Погрешность измерения абсолютна динамическая

Планка закон излучения 20, 315 — постоянная 305 Поверка ИПТ 49, 177, 302 Поверочная схема 49 Погрешность измерения абсолютная 53 динамическая 54 инструментальная 54 методическая 53, 55, 60, 388 определение 53 относительная 53 приборная 54 [c.493]

В теории измерительных устройств и метрологии погрешности разделяются по форме выражения на абсолютные, относительные, приведенные [11], по связи с измеряемой величиной на аддитивные, мультипликативные, степенные, периодические и т. п., по степени определенности на систематические и случайные, по причинам появления на методические и инструментальные или аппаратурные (выделяют иногда также субъективные или личные погрешности), по связи с временными факторами на статические, динамические, смещения настройки (девиация). Выделяются основные погрешности средств измерений, определяемые в нормальных условиях, и дополнительные погрешности от выхода влияющих величин за нормальную область значений. [c.10]

В производственных условиях перед контролером часто возникает вопрос о возможности применения того или иного ш,упового прибора для измерения шероховатости поверхности изделий из мягких материалов. Профилометрам и профилографам присущи определенные погрешности, объясняемые природой контактного метода измерений. Основными пара-.метрами прибора, которые в первую очередь определяют величину искажений при ощупывании поверхности, являются, как указывалось выше, радиус закругления щупа г и усилие Р. Если радиус закругления иглы. можно рассматривать на определенном отрезке времени как величину постоянную для данного прибора, то измерительное усилие, в зависимости от динамических характеристик ощупывающей системы, скорости ощупывания и характера профиля контролируемой поверхности, может сильно изменяться- Это обстоятельство учитывается при конструировании приборов, В современных профилометрах и профилографах, благодаря рациональной конструкции датчиков, а также уменьшению скорости ощупывания добиваются значительного снижения доли динамической составляющей Р,) в общей величине усилия Р. Если радиус закругления иглы у большинства профилометров принят равным 10—15 мк. то измерительное усилие колеблется в весьма широких пределах и достигает в некоторых конструкциях 1—2 гс. Естественно, что при таких уси- лиях на поверхности контролируемого изде.лия, в зависимости от меха нических свойств, и в первую очередь, от твердости материала, будут оставаться более или менее глубокие царапины. Царапание, как следует из анализа, приводимого в главе VI, может по-разному сказаться на показаниях щуповых приборов. Когда размеры впадин велики по сравнению с размерами щупа (при пологом профиле с большим шагом неровностей), а перепад усилия ощупывания на дне впадины и на выступе характеризуется небольшой величиной, погрешности измерения незначительны. При узких микронеровностях, вследствие различных условий деформаций материала на гребешке и во впадине, происходит сглаживание профиля и соответствующее уменьшение измеренной высоты. Это уменьшение тем значительней, чем мягче материал контролируемого изделия и чище его поверхность. На фиг. 115 схематически показаны общие соотношения мелкду данными, получающимися при ощупывании, поверхности иглами с радиусами закруглений г= 10 мк при измерительных усилиях — 2 с С и показаниями оптических бесконтактных приборов. По оси абсцисс графика отложены классы чистоты, установленные с помощью оптических приборов по оси ординат — классы, получающиеся при ощупывании иглами, имеющими указанные выше г и Р. Кривая Т относится к теоретической поверхности абсолютно твердого тела с весь ма пологими неровностями кривая Л4 —- к поверхности изделий с твердостью Ял <20 кгс1мм и углом раскрытия впадин 100°. Между этими двумя кривыми располагаются кривые, относящиеся к поверхностям изделий из стали (С), бронзы (б) и т. п. При контроле профилометрами, имеющими значительные усилия ощупывания чистых поверх- [c.154]

Аналогичный входной каскад измерительной схемы имеет восьмиканальный кондуктометр для исследований кинетики физико-химических процессов АФПК8-01. Входной коммутатор прибора автоматически, по заданной программе, подключает последовательно каждый измерительный канал к аналого-цифровому преобразователю. Время опроса одного канала 8,5 с. Преобразованный сигнал поступает на цифровую индикацию и регистрацию. В качестве регистрирующего устройства использована цифропечатающая машина типа ЭУМ-23П, которая регистрирует номер канала, знак и величину выходного сигнала. Рабочая частота генератора, питающего датчики, 1 кГц. Область линейности рабочего диапазона приборов КТГ-1 и АФПК8-01 простирается более чем на три порядка по электропроводности — от 10 до 10" См. Отметим исключительный метрологический потенциал схемы измерения отношения. Эта схема обеспечивает возможность определения нескольких величин абсолютных значений проводимости и сопротивления жидкостей, а также относительных изменений этих параметров. При этом погрешность измерений может быть доведена до 0,1% и даже меньше, а динамический диапазон —до 10. [c.271]

Погрешность средства измерений абсолютная Погрешность средства измерений динамическая Погрешность средства измерений дополнительная Погрешность средства измерений основная Погрешность средства измеришй относительная Погрешность средства измерений приведенная Погрешность средства измерений систематическая Погрешность средства измерений случайная Погрешность средства измерений статическая Погрешность статическая [c.104]

Классификация погрешностей средств измерений. Погрешности средств измерений подразделяют на абсолютные и относительные, статические и динамические, систематические и случайные, основные и дополнительные, аддитивные и мульти пликативиые [6, 28, 37] (подробнее дано в гл. XII). [c.119]

Для аналогового СИ на пределе измерения л = 200 мВ при времени прохода всей шкалы 5 с максимальная скорость изменения напряжения во времени составит j , = 200мВ/0,5 с = 400мВ/с. Если абсолютная скорость V изменения поданного на самописец сигнала меньше, то регистрация осуществляется без искажения и динамическая погрешность равна нулю. При У>-К, возникают динамические погрешности, так как прибор не будет успевать отслеживать изменения сигнала, т. е. является ограничителем частотного диапазона потенциометра. [c.212]

В энергетической фурье-спектроскопии используются как однолучевые, так и двухлучевые схемы с опорным и зондирующим лучами. В однолучевом варианте интерферограмма регистрируется без образца и с образцом поочередно, и пропускание определяется из отношения восстанавливаемых спектров. Поглощение образца вносит в интерферограмму незначительные изменения, и для получения отношения сигнал/шум в восстановленном спектре, равного 100, требуется динамический диапазон регистрирующей аппаратуры свыше 10" . Так как спектр восстанавливается с точностью до постоянного множителя для получения абсолютных значений коэффициентов поглощения, необходимо производить калибровку результатов измерений. Калибровка заключается в определении уровней нулевого и 100%-ного пропускания. Для определения уровня 100%-ного пропускания производят измерения с газом низкого давления, характеризующегося узкими доп-леровскими линиями далеко отстоящими друг от друга. За уровень 100% НОГО пропускания берется значение пропускания в интервале между линиями поглощения. Для определения уровня нулевого пропускания используют большие оптические толщи (D 5). Использование в фурье-спектрометрах поглощающих ячеек с длиной оптического хода до 100 м обеспечивает пороговую чувствительность по коэффициенту поглощения 10 см и относительную погрешность определения интенсивностей линий от 3 до 35 % [32]. [c.144]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...