Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Системы с исправленной кривизной поля

Рис. 20.4. Система с исправлением кривизны поля с помощью задней концентрической линзы Рис. 20.4. Система с исправлением <a href="/info/166295">кривизны поля</a> с помощью задней концентрической линзы

Рис. 20.8. Двухлинзовые системы с исправлением кривизны поля с помощью концентрической поверхности позади базовой линзы а - Б (ка) + К (ко) б — Б (ка) + К (Кб) Рис. 20.8. Двухлинзовые системы с исправлением <a href="/info/166295">кривизны поля</a> с помощью концентрической поверхности позади базовой линзы а - Б (ка) + К (ко) б — Б (ка) + К (Кб)
Добавление элемента К (кб) приводит к трем системам с исправленной кривизной поля, которые тоже можно отнести к группе систем с одиночным базовым элементом, корригированных на астигматизм, кому и кривизну поля.  [c.397]

Зависимость центрального экранирования зрачка от увеличения зеркальной системы и расстояния между вершинами зеркал типов В и В. Зеркальная система типа В, изображенная на рис. V.58, не может применяться как самостоятельная система в качестве объектива микроскопа, так как она дает очень малое увеличение. Однако ее применение с линзовыми компонентами позволяет разработать объективы микроскопа с исправленной кривизной поля и 0 0,3. Заданная величина 6 в системе типа В обеспечивается следующим соотношением высот (рис. V.58)  [c.198]

Условием использования концентрической линзы для исправления кривизны поля является совмещение общего центра ее поверхностей с центром зрачка выхода предшествовавшей системы. Такая картина представлена на рис. 19.8. Главные плоскости концентрических линз совпадают с общим центром их поверхностей это позволяет рассматривать концентрическую линзу как расположенную непосредственно в центре выходного зрачка. Поэтому расстояния от центра зрачка до изображения от предшествующей системы по оси и вдоль главного луча можно рассматривать как предметные расстояния So и s для концентрической линзы.  [c.363]

К числу двухлинзовых базовых систем, корригированных на астигматизм и кому, можно было бы условно присоединить и системы одиночных базовых линз в сочетании с коррекционными элементами, не обеспечивавшими полного исправления кривизны поля. К таким системам могут быть отнесены системы, построенные из четырех одиночных базовых элементов с концентрической наружной поверхностью с добавлением плоско-вогнутой коррекционной линзы К (ок) впереди.  [c.397]

Рассмотрим оптические системы с двумя силовыми линзами, используя результаты, полученные в предыдущем параграфе, в котором установлено 13 двухлинзовых систем, у которых обеспечивается одновременно устранение астигматизма и комы. Будем вводить в эти системы различные коррекционные элементы для исправления кривизны поля.  [c.401]


В эти системы не включены системы с концентрическими менисками, которые обеспечивают не только исправление кривизны поля, но и сферической аберрации.  [c.415]

В компенсационных системах с достаточно большим числом свободных параметров легко произвести перестройку одной системы в другую, что затрудняет четкое их разделение. Нередко компенсационные системы приводят и к системам с использованием концентрических и апланатических поверхностей и коррекционных элементов, обеспечивающих исправление кривизны поля.  [c.419]

Из формулы (755) видно, что прирост сферической аберрации по полю зрения мало зависит от величины с( рической аберрации на оси системы член, содержащий коэффициент А, определяет переход от окружности радиуса к окружности радиуса Я. Особый интерес представляет член, выраженный единицей он определяет прирост сферической аберрации, происходящий вследствие исправления кривизны поля. При исправленном астигматизме, когда кривизна поля подчиняется условию Пецваля, ее величина определится по следующей приближенной формуле  [c.207]

Рассматривая этот случай, можно получить приближенное условие, соблюдение которого необходимо (но недостаточно ) для исправления кривизны поля в оптических системах с полем зрения конечных размеров.  [c.255]

Это делает возможным составление симметричной системы из двух таких менисков с аномальными склейками, исправленной на астигматизм, кому и кривизну поля.  [c.420]

При соответственном выборе положения выходного зрачка подобные отрицательные мениски будут обладать более или менее исправленным астигматизмом и положительной кривизной поля. Это позволяет в качестве последующей системы — собственно объектива — использовать оптические системы с соответственной отрицательной кривизной поля зрения и возможностью варьирования астигматизма, комы, и других аберраций.  [c.460]

Апохроматические объективы представляют собой оптические системы, обеспечивающие лучшее исправление сферической аберрации, астигматизма и комы, по сравнению с ахроматами. Кроме того апохроматы отличаются от ахроматов улучшенной хроматической коррекцией, устраняющей вторичный спектр. Однако апохроматы дают более заметную кривизну поля изображения, что приводит к нерезкости последнего по краям. Кривизна поля частично или полностью устраняется применением компенсационных окуляров. При работе с этими объективами большое значение приобретает центрировка всей оптической системы микроскопа. Изображение поля с помощью апохроматов получается выпуклым, лишенным плоскостности. По конструкции они более сложные, чем ахроматы, и имеют меньший интервал фокусных расстояний (рис. 2.9).  [c.47]

Отсюда вытекает следующая теорема, имеющая большое практическое значение при исправлении первых I аберраций третьего порядка аберрация с номером I Ч- 1 (при изложенной выше системе нумерации аберраций) не зависит от положения входного зрачка. Например, если исправлена сферическая аберрация, то нельзя использовать положение входного зрачка для устранения комы еслн и сферическая аберрация и кома исправлены, то астигматизм и кривизна поля не зависят от положения входного зрачка.  [c.105]

При решении системы уравнений, определяющих параметры Р,, 1(7, (и Я(), могут встретиться различные случаи. Во-первых, может оказаться, что число неизвестных меньше, чем число уравнений. Ясно, что в таком случае приходится пренебречь исправлением какой-нибудь нз аберраций, причем выбор отбрасываемых аберраций должен быть выполнен с большой осторожностью необходимо принять во внимание условия применения оптической системы и те цели, для которых она предназначена. Например, при расчете биноклей обычной конструкции не хватает параметров для устранения кривизны поля (см. стр. 342) и еще какой-нибудь одиой аберрации поэтому обычно отказываются от исправления дисторсии, так как небольшое искажение формы предметов и отклонение от их правильного положения не имеют особого значения для системы, ие предназначенной для измерительных целей. В астрономических объективах не пытаются исправлять ни астигматизма, ни дисторсии, так как в этом случае важно хорошее качество изображения только на оптической оси системы и в непосредственной близости к центру поля зрения.  [c.348]


Рис. 20.2. Двухлинзовые системы с исправлением кривизны поля с помощью близфокальной линзы а — Б (ок) -j- К (бо) б — Б (кк) - -+ К (бо) в — Б (ка) + К (бо) Рис. 20.2. Двухлинзовые системы с исправлением <a href="/info/166295">кривизны поля</a> с помощью близфокальной линзы а — Б (ок) -j- К (бо) б — Б (кк) - -+ К (бо) в — Б (ка) + К (бо)
Вместе с тем можно избежать возникновения кривизны поля, если воспользоваться для этой цели телекон-центрическими системами. Одна из систем подобного рода была рассмотрена в случае исправления кривизны поля у плоско-выпуклой линзы Б (ок), превращенной в телескопическую систему вида  [c.470]

КРИВИЗНА ПОЛЯ изображения, одна из аберраций осесимметрич. оптич. систем заключается в том, что изображение плоского предмета получается резким не в плоскости, как должно быть в идеальной системе, а на искривлённой поверхности. Если преломляющие поверхности линз, входящих в состав системы, сферичны с радиусами кривизны г к — номер по-верхности по ходу луча света) и, кроме того, в системе исправлен ас-тигматизм, то изображение плоскости, перпендикулярной оптической оси системы, представляет собой сферу ра диуса Л, причём  [c.318]

При углах в пределах 3—10° пригодны двухкомпонентные системы типа телеобъективов, в которых второй компонент, расположенный приблизительно посередине между первым компонентом и фокусом, обладает отрицательной силой и большой толщиной, благодаря чему исправляет Зщ и Sjv всего объектива. У таких объективов относительное отверстие, даже при сложном многолинзовом первом компоненте, не превышает 1 2. Эта задача также может быть решена с помощью двух положительных компонентов, расставленных на сравнительно большое расстояние друг от друга. Весь объектив может быть исправлен в отношении первых трех сумм, но сумма Sjv велика и превышает обычно единицу. Поэтому для уменьшения кривизны придают 5ш отрицательное значение (до —0,3) из-за астигматизма угол поля не может превысить 8—10°, а относительное отверстие может быть близким 1 1. Этот тип объектива был предложен Пецвалем более ста лет назад его конструкция позволяла прн относительном отверстии 1 3,5 добиться угла поля, близкого к 25° (при посредственном качестве изображения на краю поля).  [c.328]

Если подлежащая окончательной корректировке система обладает не очень малым полем зрения, оказывается недостаточным исправление одной только сферической аберрации, а требуется учесть еще и аберрации наклонных пучков. Используя деформацию двух поверхностей, можно, как правило, полностью исправить две аберрацнн, например сферическую аберрацию и кому илн сферическую аберрацию и астигматизм (напомним, что кривизну Пецваля деформацией изменить нельзя) неполностью можно исправить трн илн более аберраций. В качестве примера такого компромисса можно привести задачу, где требуется получить высокое качество изображений двух точек одной — иа оси, а второй — на некотором условно выбранном расстоянии от нее. Такая задача, по-видимому, может быть решена на основании той же методики, которая была применена для одной поверхности, но с ее обобщением на два пучка вместо одного.  [c.556]


Смотреть страницы где упоминается термин Системы с исправленной кривизной поля : [c.403]    [c.408]    [c.300]    [c.180]    [c.36]    [c.34]   
Смотреть главы в:

Расчет оптических систем  -> Системы с исправленной кривизной поля



ПОИСК



Кривизна

Кривизна кривизна

Кривизна поля

Система в поле сил

Численные значения сумм Зейделя для систем с исправленной кривизной поля



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте