Чувствительность контрол

Результаты исследований показывают, что чувствительность контроля тем выше, чем меньше энергия излучения. Чувствительность пленки зависит от условий ее изготовления и фотообработки, а также от жесткости излучения наилучшая чувствительность при Е = 60...80 кэВ. [c.191]

Чувствительность радиационного контроля. На чувствительность контроля оказывают влияние ряд факторов [c.150]

Из рис. 6.9 видно, что чувствительность контроля стали одинаковой толщины тем выше, чем меньше энергия излучения. [c.153]

Для увеличения чувствительности контроля используют также усиливающие экраны (металлические и флуоресцентные). Материалом металлических экранов служит фольга тяжелых металлов (свинца, олова, вольфрама), а флуоресцентных — сернистый цинк, сернистый кадмий и др. Физическая сущность действия усиливающих экранов заключается в эмиссии с них вторичных электронов, которая инициируется излучением от источника (для металлических экранов, толщиной 0,0.5...0,5 мм), или эмиссией фотонов видимой части спектра (для флуоресцентных экранов толщиной 0,002. .. 0,2 мм). Усиливающие экраны, помещаемые между пленкой и объектом, служат своеобразным фильтром рассеянного излучения. При этом рассеянное вторичное излучение от тяжелых металлов, подобных свинцу, невелико. [c.155]

Необходимые способы очистки, их сочетание и требуемую чистоту контролируемых поверхностей определяют в технической документации на контроль. При высоком классе чувствительности контроля предпочтительны не механические, а химические и электрохимические способы очистки, в том числе с воздействием на объект контроля ультразвука или электрического тока. Эффективность этих способов обусловлена оптимальным выбором очищающих составов, режимов очистки, сочетанием и последовательностью используемых способов очистки, включая сушку. [c.167]

Класс чувствительности контроля определяют в зависимости от минимального размера выявляемых дефектов в соответствии с табл. 16. Достигаемую чувствительность в необходимых случаях определяют на натурных объектах или искусственных образцах с естественными или имитируемыми дефектами, размеры которых уточняют металлографическими или другими методами анализа. Конструкция и технология изготовления образцов для испытаний была дана выше. [c.170]

Гамма-дефектоскопы ДАР-2 и ДАР-3 предназначены для радиографического контроля качества сварных соединений труб с трубными досками теплообменных агрегатов, используемых на тепловых и атомных электростанциях. Аппараты обеспечивают просвечивание сварного соединения панорамным пучком излучения за одну экспозицию. Чувствительность контроля стальных и титановых сварных соединений составляет 0,15—0,2 мм в диапазоне толщин труб и их диаметров, приведенных в табл. 13. [c.297]

Абсолютную чувствительность контроля (б) определяют при использовании проволочного эталона как [c.356]

Относительную чувствительность контроля (б) определяют по формуле [c.357]

Максимально допустимую скорость контроля устанавливают путем оценки чувствительности контроля в динамическом режиме при равномерном движении эталона и поглотителя. Допускается проводить проверку чувствительности в динамическом режиме при неподвижном поглотителе и перемещающемся эталоне чувствительности. [c.357]

Таким образом, дефекты структуры контролируемого изделия A(x (дс, у, Ео) в дифференциальной томограмме (69) не маскируются аддитивным полем ошибок, и чувствительность контроля практически не отличается (26 (ц) < 1) от моноэнергетического приближения [c.422]

На чувствительность контроля оказывает влияние местоположение дефекта в детали. Подповерхностные дефекты обнаруживаются хуже, чем поверхностные. До глубины залегания приме )но 100 мкм чувствительность к обнаружению подповерхностных дефектов практически не уменьшается. На большем расстоянии от поверхности при прочих равных условиях могут быть обнаружены дефекты более грубые, чем поверхностные. В первом приближении можно принять, что на глубине 2—3 мм могут быть обнаружены дефекты, расстояние от поверхности которых примерно равно их глубине. Хуже обнаруживаются дефекты, плоскость которых составляет угол менее 40—50 " по отношению к поверхности детали. [c.33]

Существенное влияние на чуп-ствительность метода оказывает чистота обработки поверхности контролируемого объекта. Высокая чувствительность контроля может быть до- [c.33]

Наивысшая чувствительность контроля имеет место в случае, когда направление магнитного потока в детали перпендикулярно направлению выявляемых дефектов. [c.34]

Для обнаружения дефектов любых направлений применяют намагничивание в двух (или более) взаимно перпендикулярных направлениях или комбинированное. При раздельном намагничивании (и контроле) в двух взаимно перпендикулярных направлениях труднее выявить дефекты, расположенные под углом 45° к общим направлениям. Для обеспечения требуемой чувствительности контроля таких дефектов напряженность одного из намагничивающих полей необходимо увеличить в l/"2 = 1,41 раз. Обычно это проще сделать при циркулярном намагничивании. [c.34]

Свойства применяемых магнитных порошков имеют существенное значение для обеспечения требуемой чувствительности контроля. Интегральным свойством порошков для магнитной дефектоскопии является их выявляемость, т. е. способность обнаруживать тонкие дефекты, размеры которых определяют наивысшую чувствительность метода. [c.34]

Контрастность записи, уровень сигнала и воспроизведения при магнитографическом контроле могут быть повышены за счет предварительного под-магничивания магнитной ленты. При этом чувствительность контроля остается практически неизменной, так как одновременно усиливаются сигналы шумов. [c.49]

Накладными ВТП контролируют в основном объекты с плоскими поверхностями и объекты сложной формы. Эти преобразователи применяют также, когда требуется обеспечить локальность и высокую чувствительность контроля. Наружными проходными ВТП контролируют линейно-протяженные объекты (проволоку, прутки, трубы и т.д.) применяют их и при массовом контроле мелких изделий. Внутренними проходными ВТП контролируют внутренние поверхности труб, а также стенки отверстий в различных деталях. Проходные ВТП дают интегральную оценку контролируемых параметров по периметру объекта, поэтому они обладают меньшей чувствительностью к локальным вариациям его свойств. [c.85]

Наибольшая чувствительность зеркально-теневого метода контроля достигается при -контроле по второму (п-му) донному сигналу. Чувствительность контроля любым способом увеличивается с уменьшением глубины расположения дефекта. Чувствительность контроля по первому и второму донным сигналам к подповерхностным дефектам приблизительно одинакова. [c.253]

Чувствительность контроля зависит от параметров контролируемых изделий и глубины залегания дефектов и уменьшается с увеличением последней. Минимальная площадь обнаруживаемых дефектов 2—15 см , причем большие значения соответствуют большим глубинам залегания. [c.302]

Абсолютная чувствительность метода определяется размером минимального дефекта, обнаруживаемого при контроле и выражаемого в миллиметрах. О т п о с и т с л ь и а я чувствительность представляет собой отношение минимального размера выявляемого дефекта в нанравлении нросвечивания к толщине зондируемого элемента и выражается в процентах. Согласно ГОСТ 7512—82 абсолютная чувствительность контроля может быть вдвое меньше числового значения минимального дефекта, который требуется выявить в процессе просвечиваиия. Результаты исследований показывают, что чувствительность контроля тем выше, чем меньню энергия излучения. Чувствительность пленки зависит от условий ее изготовления и фотообработки, а также от жесткости излучения наилучшая чувствительность при = 60. ..80 кэВ. [c.116]

Фокусное расстояние и размер фокуса также изменяют чувствительность контроля. С увеличением фокусного расстояния Рпроисходит ослабление энергии излучения, дела- [c.154]

Ксерография, радиоскопия, радиометрия. Ксерография — это метод получения скрытого радиационного изображения дефекта на пластине из полупроводникового материала. Ксерографическая пластина состоит из токопроводящей алюминиевой или латунной подложки, на которую с одной стороны наносят тонкий слой из полупроводникового материала, например, селена. При прохождении рентгеновских лучей в зависимости от интенсивности выходящего из объекта контроля пучка изменяются параметры электрического поля пластины. Тем самым на пластине образуется скрытое электростатическое изображение объекта. При проявлении скрытого изображения красящими порошками на основе окиси цинка, мела и других формируется видимое изображение. При наложении на пластину бумаги изображение фиксируется на ней. Промьш1ленностью выпускаются рентгеновские установки с ксерографическим изображением результатов контроля и перенесения отпечатка на бумагу (Эренг-2 и др.) Производительность контроля значительно повышается, однако чувствительность контроля несколько ниже, чем при рентгенографии. [c.163]

Многообразие изделий поточного производства, а также высокие требования к чувствительности контроля обусловливают создание АУКГ, различающихся по принципу работы, конструктивно, по уровню механизации и автоматизации. [c.200]

Мегподы прямой, экс- n03Ult,UU Рентгенография Рентгеновские аппараты с и < 1000 кВ, / < 25 мА Черно-белые и цветные радиографические. пленки с усиливающими металлическими и флюоресцентными экранами Паяные и сварные соединения, литье, поковки, штамповки и прочие изделия из металлов, их сплавов, пластмасс, керамики и т. п. Регулирование энергии и интенсивности излучения в зависимости от толщины и плотности материала. Малые размеры фокусного пятна. Высокая интенсивность излучения. Высокая чувствительность контроля Необходимость очлаждения и питания от внешних источников. Большие габариты аппаратуры. Малая маневренность. Малая толщина просвечиваемого материала (для стальных деталей не более 100 мм) [c.308]

Чувствительность радиографии зависит как от энергии излучения Е (рис. 16—18), так 1 от контрастности снимка Vg, общей нерезкости изображения и, воздействия рассеянного излучения, достигающего пленки и определяемого фактором накопления. Поэтому при просвечивании изделий по участкам, когда все перечисленные параметры меняются от центра к краю снимка, чувствительность контроля также изменяется. На рис. 19 приведены графики зависимости относительной чувствительности от угла ф при просвечивании плоских изделий различной толщины с использованием ка-навочных дефектометров. Фокусное расстояние выбирали нз условия < [c.323]

Up. Снпмки расшифровывали на негатоскопе с яркостью экрана 30 кд/м , при этом расстояние от глаза наблюдателя до экрана составляло 25 см. Из графиков следует, что с увеличением угла ф чувствительность контроля [c.323]

С другой стороны, при заданных требованиях к чувствительности контроля ПРВТ оптимизация энергии согласно [c.413]

Анализ соотношения (46) показывает, что оптимальный выбор энергии, применение рентгеновских трубок и ускорителей со средней мощностью около 4 кВт и использование многодетекторной схемы сбора измерительных данных с т = N для всех типичных объектов контроля позволяет обеспечить производительность на уровне не менее 1 слоя в минуту при повышенной чувствительности контроля и до 10 слоев в минуту — при контроле объемной геометрии контрастных структур. [c.414]

Влияние квантовых шумов томограммы (32) на чувствительность контроля методом ПРВТ зависит не только от интегральной оценки СКО (36), но и от деталей пространственной структуры самого поля ошибок. От того, какова корреляция этих ошибок в различных точках томограммы, в какие пространственные узоры они группируются — зависит способность оператора выделить полезную информацию [c.414]

В ограничении рассматриваемого вида погрешностей. Тем не менее этот прием всегда связан с некоторой потерей чувствительности контроля по сравнению со случаем применения моноэнер-гетического излучения или вычислительной коррекции ошибок немоно-энергетичности. [c.418]

Таким образом число проекций, используемых при контроле методом ПРВТ, должно линейно повышаться с увеличением диаметра контролируемого изделия и пространственного разрешения. С другой стороны, точность реконструкции низкочастотных пространственных структур (с малым км) может оказаться высокой и при малом числе проекций. Это обстоятельство оправдывает низкочастотную фильтрацию проекций для получения приемлемых результатов при малом М. Однако при контроле сложных структур и обнаружении локальных дефектов такой прием будет лишь сопровождаться снижением чувствительности контроля и потерей информативных высокочастотных составляющих изображения. [c.430]

Видно, что помимо традиционной необходимости повышать экспозиционную дозу требования (133) отличаются от общепринятого стремления максимально снизить пороговый контраст и обуславливающую его б (р,). Как следует из (133), повышение предела пространственного разрешения км и уменьшение относительной толщины контролируемого слоя ( в пределах ограничения ( Vд < а /2яй] ,у несмотря на неизбежное увеличение б (jx), обеспечивает значительное повышение чувствительности контроля локальных сферических дефектов. Именно это обстоятельство и обусловливает в ПРВТ превалирующую роль геометрических факторов. В частности, в рассматриваемом примере вычислительного томографа для а< = 1 и fejK = 1 пер/мм при той же экспозиционной дозе и соответственно худшем уровне СКО [б ( i) = 0,1] можно было бы обнаружить воздушный пузырь объемом всего в 0,06 мм . [c.443]

Полученные выражения для абсолютной чувствительности контроля ПРВТ могут быть соотнесены к диаметру контролируемого изделия Од с определением относительной чувствительности в виде [c.443]

Таким образом метод ПРВТ обладает на порядок более высокой чувствительностью контроля при обнаружении сферических локальных дефектов в толстых изделиях со сложной геометрической структурой при одновременном определении координат дефекта в трехмерном объеме изделия с точностью выше Дг = 12км- Отметим, что согласно (135) на чувствительность контроля сферических дефектов экспозиция и толщина контролируемого слоя влияют относительно слабо. [c.444]

Таким образом, с помощью ПРВТ в упомянутых ранее условиях контроля (М( = 6, км== 0,3 пер/мм, D = 256 мм) при I Сд I = 1 надежно обнаруживаются цилиндрические дефекты диаметром 0,25 мм, что соответствует относительной чувствительности контроля = = 0,1 %. Чувствительность к выявлению подобных дефектов более резко, чем для сферических включений, зависит от контраста дефекта и может быть улучшена увеличением, в отличие от (135), толщины контролируемого слоя и экспозиционной дозы. Интересной особенностью обнаружения цилиндрических дефектов является независимость уровня чувствительности от изменения предела пространственного разрешения, что является следствием компенсации двух факторов падения амплитуды изображения дефекта и повышения точности оценки локального линейного коэффициента ослабления. Видно, что даже при средних метрологических характеристиках метод ПРВТ превосходит традиционную радиографию по чувствительности к цилиндрическим дефектам примерно в 30 раз. [c.444]

Например, при оговоренных выше условиях с помощью ПРВТ в монолитном изделии диаметром 256 мм надежно обнаруживается трещина раскрытием до 0,025 мм, что соответствует относительной чувствительности контроля Wt, = 0,01 %. Эта уникальная чувствительность к произвольно ориентированным трещинам может быть еще более улучшена за счет увеличения экспозиции и толщины слоя или даже снижения [см. (135) и (139) ] предела пространственного разрешения. [c.445]

Томограммы 2 (рис. 22, в) иллюстрируют возможность определения предела пространственного разрешения и порогового контраста, а томограммы 1 позволяют определять уровень остаточных ошибок немонохроматичности излучения и их влияние на чувствительность контроля. [c.454]

Такие дефектоскопы различаются родом намагничивающих токов, мощностью и размерами контролируемых деталей. Длина детали определяется возможностью раздвижения контактных устройств (бабок), поперечные размеры зависят от мощности дефектоскопа и максимальной силы тока. В первом приближении можно считать, что максимальный диаметр контролируемой детали таков, что при максимальной силе тока дефектоскопа на поверхности детали напряженность магнитного поля достигает 80 А/м. Это не означает, что в отдельных случаях нельзя контролировать детали большего диаметра, например, когда магнитные характеристики материала детали позволяеот достичь наивысшей чувствительности контроля при меньшей напряженности намагничивающего поля. Известны десятки типов стационарных универсальных дефектоскопов. На рис. 9 показаны такие дефектоскопы. Технические характеристики приведены в табл. 7. [c.27]

ВОЛН 20—150 мм. При этом чувствительность к локальным дефектам оказывается низкой. Для ее увеличения частоту колебаний можно повысить до 600 кГц — для бетона толщиной 100—150 мм, до 400 кГц — для толщин до 200 мм и до 300 кГц—для толщин до 500 мм. При дефектоскопии крупных железобетонных конструкций иа низких частотах чувствительность контроля невысока, однако некоторые специфические дефекты, обусловленные недсброкачественной укладкой бетона, коррозионными разрушениями, воздействием огня или промерзанием, обнаруживаются достаточно четко. [c.314]

Ультразвуковая дефектоскопия (1987) -- [ c.33 , c.116 , c.118 , c.119 , c.125 , c.130 , c.130 , c.131 , c.131 , c.147 , c.147 , c.151 , c.151 , c.162 , c.163 , c.184 , c.194 , c.197 , c.201 , c.202 , c.213 , c.216 , c.226 ]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...