Интенсивность линий сверхтонких

При наблюдении сверхтонкой структуры спектральных линий спин ядра можно определить тремя способами подсчетом числа линий сверхтонкого расщепления, измерением интервалов между ними и сравнением их интенсивностей. [c.65]

В таких случаях спин ядра 1 может быть найден методом сравнения интенсивностей компонентов сверхтонкого расщепления. Интенсивность спектральной линии пропорциональна числу компонентов (2F -Ь 1), на которые расщепляется терм в магнит-ком поле . [c.68]

В общем случае ЯГР-спектр поглощения может быть сложным. Ниже рассмотрены основные параметры спектра число линий (сверхтонкая структура) спектра, положение центра каждой линии, ширина линии и ее высота, характеризующая интегральную интенсивность резонанса. [c.163]

В спектроскоп с большой дисперсией можно наблюдать две близко расположенные красные спектральные линии с длинами волн 694,3 и 692,9 нм. Интенсивность второй линии меньше, чем первой. При нашем схематическом описании наблюдаемых явлений мы не будем обсуждать ни эту подробность, ни сверхтонкую структуру каждой линии в отдельности и зависимость их длин воли от температуры. [c.785]

Хотя расщепление второго уровня в данном случае остается неразрешенным, оно все же сказывается в том, что более слабые компоненты сверхтонкой структуры несколько расширены. Это легко объясняется рассмотрением общей схемы расщепления линии ol, = /2 (Р с. 294), Расщепление уровня принимается более широким. Вертикальными линиями указаны переходы, соответствующие правилу отбора Д/ —О, 1. Относительные интенсивности сверхтонких компонент, вычисленные по формулам на стр. 523, имеют значения, приведенные в табл. 111. [c.527]

Таблица III Относительные интенсивности сверхтонких компонент линии при А = /2

Характерные особенности ЭПР — тонкая и сверхтонкая структура спектра. Тонкая структура спектра ЭПР проявляется в возникновении группы линий, положение и интенсивность которых сильно зависит от ориентации монокристалла во внешнем поле. Анализ спектра в этом случае сводится к вычислению элементов матрицы Линии ЭПР часто имеют [c.181]

Подсчитаем порядок интерференции, в котором работает система, имеющая, например, расстояние d = 5 мм. В соответствии с условием максимумов получим, что в этом случае для X = 500 нм и ф = 0 fe = 20 000. Свободный спектральный интервал АХ в этом частном случае равен 0,025 нм. Эта величина определяет требования к степени монохроматичности исследуемого излучения в пределах малого интервала АХ можно исследовать сверхтонкую структуру излучения или изучить собственную ширину спектральной линии в излучении разряда. На рис. 3.7.16 изображено распределение интенсивности в интерференционной картине и системе интерференционных колец. [c.205]

Наблюдения велись на линии Lull, — Dj, Х646зА. Так как для обоих термов У < /, то момент ядра / определялся по отношению интенсивностей сверхтонких компонент, измеряемых с помощью фотоэлектрической установки с эталоном Фабри и Перо. На рис. 298 приведена наблюденная сверхтонкая структура линии Х646зА, где а, Ъ, с — компоненты а А, В, С — компоненты [c.532]

Гамма-резонансный (ГР) спектр представляет собой зависимость интенсивности у-кван-тов, излученных источником и прошедших через поглотитель или рассеянных им, от относительной скорости источника или поглотителя. Основное достоинство получающегося спектра — чрезвычайно узкая линия поглощения (рассеяния). Отношение ширины линии к энергии излучаемого у-кванта, т. е. разрешающая способность, обычно составляет 10 — что в абсолютных величинах соответствует точности определения энергии 10 — 10 эВ. Возможность измерения столь малых энергетических сдвигов оказалась весьма полезной для изучения различных сверхтонких взаимодействий в твердых телах. Благодаря этому применение эффекта Мессбауэра положило начало развитию метода исследования твердых тел —ядерной гамма-резонансной (иногда просто гамма-резонансной) спектроскопии, метода ЯГРС или ГРС [3, 4]. [c.161]

Характерные особенности ЭПР — тонкая и сверхтонкая структура спектра, положение и интенсивность отдельных линий которого зависит от ориентации монокристалла во внешнем поле, а также от взаимодействия между -)лектронными и ядерными магнитными моментами. [c.188]

Сопоставление оптических и ЭПР-спектров Ag в твердом аргоне привело Озина [778, 49] к заключению, что уже у агрегации из трех атомов наблюдаемые линии ЭПР наилучшим образом описываются как спиновый резонанс электронов проводимости, характерный для массивного металла. При высокой концентрации серебра после отжига или процесса фотоагрегации образцы показывали спектры ЭПР, у которых оставались только слабые линии, соответствующие сверхтонким компонентам изолированных в матрице атомов Ag, но зато появлялась резонансная линия, обусловленная свободными электронами ( =2,0), интенсивность которой зависела от условий приготовления и обработки образцов. Согласно более ранним исследованиям СРЭП (см., например, [6, 81) этот резонанс, по-видимому, составлен двумя вкладами 1) совокупностью острых линий, связанных с агрегациями скорее молекулярного, чем металлического, типа п — 4-н [c.271]

Использование приборов высокой разрешающей силы отнюдь не исчерпывается издгерением длин волн компонентов, составляющих тонкую или сверхтонкую структуру спектральных линий. Многие физические задачи требуют знать распределение интенсивности внутри одиночной линии или хотя бы ее полуширину, а в [c.217]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...