Аппаратура для измерения оптических длин волн

Аппаратура для измерения оптических длин волн [c.329]

Основной задачей рентгеновской спектроскопии в физике твердого тела является исследование энергетических уровней и оптических свойств веществ, что связано с точным измерением длин волн и формы спектральных линий. Методы исследований во многом аналогичны методам, применяемым в таких традиционных областях, как атомная и молекулярная спектроскопия. Спектральная аппаратура должна обладать максимально возможным спектральным разрешением и способностью работать в широком интервале длин волн (в идеальном случае — от не- [c.282]

Работа [1], является одной из первых работ по реализации метода оптического гетеродинирования. Авторами [1] был создан необходимый комплекс аппаратуры и успешно проведены его лабораторные испытания. К этому же периоду относится работа [5], в которой была построена и испытана в атмосфере аппаратура с гетеродинным приемником. Эксперимент строился по локационной схеме на длинах волн 0,63 и 1,15 мкм. В качестве гетеродинного использовалась часть излучения передатчика со сдвигом частоты. Сдвиг частоты опорного излучения составлял 340 кГц и осуш,ествлялся за счет отражения от движуш,егося уголкового отражателя. На трассах 2 и 11,9 км с помоп ью анализатора спектра наблюдался сигнал биений в полосе частот около 50 кГц. Большая ширина спектра сигнала промежуточной частоты (ПЧ) исключала возможность изучения спектра атмосферной турбулентности. Основным результатом работы является измерение мош,-ности сигнала биений, усредненной в течении 30 с в зависимости от диаметра апертуры. [c.66]

Умение точно измерять такие характеристики оптического волокна, как диаметры оболочки и сердцевины, числовая апертура и профиль показателя преломления, потери и дисперсия одинаково важно как для изготовителей волокна, которые хотят его использовать для контроля и управления характеристиками волокна, так и для разработчиков оптических систем связи, которым следует выбрать волокно, наиболее полно отвечающее поставленным требованиям. Чтобы обле-чить эти изменения, было предложено много методов и разработан-большое число достаточно сложной аппаратуры для их реализации. Часть этой аппаратуры создана для измерения характеристик волокна непосредственно в процессе его изготовления (в реальном времени), другая часто — для использования в процессе эксплуатации волокна в системе связи и, наконец, часть такой аппаратуры может быть использована только в лаборатории для исследовательских целей. Были предложены очень тонкие и сложные методы для определения профиля показателя преломления волокна и измерения его числовой апертуры в зависимости от длины волны. Хорошее описание многих из этих методов можно найти в более обстоятельных обзорах, таких как 14.1. .. 4.3], тогда как более подробный и специальный анализ вопроса при-веде н в 14.5] и 14.6]. Поэтому в данном параграфе не будем давать детального и исчерпывающего описания всех методов, а просто рассмот- [c.109]

К неразрушающим методам контроля относят визуальный осмотр, простукивание, тепловой, оптический, электрический, радиоволновый, радиационный, контроль проникающими веществами, ультразвуковой контроль. Наибольшее распространение получил последний метод, основанный на измерении длины волны, амплитуды, частоты или скорости распространения ультразвуковых колебаний в клеевом шве. По способу выявления дефектов среди методов ультразвукового контроля выделяют теневой, эхо-импульсный, импедансный, резонансный, велосимметрический, метод акустической эмиссии. Для реализации этих методов разработана соответствующая аппаратура (см. раздел 8). При контроле клееных сотовых конструкций с сотами из алюминиевого сплава и обшивками из ПКМ целесообразно применять несколько методов [100]. Акустический метод, например, с использованием импедансных дефектоскопов ИД-91М и АД-42И с частотной и амплитудной регистрацией колебаний соответственно эффективен для обнаружения отслоений сотового заполнителя от обшивки, а радиографический — для выявления повреждений сотового заполнителя и обшивки, а также для фиксирования мест заливки в соты пасты. [c.537]

Широкое использование полупроводниковых лазеров в оптической связи, аппаратуре для записи-считывания с компакт-дисков, лазерных целеуказателж делает весьма актуальной задачу совершенствования соответствуюш,ей оптики. Специфика оптических свойств полупроводниковых лазеров состоит, как известно, в суш,ествеп-ной асимметрии диаграммы направленности излучения, а также в весьма высокой числовой апертуре по одному из сечений пучка. Особую актуальность эта проблема приобретает при построении линий связи с использованием одномодовых волокон. В качестве источников излучения в волоконно-оптических системах связи используются, как правило, лазерные диоды или линейки лазерных диодов видимого или ИК-диапазона. На рис. 6.58 представлен результат измерения распределения интенсивности, формируемого лазерным диодом мощностью 5 мВт и длиной волны 0,67 мкм. [c.463]

Подробное описание методики и аппаратуры для проведения измерений спектральной степени черноты изложено в работе [6], поэтому здесь мы остановимся на нем коротко. Схема установки показана на фиг. 3. Трубчатый образец, обогреваемый электрическим током, помещали в вакуумируемую или заполняемую аргоном камеру. Спектр излучения от образца в области длин волн от 1 до 5,5 мкм регистрировали с помощью системы зеркал и инфракрасного спектрометра ИКС-12 с призмой из фтористого лития. Кроме того, на установке можно было измерить яркост-ную температуру излучения образца при длине волны Я = 0,65 мкм с помощью эталонного оптического пирометра ОП-48 и яркостную температуру для полного спектра специальным радиометром интегрального излучения. Можно было также измерить рассеиваемую элементом образца энергию путем измерения силы тока и падения напряжения на образце. Все радиационные измерительные приборы тарировались по черному телу, изготовленному из графитовой трубки, богреваемой электрическим током. Методика измерения спектральных интенсивностей излучения 7°° изложена в работе [6]. [c.124]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...