выражением 0 = Для электронов с энергией 50—100 кэВ и характеристическими потерями АЕ от 10 до 20 эВ эта полуширина составляет величину порядка 10 рад. Ее можно сравнить с углом рассеяния приблизительно в 10 рад для первого брэгговского отражения для простых материалов. Для поверхностных плазмонов распределение еще уже. Таким образом, рассеяние плазмонами можно рассматривать как существенно малоугловое рассеяние, при котором дифракционные пятна слегка уширяются. С увеличением толщины образца многократные плазмонные потери происходят все более часто и угловое распределение все более уширяется. [c.272]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...