Метод случайных секущих

Для количественной оценки кристаллической структуры применялся метод случайных секущих [4]. Магнитные свойства образцов измерялись баллистическим методом. Измерение твердости образцов осуществлялось по Виккерсу на приборе ТПП-10. [c.196]

На рис. 4.19 приведена схема определения относительной (к объему сплава) удельной поверхности методом случайных секущих в комбинации с точечным методом. Горизонтальные и вертикальные линии окулярной сетки принимаются за случайные секущие прямые. Точки пересечения их с поверхностью изучаемых частиц обозначены на рис. [c.199]

Рис. 4.19. Схема определения относительной удель-. ной поверхности методом случайных секущих в комбинации с точечным методом.

Для определения пользуются аналитическим методом случайных секущих и эмпирическим методом Кайзера. [c.45]

Метод случайных секущих. Если в пространстве системы проведено большое число прямых отрезков (секущих), расположенных беспорядочно и направленных случайно, то среднее число пересечений (/С) случайных секущих с поверхностями раздела зерен, отнесенное к длине секущей (L), будет пропорционально величине удельной поверхности [c.45]

Данные, полученные по методу случайных секущих и Кайзера, следует записать по форме (табл- 21) и сопоставить их. [c.46]

Метод случайных секущих С. А. Салтыкова [4, 5] [c.324]

Минимальное число точек пересечений, необходимое для получения относительной ошибки Еош с требуемой достоверностью при анализе методом случайных секущих [c.325]

Вариант 1. На электронной микрофотографии точечным методом определяют относительную площадь (равную относительному объему), занятую пограничными зонами. Методом случайных секущих находят удельную поверхность границ зерен. Действительную толщину пограничной зоны устанавливают как отношение первой из этих величин ко второй. [c.327]

Удельная поверхность зерен или структурных составляющих определяется по шлифу методом случайных секущих, предложенным С. А. Салтыковым. Ряд линий ( секущих ), случайно, но равномерно разбросанных по шлифу, пересекает линии границ зерен (или структурных составляющих) в ряде точек. Общее число точек пересечений, отнесенное к суммарной длине [c.111]

Точность линейного метода зависит от числа измеренных отрезков случайных секущих, прошедших через ту или иную фазу, от объемной доли фаз и их дисперсности и характера струк- [c.489]

Точность метода определения 5v с помощью случайных секущих зависит от соблюдения условий равной вероятности любой взаимной ориентировки секущих и системы поверхностей. В случае изотропной структуры это условие сводится к выбору достаточной протяженности одного случайного сечения, т. е. достаточно большого числа точек пересечения Р (табл. 4.14). При наличии ориентировки в структуре может возникнуть дополнительная погрешность из-за недостаточного числа сечений и систем секущих различной ориентировки. [c.87]

Точность определения остаточного аустенита описанным методом в ряде случаев превышает точность очень трудоемкого металлографического метода случайных секущих. По данным, приведенным в табл. 6, можно произвести сравнение точности обоих методов для стали, содержащей 1,07% С 1,5% Сг и 0,2% V, при закалке от различных температур. Заметим, что металлографический анализ неприменим для исследования количества остаточного аустенита в закаленной стали вследствие необходимости низкого отпуска для теинення мартенсита, а также при большой дисперсности зерен аустенита. [c.22]

Удельную поверхность порошка по шлифу (приготовленному по рекомендациям, данным в гл. 3) удобнее всего определять методом случайных секущих в комбич нации с точечным методом [7, с. 188]. Для проведения измерений шлиф помещают на предметный столик микроскопа и наблюдают его в окуляр с квадратной сеткой. Увеличение микроскопа, применяемое при анализе шлифа, зависит от дисперсности исследуемого порощка. [c.199]

При анализе методом случайных секущих удобно определять относительную по-грещность. Относительная погрещность определения 25 равна относительной погрешности определения числа т, которая может быть сделана сколь угодно малой путем увеличения числа точек пересечений (т. е. длины секущих). Относительную ошибку определения величины удельной поверхности рассчитывают по эмпирической формуле [c.325]

Количественное определение фазового соста-в а сплавов по методу, предложенному А. Розивалем, основано на следующем положении, вытекающем из принципа Ковальери если отрезки случайной секущей, проходящей через различные фазы сплава, выявленные на шлифе, находятся между собой в некоторых постоянных отношениях, то и соответствующие фазы находятся в тех же количественных отношениях. При этом указанные соотношения сохраняются и для отношений фаз в объеме шлифа (металла). Определение фазового состава методом А. Розиваля осуществляют следующим образом. На микрофотографии проводят серию случайных секущих постоянной длины и определяют суммарную длину отрезков, проходящих через соответствующие фазы. Далее определяют суммарную длину всех случайных секущих, проведенных на микрофотографии, и находят отношение суммарной длины отрезков, проходящих через соответствующую фазу, к суммарной длине всех случайных секущих. Это отношение и укажет на количество той или иной фазы как на плоскости шлифа, так и в его объеме. [c.489]

Су.ммарную длину линейных элементов структуры в единице объема металла измеряют методо.м случайных или направленных секущих плоскостей [5]. Метод случайных плоскостей позволяет определить суммарную длину дезориентирО Ван-яых в пространстве линий, примером которых могут служить ребра зерен изометрической однофазной полиэдрической структуры. Следами пересечений этих ребер с плоскостью шлифа являются узловые точки стыка трех смежных зерен, в которых сходятся три линии границ. В ряде участков, равномерно распределенных по всей площади шлифа, подсчитывают узловые точки, относят число их к той площади, на которой произведен подсчет. В результате получают среднее число узловых точек на 1 мм шлифа М, Суммарную про-гяженность линий ребер в единице объема металла находят по формуле [c.328]

Изложение метода спектральной прозрачности в главе, посвященной теории касательного зондирования, далеко не случайно. Дело в том, что если в геометрическей схеме этого метода положить г )о=я/2 (отсчет угла ведется от вертикали У в точке О рис. 3.11), то измеряемые в точке О интенсивности пропорциональны ехр —х 0 0) . Роль функции источника играет величина с[ К). Таким образом, фотометрические измерения вдоль секущих (то же самое трасс переменной длины) при необходимости могут быть выполнены оптическими системами космического зондирования. [c.184]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...