Дифракция проволоки

Поскольку с достаточной для практики точностью выражение (182) описывает также дифракцию Фраунгофера от таких объектов, как проволока, непрозрачные волокна, нити, полоски и др., которые можно рассматривать как дополнительные экраны к щели (и, следовательно, использовать принцип Бабине [23]), проведенный анализ полностью распространяется и на эти объекты, а полученные выводы являются общими и должны учитываться при разработке дифракционных измерителей размеров объектов произвольных форм. [c.255]

Мы видели, что решетка из проволок, стоящая на пути распространения ультразвуковых волн, приводит к появлению дифракции дифракционная картина за решеткой (рис. 175) меняется в зависимости от того, в каком отношении находятся длина ультразвуковой волны и расстояние между проволоками. Подобно этому оптическая штриховая решетка приводит к дифракции световых волн получающаяся за решеткой дифракционная картина различна для световых волн разной длины волны. Для белого света получается совокупность дифракционных картин каждой из световых волн, присутствующих в нем за решеткой образуется результирующая дифракционная картина в виде ряда окрашенных спектров. [c.285]

Получаемая картина аналогична дифракции ультразвука на решетке из проволок (рис. 175), где мы также можем видеть спектры 0-го, 1-го и 2-го порядков. [c.286]

В приборе для измерения диаметра тонких цилиндрических изделий (проволок, волокон и т.д.) (рис. 4, г) пучок излучения когерентного источника претерпевает дифракцию на изделии, и в плоскости сканера образуется дифракционное изображение изделия, соответствующее дифракции Фраунгофера. Дифракционное распределение интенсивности преобразуется в электрический сигнал, описывающий это распределение. Блок обработки электрического сигнала формирует прямоугольный импульс, длительность которого однозначно связана с расстоянием между выбранными минимальными точками дифракционного распределения. В приборе используется объектив, обеспечивающий величину дисторсии в пределах 0,2 % при смещениях объекта измерения в пределах 5 мм вдоль пучка излучения и 2,5 мм поперек пучка. Погрешность измерителя не превышает 0,5 % при смешениях объекта в указанных пределах. [c.494]

Особенно важен случай дифракции некогерентного света от линейного источника (например, светящейся проволоки) па щели, параллельной источнику. Для простоты предположим, что как светящаяся проволока, так и щель бесконечно длинны, и допустим, что ось у параллельна источнику. Так как q = т— —-то, где Ото определяет положение точечного источника, то интенсивность /, обусловленная линейным источником, получается интегрированием (1) по q, т. е. [c.363]

Распределение интенсивности графически представлено на рис. 167. Таким образом, нет резкой границы между светом и тенью в области геометрической тени интенсивность света убывает непре рывно и монотонно, а освещенная область расщепляется в дифрак ционные полосы. На рис. 168 показана дифракционная картина, наблюдаемая при дифракции света на крае экрана. Таким же путем можно рассчитать дифракционную картину на щели или длинном прямоугольном экране. На рис. 169 показана тень проволоки от точечного (или линейного) источника. [c.287]

Д. С. Рождественский указал, что непосредственной причйной появления ложных структур в опытах Аббе является дифракция света на экранируюи ей сетке. В отсутствие последней объектив дает геометрически подобное изображение объекта. Например, сетка из параллельных проволок изображается в виде системы параллельных полос. При введении экранирующей сетки эти полосы остаются на прежних местах. Но на них накладывается дифракционная картина, возникающая при дифракции света на экранирующей сетке. Если экранирующая сетка состоит из проволок, параллельных проволокам сетки-объекта, то возникнут дифракционные полосы, параллельные полосам в прежнем изображении сетки-объекта. При надлежащем периоде экранирующей сетки дифракционные полосы расположатся посередине между прежними полосами. Произойдет удвоение полос в изображении, как если бы проволоки в сетке-объекте были натянуты вдвое чаще. Так же, хотя и не столь просто, объясняется и появление диагоналей, когда объектом является квадратная проволочная сетка. [c.374]

Поскольку до недавнего времени считалось, что все загрязнения, в том числе и пленку окисла, можно удалить с поверхности вольфрамового образца простым нагреванием до температуры свыше 2600 К, то на измерения работы выхода вольфрама было затрачено больше усилий, чем на какой-либо другой материал. Вольфрам обладает также некоторыми другими преимуществами. Его твердость мало уменьшается при высоких температурах. Из-за большой энергии связи очень тонкое вольфрамовое острие способно выдерживать очень большие напряженности поля, прикладываемого в опытах по холодной эмиссии. Вольфрам образует большие монокристаллы просто за счет перекристаллизации проволок или лент, нагретых до температур, необходимых для очистки и дегазации. Однако наблюдением дифракции медленных электронов было установлено, что одну из растворимых примесей, а именно углерод, невозможно удалить с поверхности простым нагреванием. Это было показано Тейлором [35] и Стерном [36] соответственно для кристаллических плоскостей (И1) и (110). При обсуждении последующих данных следует всегда помнить, что приводимые значения работы выхода различных плоскостей вольфрама и любых других эмиссионных параметров поликристаллического вольфрама могут [c.219]

Если проволока получит некоторый положительный потенциал, то двойная призма перенесет влево ту часть изображения, которая расположена на правую сторону тени проволоки, и наоборот. В общей зоне, которая получается в результате дифракции, появляются интерференционные полосы двойной призмы. Порядок интерференции в каждой точке изображения определяется оптической разностью хода, вызванной действием двоЙ1ЮЙ призмы и разницей в оптической толщине двух соответствующих точек объекта. Следовательно, если фольга неоднородна, должны [c.17]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...