Кристаллы-монохроматоры плоские

В таблице приведены данные о свойствах монокристаллов различных соединений, применяемых в качестве плоских и изогнутых монохроматоров [12]. Для облегчения выбора кристалла при исследовании различных специальных вопросов приведены данные о характеристиках отражения, свойствах кристалла и некоторых областях применения. Обозначения в графе интенсивность максимума сл.— слабая, ср.— средняя, с.— сильная, оч. с.— очень сильная. [c.77]

Рис. 3. Схемы расположения узлов основных типов рентгеновских камер для исследовании поликристаллов а — дебаевская камера 6.—фокусирующая камера с изогнутым кристаллом-монохроматором для исследования образцов на просвет (область передних углов дифракции) в — фокусирующая камера для обратной съёмки (большие углы дифракции) на плоскую кассету. Стрелкам показаны направления прямого и дифрагирог ванного пучков. Механизмы движения образца, установки камеры у рентгеновской трубки и защита от рассеянного излучения на схеме не приведены. О — образец Г — фбкус рентгеновской трубки М — кристалл-монохроматор К — кассета с фо-, топлёнкой Ф Я — ловушка, перехватывающая первичный пучок ФО — окружность фокусировки дифракционных максимумов КЛ — коллиматор МЦ — механизм центрировки образца.

В ряде задач Р. к. применяются совместно с монохроматорами рентгеновского излучения. Монохроматор является или конструктивно отдельным узлом, или вводится в конструкцию камеры. В качестве кристалл-монохроматоров применяют плоские и изогнутые (постоянный или переменный радиусы изгиба) кристаллы [3]. Кроме изгиба по цилиндрич. поверхности (сходимость лучей в линию), применяют точечные монохроматоры (сходимость в точку), что достигается комбинацией двух цилиндрических монохроматоров или кристаллом двойной кривизны (рис. И). Изогнутые кристалл-мо-нохроматоры эффективно применяют в фокусирующих методах съемки. [c.421]

В таблице приведены характеристики некоторых кристаллов, применяемых в качестве плоских монохроматоров. Величина акс — максимальная величина отношения интенсивностей монохроматизированного излучения для асимметричного и симметричного методов съемки — может быть определена из соотношения [c.79]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...