Параметры источников света

Световые параметры источников света измеряют с помощью специальных приборов—фотометров. [c.445]

Энергетические и материальные затраты на освещение определяются в основном типом и параметрами источника света, системой освещения, светотехническими и конструктивными характеристиками [c.32]

Осветительные установки проектируются и строятся на основе нормированных параметров источников света. Поэтому обеспечение по- [c.5]

Контроль нормированных параметров источников света и световых приборов осуществляется на основе государственных и отраслевых стандартов, а также технических условий на конкретные типы изделий. [c.6]

Интерактивное изменение материалов объектов и параметров источников света. [c.246]

В любой момент пользователь может изменить материал поверхности или параметры источника света — программа быстро обновит изображение. [c.247]

Щелкните дважды на пиктограмме инструмента для открытия диалогового окна Параметры источника света. [c.577]

Параметры источников света [c.206]

Кроме основного источника света (солнца) с помощью инструмента Источник света ( ф ) в проект могут быть введены дополнительные источники света из библиотек. Параметры источников света в основном идентичны параметра. объектов (рис. 7.10). Отличие заключается в наличии у источников света ряда уникальных управляющих элементов выключателя, позволяющего включать и выключать источник света, регуляторов цвета светового потока и его яркости. [c.206]

Рис. 7.10. Параметры источников света

Рис. 10.1. Диалоговое окно настройки параметров источника света

Настройка параметров источников света и их размещение [c.268]

Проведем незначительное усложнение модели. Пусть колебание каждого гармонического осциллятора (оптического электрона) состоит из "вспышек" средней продолжительностью т, следующих одна за другой в среднем через время т, причем от вспышки к вспышке фаза ф меняется хаотически (рис. 5.8). Тогда для суммарного колебания снова применимо соотношение Е = o( ) os(w< - (0]. но при вычислении необходимо учесть соотношение между т и т. Введенные параметры т и т имеют смысл средних величин и определяются физическими процессами в источнике света. [c.188]

Для дифракции сферической волны на круглом отверстии или длинной и узкой щели обычно указывают размер препятствия (радиус отверстия, ширину щели и т. д.) и длину волны к. Например, сравнивается картина дифракции световых и ультракоротких волн, длины волн которых различаются в 100 ООО раз. У читателя может создаться впечатление, что соотношение этих двух величин (длины волны и линейного размера препятствия) нацело определяет условия возникновения дифракционной картины от точечного источника. Эта ошибка, к сожалению, встречается очень часто. На самом деле необходимо учитывать третий параметр — расстояние от источника света до препятствия (или расстояние между препятствием и экраном, на котором наблюдается дифракционная картина). Ведь степень приближения к геометрической оптике связана с тем, сколько зон Френеля уложилось на данном препятствии. Если линейные размеры препятствия того же порядка, что и размер зоны Френеля (ска- [c.268]

В 14 указывалось, что волны, испускаемые атомами, сохраняют регулярность лишь в течение ограниченного интервала времени. Другими словами, в течение этого интервала времени амплитуда и фаза колебаний приблизительно постоянны, тогда как за больший промежуток времени и фаза, и амплитуда существенно изменяются. Часть последовательности колебаний, на протяжении которой сохраняется их регулярность, называется цугом волн или волновым цугом. Время испускания цуга волн называется длительностью цуга или временем когерентности. Пространственная протяженность цуга L длина цуга волн) и время когерентности Т связаны очевидным соотношением Ь = Тс, где с —скорость света. Если, например, средняя длина цугов волн, излучаемых некоторым источником света, равна по порядку величины 1 см, то время когерентности для этого источника света составляет величину порядка 0,3-10" с. Следовательно, в среднем через такие промежутки времени прекращается излучение одной регулярной последовательности волн, испускаемой источником света, и начинается излучение нового цуга волн с амплитудами, фазами и поляризацией, не связанными закономерно с соответствующими параметрами предшествующего волнового цуга. [c.93]

Многие источники света пространственно неоднородны. В наблюдаемую интенсивность линий вносит вклад излучение различных зон плазмы, каждая из которых характеризуется своими параметрами. Возникает задача нахождения параметров каждого отдельного слоя плазмы по наблюдаемой интенсивности. Решение этой задачи возможно в случае симметричных источников света. [c.234]

Важные в техникоэкономическом отношении работы по стандартизации будут осуществлены в области электротехники и энергетики. Стандартизуется электрооборудование на напряжение 750 кВ переменного тока и основные параметры электрооборудования на напряжение 1500 кВ постоянного тока. Начата разработка стандартов, предусматривающих увеличение мощности турбогенераторов и трансформаторов в одной единице, повышение требований к качеству источников света и осветительной арматуры, силовых конденсаторов, кабе-лей и электроизоляционных материалов, изоляторов, арматуры линий электропередачи с целью снижения удельных капитальных затрат на строительство электрических станций и сетей, снижения себестоимости электроэнергии, экономии цветных и дефицитных металлов на единицу мощности, повыщения надежности и долговечности электрооборудования. [c.99]

Для получения основных закономерностей, связывающих освещение фотодатчика с параметрами ориентируемой детали, рассматриваем приведенную выше (см. рис. , в) в виде примера плоскую деталь с круглым отверстием, несколько большим или равным диаметру фотодатчика (размерам светочувствительной площадки). На рис. 3 приведена схема расположения точечного источника света А относительно отверстия детали диаметром 2г и толщиной а. Кратчайшее расстояние от точечного источника света до поверхности светочувствительной площадки принимаем равным S, диаметр фотодатчика — 2q. Как видно из рис. 3, при определенном положении осветителя А на расстоянии у2 от края отверстия детали наклонный пучок света полностью закрывается. На основании герметиче- [c.212]

ЦАТ МФТИ также проводит разработку специализированного экспериментального оборудования для автоэмиссионных исследований компактный измеритель работы выхода электронов методом контактной раз>юсти потенциалов универсальный 128-канальный коммутатор специализированные системы управления дисплейных экранов системы измерения яркостных параметров экранов и источников света. [c.288]

Поддержка фотометрических форматов IES, IBSE и LTLI позволяет получать параметры источников света непосредственно от производителей. [c.247]

Пару слов о настройках. В секции LightType задаются параметры источника света тип его, цвет, интенсивность и счепень фокусировки. [c.147]

Вкладка Preview and Positioning (Просмотр и расположение) (рис. 10.2) позволяет устанавливать общие параметры источников света и содержит окно просмотра выбранного источника света [c.262]

Два отверстия Pj и Р2 в непрозрачном экране А также делят на два пучка световой поток, исходящий из щели S (см. рис. 6.48). Эти два пучка затем соединяются в точке Р, и в результате пространственной когерентности такой системы на экране В возникает интерференционная картина. Если для обеих установок апертура 2м интерференции одинакова, то для определения видимости интерференционной картины на экране В, получившейся при взаимодействии пучков света от отверстий Р] и Р2, можно воспользоваться формулой (5.35) для щелевого некогерентного источника света. Так как V = sinxA , где параметр X определялся отношением ширины щели 2а к ширине интерференционной полосы Л/ = kDi/d, то х = 2nadi /.Di) и видимость интерференционной картины [c.309]

Огромное разнообразие задач, решаемых с помощью фотоэлементов, вызвало к жизни чрезвычайно большое разнообразие типов фотоэлементов с различными техническими характеристиками. Выбор оптимального типа фотоэлементов для решения каждой конкретной задачи основывается на знании этих характеристик. Для фотоэлементов с внешним фотоэффектом (вакуумных фотоэле-.. ментов) необходимо знание следующих характеристик рабочая область спектра относительная характеристика спектральной чувствительности (она строится как зависимость от длины волны падающего света безразмерной величины отношения спектральной чувствительности при монохроматическом освещении к чувствительности в максимуме этой характеристики) интегральная чувствительность (она определяется при освещении фотоэлемента стандартным источником света) величина квантового выхода (процентное отношение числа эмиттированных фотоэлектронов к числу падающих на фотокатод фотонов) инерционность (для вакуумных фотоэлементов она определяется обычно через время пролета электронов от фотокатода к аноду). Важным параметром служит также темновой ток фотоэлемента, который складывается из термоэмиссии фотокатода при комнатной температуре и тока утечки. [c.650]

Управление режимом нагрунгения (деформирования) производится с помощью схемы реверса привода испытательной установки. Команда поступает от концевых переключателей, устанавливаемых на двухкоординатном приборе, при достин ении регулируемым параметром требуемой величины. Это осуществляется следующим образом. На пути каретки двухкоординатного прибора устанавливаются передвижные бесконтактные концевые выключатели. В качестве последних могут быть использованы, например, фотосопротивления ФСК-2. Когда шторка, расположенная на каретке прибора, закрывает какое-либо из фотосопротивлений от источника света, поляризованное реле РП-4 переполюсовы-вается. Реле включено в цепь управления реверсионного пускателя ЭП-41, меняющего направление вращения нагружающего двигателя. [c.224]

УСТОЙЧИВОСТЬ (движения — стабильность какой-либо характеристики движения во все время движения по отношению к малым возмущениям движения в его начале равновесия — малость отклонения механической системы от положения равновесия в моменты времени, последующие за малыми возмущениями равновесия системы системы—свойство системы возвращаться к состоянию равновесия после малых отклонений из этого состояния термодинамическая — устойчивость равновесия термодинамической системы относительно малых вариаций ее термодинамических параметров) УШИРЕНИЕ (доплеровское — увеличение ширины спектральных линий, вызванное движением источника света относительно его наблюдателя спектральных линий — увеличение ширины спектральных линий по отношению к естественной ширине ударное — уширение спектральньгх линий, вызванное взаимодействиями атомов и молекул с окружающими их частицами) [c.291]

В случае небольших угл. размеров источника света целесообразно вместо пространственно-временной с. в. к. рассматривать две — пространствениую когерентность IVia(0)l=Yi2 н временную когерентность IVii(t)I=v(t) с характерными параметрами — площадью когерентности и временем когерентности т . [c.396]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...