Наклонное падение и другие методы

Растровый метод. Если на испытуемую поверхность наложить стеклянную пластинку с нанесенными на ней близко друг от друга штрихами (т. е. с растровой сеткой), то при наклонном падении лучей отраженная картина растровой сетки накладывается на штрихи самой сетки и наблюдаются муаровые полосы. На основе этого явления предложена методика измерения высот неровностей и степени шероховатости с помощью растрового микроскопа. [c.115]

Наклонное падение и другие методы [c.238]

Мы изложили элементарные основы интерференционного оптического измерения толщин пленок. В действительности этот простой, казалось бы, метод осложняется вследствие влияния некоторых других, трудно учитываемых факторов, например наличия собственной окраски пленки, изменения условий интерференции вследствие наклонного падения [c.35]

Мы изложили элементарные основы интерференционного оптического измерения толщин пленок. В действительности этот простой, казалось бы, метод осложняется вследствие влияния некоторых других, трудно учитываемых факторов, например, наличия собственной окраски пленки, изменения условий интерференции вследствие наклонного падения лучей, наличия многократного внутреннего отражения луча в пленке и даже влияния степени аккомодирования (фокусировки) глаза наблюдателя. Все это понижает точность интерференционного метода и ограничивает его широкое применение. [c.32]

В последние десять — пятнадцать лет у нас в стране и за рубежом широкое развитие получили два прямых метода исследования задач дифракции. Один основан на приближенном решении строгого интегрального уравнения, полученного методами теории потенциала, а другой — на приближенном решении бесконечной системы обыкновенных дифференциальных уравнений с краевыми условиями на двух концах [47, 52, 206, 257, 258, 263 —265]. По эффективности эти методы эквивалентны методу частичных областей, приближенное решение обычно имеет относительную погрешность 2—5 %, а основные результаты в силу больших затрат машинного времени получены пока при 1/Х < 1,5, где I — характерный размер решетки. Построение строгого и эффективного решения задачи дифракции волн на эшелетте стало возможным благодаря использованию идеи частичного обращения оператора задачи. В [25, 58 при реализации этой идеи обращалась часть матричного оператора, соответствующая решетке из наклонных полуплоскостей [82, 83, 11, 112, 262]. Использование процедуры полуобращения в иной форме явилось предпосылкой для появления другого строгого метода [54, 266]. Ключевым моментом в нем является выделение и аналитическое обращение части решения, обеспечивающей правильное поведение поля вблизи ребер. Эффективности этих методов равнозначны, так как при одинаковых затратах машинного времени обеспечивают одинаковую точность окончательных результатов. Отметим, что применение метода работы [54] ограничено и пока не получило широкого развития на решетках другой геометрии, отличных от 90-градусного эшелетта. В то время как метод, развитый в [25, 58], привел к построению эффективных решений задач дифракции электромагнитных волн на эшелетте с несимметричными прямоугольными и острыми зубцами при произвольном падении первичной волны и любых соотношениях между длиной волны и периодом решетки. Результаты данной главы получены методом, приведенным в [25, 58]. [c.142]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...