Приставка гониометрическая

Высокотемпературная приставка монтируется на столик гониометрического устройства дифрактометра УРС-50И (на место держателя образца). [c.166]

Гониометрическая приставка ГПД предназначена для работы в режиме двойного кристалл-спектрометра с дифрактометром ДРОН-2,0 для съемки кривых отражения, Приставка состоит из монохроматора и держателя образца, точность отсчета угла поворота образца достигает 1" в угловом диапазоне до 45, выбираемом в любом месте интервала от О до oG0°, [c.494]

Пределы измерения углов дифракции от —90 до -f 164°, точность измерения углов дифракции 0,005° размеры истинного фокуса рентгеновских трубок 1X12 мм (трубка БСВ-12) 0,04X8 мм (трубка БСВ-14) потребляемая мощность источников питания 2 кВт, максимальное напряжение на рентгеновской трубке 50 кВ, максимальный ток рентгеновской трубки 60 мА стабилизация высокого напряжения и анодного тока при одновременной работе двух трубок при колебаниях сетевого напряжения в пределах 7% от номинала поддерживается с точностью 0,1% суммарная ошибка измерения интенсивности за 10 ч работы не более 0,5%. В комплект установки входят высоковольтный источник питания ВИП-2-50-60 стойка с защитным кожухом рентгеновской трубки и механизмом юстировки гониометрическое устройство ГУР-5 с приставками для вращения образцов в собственной плоскости для исследования преимущественных ориентировок кристаллов (текстур) в поликристаллах, для получения полного набора интегральных интенсивностей от монокристаллов, для съемки неподвижных образцов измерительно-регистри-рующее устройство ЭВУ-1-4 устройство для вывода информации с цифропечатающим устройством и перфоратором, блок автоматического управления трубки рентгеновские БСВ-12 и БСВ- 4, блоки детектирования сцинтилляци-онные БДС-6, блоки детектирования пропорциональные БДП-2. [c.10]

Позже была разработана приставка ГПВТ-1500 (рентгеновская гониометрическая высокотемпературная приставка). Она предназначена для работы в комплекте с рентгеновскими гониометрами УРС-50 и ДРОН-1. Приставка позволяет производить рентгенографирование образцов в виде порошков и пластин с рабочей поверхностью размерами 10 X 12 мм и толщиной до 1 мм в диапазоне температур от комнатной до 1500° С в вакууме и до 1200° С в воздухе и в атмосфере инертного газа. При колебаниях образца колеблется только ось держателя, что уменьшает нагрузки на кинематические узлы гониометра. [c.81]

Для получения таких картин, которые можно интерпретировать как изображения кристаллических структур, следует соблюсти некоторые условия [1001. Падающий пучок должен быть направлен вдоль главной оси кристалла с точностью до долей градуса, что достигается использованием прецизионной гониометрической приставки для образцов. Толщина кристалла не должна превышать 100—200 А (некоторые исключения приведены ниже). Микроскоп должен быть недофокусирован на величину, приблизительно равную оптимальной дефокусировке для слабофазового объекта (в данном случае 900 А). Отклонения фокусного расстояния на величину свыше [c.302]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...