Бетатрон Схема

Рис. 21. Схема устройства бетатрона.

Рис. 6.14. Схемы ускорителей электронов линейного (а), бетатрона (б), микротрона (в)

Рнс. 31. Схема ускорителей и — линейный ускоритель б — бетатрон й — микротрон I — камера [c.298]

Блок-схема бетатронного дефектоскопа и схема прохождения у-лучей приведены на рис. 1. [c.311]

Рис. 1. Блок-схема бетатронного дефектоскопа

Схема устройства бетатрона приведена на рис. 2. Ускоряемые частицы (электроны) движутся в кольцевой ваку- [c.247]

Фиг. 47. Схема и разрез бетатрона.

Ф и г. 51. Схема питания электромагнита бетатрона. [c.91]

Рис. 5. Схема работы бетатрона

Особенностью бетатронной дефектоскопии является необходимость применения дифференциальных схем измерения мощности излучения бетатрона. Этот метод увеличивает чувствительность дефектоскопа к выявляемости дефектов. [c.116]

Для получения максимальной чувствительности дефектоскопа к выявляемости дефектов необходимо построить схемы измерения, обработки и регистрации импульсов излучения бетатрона так, чтобы оба канала дифференциального дефектоскопа были идентичными. [c.116]

Нестабильность во времени мощности дозы и энергии излучения бетатрона в значительной степени компенсируется применением схем стабилизации для управления режимом работы ускорительной установки и выбором дифференциальной схемы контроля. [c.119]

В данной схеме форма импульсов, снимаемых с анодных нагрузок ФЭУ, не влияет на нор.мальную работу дефектоскопа при нестабильном излучении бетатрона. [c.122]

Основные эксплуатационные характеристики дефектоскопа ИСД-3 такие же, как и у дефектоскопа ИСД-2, но он более надежен в работе при нестабильно работающей бетатронной установке, что достигнуто применением более совершенных электронных схем блока обработки информации. [c.122]

Широкое распространение в бетатронной и рентгеновской дефектоскопии получили схемы, основанные на измерении разности усредненных с помощью диодов и интегрирующих звеньев импульсов первого и второго сцинтилляционных детекторов (рис. 7). [c.106]

Бетатроны 259 - Определение 259 - Схема ускорителей 260 [c.469]

В связи с тем, что практически невозможно поддерживать стабильность эффективности регистрации детекторов и выхода излучения (у бетатронов), погрешности результатов измерения уменьшают, используя дифференциальные схемы. Контролируемое изделие просвечивают двумя узкими пучками, излучение регистрируется двумя датчиками, напряжение на которые поступает от одного блока питания. Сравнивающее устройство выделяет разность сигналов обоих детекторов. [c.132]

При реализации дифференциального и компенсационного методов контроля могут быть использованы различные схемы измерения. Наиболее простой способ обработки информации сцин-тилляционных детекторов основан на применении вычитающей схемы в среднетоковом варианте (рис. 6). Однако схемы измерения среднего тока ФЭУ, являясь в болыпинстве случаев оптимальными для дефектоскопии радиоактивными изотопами в случае исполь-. зования бетатрона, неэффективны ввиду их низкой помехоустойчивости. [c.377]

Широкое распространение в бетатрон-ной и рентгеновской дефектоскопии получили схемы, основанные на измерении разности усредненных с помощью диодов и интегрирующих звеньев импульсов первого и второго сцинтилля-ционных детекторов (рис. 7). Существенным недостатком этих схем является необходимость выбора параметров интегрирующих звеньев строго одинаковыми. В противном случае при нестабильно работающем ускорителе точность определения степени дефектности контролируемого изделия не люжет быть высокой. Этот недостаток устраняется при сравнении амплитуд импульсов сцинтилляционных детекторов, пропорциональных дозе в импульсе излучения с их предварительным преобразованием, которое осуществляется с помощью зарядного устройства и ключа (рис. 8). Управление ключом производят таким образом, чтобы длительность получаемых импульсов равнялась половине периода следования импульсов излучения. Благодаря предварительному преобразованию формы импульсов сцинтилляционных детекторов повышаются быстродействие и помехоустойчивость дефектоскопов как при вычитающей схеме, так и при схеме измерения отношения. [c.378]

Из-за нестационариости процесса на выходе детектора в бетатронном дефектоскопе рекомендуется статистически обрабатывать сигнал с выхода схемы отношений амплитуд двух каналов. Учитывая, что амплитуды импульсов на выходе схемы отношений можно считать независимыми от изменений параметров дефектоскопа, в этом случае схемы обработки информации строят на принципах обнаружения сигнала по критериям знаков Вил консона,Смирнова и другим статистическим тесгам, устойчивым к изменению закона распределения сигияля (рис. 12 и 13). [c.380]

Чтобы еще больше снизить вес электромагнитов, американский физик Поллок предложил скомбинировать синхротрон с первоначальным бетатроном. Если бы мы могли вводить в ускоритель электроны, уже обладающие скоростью, близкой к скорости света, то радиус их орбиты в синхротроне практически был бы неизменным, что значительно уменьшило бы величину кольцевого электромагнита, характерного для этого способа ускорения электронов. Можно легко довести энергию электронов до 2 Мэв, а затем перевести их в синхронный режим ускорения и довести их энергию до 500 Мэв. В США существуют колоссальные ускорители, называемые беватронами, или космотронами, в которых с помощью комбинации электростатических ускорителей и синхротронов получают частицы с энергией в несколько миллиардов электрон-вольт На фиг. 68 показана схема такого прибора. [c.101]

Индукционным ускорителем электронов является бетатрон. В основу его устройства положено явление возникновения в пространстве вихревого электрического поля под влиянием переменного магнитного поля (П1.5.3.3°). На рис. VI.4.10 изображена схема бетатрона. Между полюсными наконечниками Л и С сильного электромагнита помещается вакууми-рованная кольцевая ускорительная камера О, имеющая форму замкнутого кольца. Ось камеры совпадает с осью симметрии 00 полюсных наконечников электромагнита. Изменение силы тока в обмотке электромагнита вызывает в пространстве между полюсами электромагнита изменение магнитного поля и возникновение вихревого электрического поля. Магнитное поле симметрично относительно оси 00. Линии напряженности вихревого электрического поля (111.1.3.5°) в плоскости МЫ, перпендикулярной к оси 00 и проходящей через середину зазора между полюсами, имеют вид окружностей, центры которых находятся в точке К. Напряженность Е электрического поля по модулю одинакова во всех точках каждой окружности. [c.502]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...