Контроль электрофизических параметров

Наибольшее распространение находят методы контроля электрофизических параметров. При контроле электрофизических параметров полупроводниковых приборов и, в первую очередь, интегральных микросхем перспективным направлением является контроль характеристик тестовых структур, специально создаваемых в процессе производства полупроводниковых приборов. [c.475]

Контроль электрофизических параметров а и у специальных жидкостей, от которых зависит поглощение и рассеяние СВЧ энергии, принципиально возможен лишь в указанном диапазоне. [c.179]

При выращивании крупных монокристаллов основные технические трудности связаны с реализацией методов достоверного контроля и поддержания температуры и давления в реакционной зоне ячейки высокого давления. Дополнительные сложности вызывает то, что параметры и Т меняются в процессе роста алмаза, поскольку фазовый переход Г А сопровождается уменьшением удельного объема (в 1,5 раза), а также изменением электрофизических свойств шихты. [c.454]

Для предварительной настройки и установки уровня сортировки необходимо подобрать контрольный образец, в качестве которого, как правило, используют одну из годных деталей испытуемой партии. Таким образом, работа прибора, по существу, сводится к определению разности в магнитных свойствах и удельной электрической проводимости материалов контролируемой детали и образца. В том случае, когда имеется однозначная связь контролируемого параметра с электрофизическими характеристиками материала, возможен объективный контроль физико-химических свойств изделий. [c.416]

Таким образом, широкий спектр радио поглощающих материалов и покрытий приводит к необходимости применения специализированных приборов и сложных методик контроля их электрофизических, а также физико-механических параметров. [c.8]

В сравнении с известными емкостными и индуктивными датчиками контроля [4] предлагаемые методы и преобразователи (табл. 2.3) позволяют на два-три порядка повысить локальность измерений, которая будет определяться поперечными размерами приемного вибратора (порядка м) и получить значительно меньшую погрешность определения электрофизических и теплофизических параметров. [c.110]

Дмитриев Д.А,, Федоров П.П., Федюнин П,А,, Русин В,А, Поверхностные волны и микроволновые устройства контроля электрофизических параметров магнитодиэлектрических покрытий па металле / Под ред. П.П. Федорова. М. Издательство Машиностроение-1 , 2004. 196 с. [c.129]

ПОВЕРХНОСТНЫЕ ВОЛНЫ И МИКРОВОЛНОВЫЕ УСТРОЙСТВА КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ МАГНИТОДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ ПА МЕТАЛЛЕ [c.1]

Производство специальных композиционных материалов и контроль качества готовой продукции требует определения электрофизических параметров гетерогенных дисперсных конденсированных (твердых и жидких) сред с потерями, важнейшим из которых является диэлектрическая 8, магнитная х проницаемости и удельная проводимость у. Эти величины связаны с прочими физико-химическими и физико-механическими параметрами, определяющими состав и свойства специальных сред, примером которых могут служить гетерогенные смеси с ферромагнитными (магнитодиэлектрическими) частицами - ферромагнитные поглощающие твердые покрытия и ферромагнитные жидкости (ФМЖ), применяемые в технологиях специальных покрытий летательных аппаратов (ЛА). [c.7]

Анализ существующих методов и устройств контроля электрофизических и физико-механических параметров радиопоглощающих и неотражающих материалов позволил установить основные недостатки, сужающие возможность их применения для измерения величин диэлектрической и магнитной проницаемости в требуемом миллиметровом и сантиметровом диапазоне СВЧ, в связи с зависимостью этих величин от частоты измерения и нелокально стью измерений высокая чувствительность к переменной величине зазора между поле образующими поверхностями проводящих элементов и сканируемой поверхностью, а также невозможность пространственного разделения функций возбуждения полей и сканирования результатов их взаимодействия с измеряемым слоем покрытия. [c.29]

С целью повышения живучести Л А за счет нанесения специальных защитных неотражающих покрытий используются новые композиционные материалы. Для отработки технологии их производства, контроля показателей качества готовой продукции возникает необходимость определения электрофизических параметров дисперсных жидких сред, важнейшими из которых являются диэлектрическая 8а и магнитная ц проницаемости и удельная проводимость у. Эти параметры связаны с другими физикохимическими и механическими характеристиками, определяющими состав и свойства жидких сред. Примером таких специальных жидкостей, как уже ранее отмечалось, являются гетерогенные жидкие смеси с ферромагнитными частицами - ферромагнитные жидкости, применяемые в технологиях специальных покрытий летательных аппаратов и изделий СВЧ техники локации и навигации. Важнейшим параметром ферромагнитной жидкости является концентрация частиц твердой фазы. К примеру, оптимальная концентрация СВЧ-феррита радиопоглощающих и переотражающих покрытий ЛА обеспечивает согласование со свободным пространством и нужную степень поглощения электромагнитной волны, что обеспечивает повышение боевой живучести ЛА в воздухе. [c.179]

Существующие методы и устройства контроля электрофизических и физико-механических параметров радиопоглощающих материалов и покрытий обладают недостаточными возможностями в области измерения величин диэлектрической и магнитной проницаемостей, а также волнового сопротивления покрытий в диапазоне СВЧ, что делает актуальной задачу разработки СВЧ методов сканирования диэлектрической и магнитной проницаемостей, а также волнового сопротивления по большим поверхностям и их технической реализуемости. [c.191]

С помощью дифференциальных ВТП самосравнения можно резко повысить отношение сигнал/помеха в дефектоскопии. При этом обмотки преобразователя размещают так, чтобы их сигналы исходили от близко расположенных участков контроля одного объекта. Это позволяет уменьшить влияние плавных изменений электрофизических и геометрических параметров объектов. При использовании проходных преобразователей с однородным магнитным полем в зоне контроля значительно уменьшается влияние радиальных перемещений объекта. Применяя экранные накладные преобразователи, можно практически исключить влияние смещений объекта между возбуждающей и измерительной обмотками. Преобразователи с взаимно перпендикулярными осями обмоток (см. рис. 1, г) нечувствительны к изменению электрофизических характеристик однородных объектов. При нарушении однородности объекта, на- [c.86]

Непроизводительные и дорогостоящие механические, металлографические и химические испытания можно заменить неразрушающим вихретоковым контролем только при установлении корреляционных связей между физикохимическими свойствами материала и сигналами ВТП. Эти связи проявляются через электрофизические свойства материала, т. е. через удельную электрическую проводимость о и магнитные характеристики. Поэтому при решении вопроса о возможности контроля того или иного параметра вихретоковым структуроскопом необходимо знать, влияет ли этот параметр на магнитные свойства и о материала. Вихретоковыми структуроскопами можно измерить мгновенное значение несинусоидального напряжения ВТП при перемагничивании стали в сильных переменных магнитных полях либо амилитуду и фазу одной из гармоник напряжения ВТП при перемагничнва-нии объекта в сильных или слабых полях. Чтобы уменьшить влияние на показания приборов ряда мешающих факторов, необходимо разработать по- [c.152]

I Большое влияние на технологию оказывают также качественные изменения конструкций машин. Особое развитие в машинах получили автоматизированные приводы, а также системы контроля и регулирования. Возросли рабочие параметры машин, а вместе с ними — силовые, скоростные и тепловые нагрузки на детали. При изготовлении современных машин все шире применяют новые, обычно труднообрабатываемые материалы.j усложнением конструкций и увеличением нагрузок на детали проблема качества их изготовления и высокой надежности выпускаемых машин стала одной из основных в технологии машиностроения. Все это потребовало более глубокого изучения и совершенствования сущ,ествующих, а также разработки новых, высокоэффективных методов и процессов обработки. Появились новые виды инструментальных материалов, освоен выпуск и находят все большее применение синтетические сверхтвердые материалы (алмазы и кубический нитрид бора), большое развитие получили методы отделочно-упрочняюш,ей обработки, расширяется применение электрофизических и электрохимических способов обработки. [c.3]

Непроизводительные и дорогостоящие механические, металлографические и химические пспытания можно заменить неразруихающпм электромагнитным контролем только прп установлении корреляционных связей между физико-химическими свойствами материала и сигналами преобразователя. Эти связи проявляются через электрофизические свойства материала, т. о. через удельную электрическую проводимость а и магнитные характеристики. Поэтому при решении вопроса о возможности контроля того или иного параметра электромагнитным структуроскоиом необходимо знать, влияет ли этот параметр на магнитные свойства и а материала. [c.150]

С помощью дифференциальных ВТП самосравне-ния можно резко повысить отнощение сигнал/помеха в дефектоскопии. При этом обмотки преобразователя размещают так, чтобы их сигналы исходили от близкорасположенных участков контроля одного объекта. Это позволяет уменьшить влияние плавных изменений электрофизических и геометрических параметров объектов. При использовании проходных преобразователей с однородным магнитным полем в зоне контроля значительно уменьшается влияние радиальных перемещений объекта. Применяя экранные накладные преобразователи, можно практически исключить влияние смещений объекта между возбуждающей и измерительной обмотками. Преобразователи с взаимно перпендикулярными осями обмоток (см. рис. 1, г) нечувствительны к изменению электрофизических характеристик однородных объектов. При нарушении однородности объекта, например при появлении трещин, на выходе такого преобразователя возникает сигнал. Аналогично работают и комбинированные преобразователи (см. рис. 4, а, б). Они также могут быть применены для дефектоскопии. Их недостаток заключается в сильном влиянии перекосов осей преобразователей относительно поверхности объектов контроля. [c.373]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...