Чувствительность контроля. Эталонирование чувствительности

При эталонировании чувствительности не учитывается возможное влияние флуктуаций коэффициента прозрачности контактирующего слоя на реальную чувствительность контроля сварных соединений. Установлено, что чувствительность практически не зависит от толщины слоя контактирующей среды между наклонным преобразователем и поверхностью проката. Однако контактирование поверхности металла с жидкостью может привести к снижению чувствительности контроля при прозвучивании соединения отраженным лучом. Действительно, при каждом отражении от поверхности металла интенсивность УЗ-волны, а следовательно, и амплитуда эхо-сигнала от выявляемого дефекта сни- [c.228]

Осо бое внимание уделено выбору оптимальных конструкций искателей, способов- прозвучивания и эталонирования чувствительности дефектоскопа и методам измерения величины дефектов как основным элементам технологии контроля, определяющим его достоверность. [c.2]

Рис. 5.6. Изменение фактической предельной чувствительности по толщине шва при эталонировании по отражателю / — на нижней поверхности 2 — при работе с временной регулировкой чувствительности 3 — на верхней поверхности 4—при контроле по слоям

Такая система эталонирования в силу своей простоты нашла широкое распространение при контроле сварных швов. Но она имеет существенный недостаток — неравномерность фактической чувствительности дефектоскопа по сечению шва. Это иллюстрируется на [c.148]

Несмотря на столь значительную разницу в чувствительности, перебраковка обычно невелика. Это связано с благоприятной для УЗ-контроля статистикой расположения дефектов. Например, при контроле шва односторонней сварки наиболее опасные трещиноподобные дефекты находятся в корне шва и являются хорошими отражателями УЗК. В верхней части шва обычно имеются поры — плохие отражатели УЗК. Но здесь предельная чувствительность при эталонировании по нижнему отражателю наименьшая, поэтому выявляемость дефектов почти одинаковая. [c.122]

Такая система эталонирования в силу своей простоты нашла широкое распространение при контроле сварки. Но она имеет один существенный недостаток — неравномерность фактической чувствительности дефектоскопа по сечению шва. Это иллюстрируется на графике рис. 50, где по оси абсцисс отложена глубина залегания эталонного отражателя, выраженная через толщину шва б, а по оси ординат — фактическая предельная чувствительность дефектоскопа, выраженная через площадь плоскодонного отражателя 5ф. Если отражатель площадью 5эт вы,пол-нен на нижней поверхности, то 5ф будет изменяться по закону е- " // (кривая 1). В точке кривой / с абсциссой б 5ф=5эт. Влево от этой точки.5ф< 58т (т, е, чувствительность выше). Область контроля между прямой 2 и левым участком кривой 1 (с лезой штриховкой) характеризуется завышенной чувстви-/тельностьк). Уровень при контроле однажды отр ажешьш лу чом будет ниже заданного (правая ветвь кривой /). [c.89]

Если настройку чувствител1 ности производить по верхнему отражателю и контроль вести одновременно прямым и однажды отраженным лучом, то график изменения чувствительности будет соответствовать кривой 3, и фактически весь шов будет контролироваться на значительно более высокой чувствительности, чем требуется. Так, если контролируется шов толщиной 30 мм и эталонирование производится по нижнему отражателю, то фактическая предельная чувствительность на глубинах 10 мм (верхний валик шва) и 30 мм (нижний валик) отличается на 13,5 дБ. Тем не менее практика показывает, что, несйотря на столь значительную разницу в чувствительность, для корневых дефектов и дефектов вблизи поверхности неоправданной перебраковки продукции нет. По-видимому, это объясняется благоприятной для ультразвукового метода статистикой распределения дефектов. [c.90]

Систематические ошибки при эталонировании уровня чувствительности и определении величины дефекта. В основе этих ошибок лежит неправильно установленный уровень эталонной чувствительности дефектоскопа. Причинами этого являются несоответствие качества поверхностей тест-образца и изделия, неточность изготовления эталонного отражателя и несоос-ность плоскодонного отражателя или сегмента акустической оси пучка. Как было показано выше, погрешность из-за несоответствия качества поверхности при контроле прямыми и РС-искателями может достигать 10—15 дБ, а при контроле наклонными искателями — 3—4 дБ. Эта ошибка, как правило, ведет к ухудшению качества контролируемой продукции, так как поверхность тест-образца всегда лучше поверхности изделия. Поэтому, когда на производстве организационно не удается добиться идентификации тест-образцов и изделий, необходимо эталонировать чув ствительность с помощью АРД-диаграмм и опорного сигнала непосредственно в контролируемом изделии. [c.98]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...