Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Флюенс

Перенос (флюенс) частиц — размерность единица— метр в минус второй степени (т" , м ).  [c.18]

Перенос (флюенс) энергии — размерность МТ- , единица-джоуль на квадратный метр Дж м 2).  [c.18]

Перенос (флюенс) ионизирующих частиц Ф — отношение числа ионизирующих частиц dN, проникающих в элементарную сферу, к площади dS центрального сечения этой сферы  [c.18]

Перенос (флюенс) энергии ионизирующего излучения Фа, — отношение энергии ионизирующего излучения dw, проникающего в элементарную сферу, к площади dS центрального сечения этой сферы  [c.19]


При прогнозировании работоспособности элементов конструкций из графита в современных ядерных установках необходимо знать закономерности радиационного изменения свойств графита в широком диапазоне температуры и при флюенсе быстрых нейтронов, достигающем 10 2 см- и выше. Основными свойствами в этом плане являются стабильность линейных размеров, прочность, ползучесть, модуль упругости, коэффициенты теплового расширения и теплопроводности, а также стойкость графита к окислению.  [c.6]

Эксперименты, выполняемые с целью получить данные об изменении свойств материалов элементов конструкции активной зоны проектируемых и строящихся ядерных реакторов, обычно проводят в исследовательских реакторах. Естественно, условия облучения в этих экспериментах, как правило, не полностью соответствуют условиям эксплуатации. Следует также отметить, что при радиационных испытаниях воздействует комплекс факторов спектр, плотность потока и флюенс нейтронов, осколки деления, -кванты, температура, влияние окружающей среды и т. п., — их необходимо учитывать для объяснения экспериментальных результатов. В то же время само облучение и определение условий, в которых оно происходило, проводятся исследователями различным образом. Это обстоятельство затрудняет сопоставление данных, полученных разными авторами. В связи с этим целесообразно рассмотреть как конструктивные особенности внутриреакторных устройств для облучения образцов графита, так и методы определения и сопоставления условий облучения.  [c.75]

Однако при больших флюенсах (10 2 нейтр./см и выше) процессы, происходящие в кристаллической решетке и опреде-  [c.91]

На изменение свойств материалов влияют и другие условия облучения спектр и плотность падающих частиц, среда, напряженное состояние и т. п. Однако, как правило, основными параметрами являются температура и доза облучения (или флюенс).  [c.92]

Может быть использовано для измерения температуры облучения изменение твердости закаленных сталей под влиянием температуры in времени выдержки. Предварительные испытания этих индикаторов дали положительные результаты, однако есть опасения, что диапазон измерений может быть ограничен небольшими флюенсами нейтронов.  [c.93]

Для флюенса нейтронов <10 нейтр./см может быть использована методика определения температуры с помощью облученного алмаза, применяемая в объектах, в которых отсутствует радиационное облучение. В этом случае образованием дефектов и их радиационным отжигом можно пренебречь.  [c.95]


Определение флюенса нейтронного облучения  [c.95]

Получение информации о воздействии радиации на исследо-ванные материалы является основной задачей радиационного материаловедения. При проведении экспериментов в ядерном реакторе решение этой задачи усложняется комплексным воздействием различных факторов плотности потока, флюенса нейтронов, спектра нейтронов и потока -у-квантов. Хотя для объяснения экспериментальных результатов необходимо знать-все эти факторы, некоторые из них вообще не контролируются, а измерение других производится исследователями различным образом.  [c.95]

Однако реальные спектры значительно отличаются от спектра нейтронов деления, поэтому данный метод не решает полностью задачу определения флюенса нейтронов. Применяется также метод оценки повреждающего потока с помощью расчета числа смещенных атомов углерода на единицу эквивалентного потока деления по никелю  [c.97]

С. флюенс 2,7 10 и 2,3 10 нейтр./см 3, 4— 200—240° С, флюенс 4,6 10 и 3,8 10 нейтр./см 5, б — 400—500° С, флюенс 5-м и 2-10 нейтр./см 7 — 600—700° С, флюенс 9,8 10 нейтр./см=  [c.102]

Изменение структурных характеристик при облучении начинается при флюеНсе 10 з нейтр./см уменьшением параметра с. Так, изменение параметра с кристаллической решетки графита ГМЗ при температуре облучения 200—220° С составляет  [c.103]

Облучение флюенсом >10 ° нейтр./см вызывает увеличение параметра с, размеры ОКР уменьшаются. Затем процесс стаби- лизируется. Относительное изменение параметров кристаллической решетки графита с и а в зависимости от флюенса нейтронов при различной температуре показано на рис. 3.3. Как видно из графика, зависимости относительного изменения параметров решетки от флюенса имеют монотонный характер. Однако есть работы (например, [189]), в которых изменение Ас/с в процессе облучения происходило ступенчато. Можно предположить, что уменьшение скорости изменения Ас/с в определенные периоды облучения (ступеньки) вызвано объединением небольших скоплений атомов в более крупные комплексы при достижении некоторой критической концентрации дефектов. Облучение в реакторах, обладающих различными спектрами излучения, также может вызвать несогласованность результатов изменения  [c.103]

Для уровня облучения, соответствующего насыщению изменения свойств, относительное изменение структурных характеристик уже не будет зависеть от флюенса, и уравнение (3.1) примет вид  [c.105]

Рис. 3.4. Зависимость относительного изменения высоты областей когерентного рассеяния L от флюенса при различной температуре, указанной на графике Рис. 3.4. Зависимость относительного изменения высоты <a href="/info/14507">областей когерентного</a> рассеяния L от флюенса при различной температуре, указанной на графике
Дс/с 1Аа/а =15. Для флюенса lO i нейтр./см это отношение меняется следующим образом [234]  [c.105]

Теплопроводность графита, облученного флюенсом до 2-10 2 нейтр./см при 1000—1200°С, снижается до 0,02 кал/(смХ ХС град), что обусловлено образованием дополнительной пористости и трещин [177], Поскольку теплопроводность часто измеряют при комнатной температуре, для практических оценок теплопроводности облученного графита при температуре Т %т необходимо значение теплопроводности при комнатной температуре Я40 умножить на экспериментально подобранные коэффициенты  [c.108]

Угол наклона прямых, приведенных на рис. 3.8, для постоянного (и достаточно высокого) флюенса нейтронов зависит от температуры облучения и с увеличением ее растет (термическое сопротивление падает). Независимость относительного изменения теплопроводности от вида материала позволяет при построении зависимостей от флюенса использовать данные, полученные на различных графитовых материалах. Такие зависимости изменения термического сопротивления (К) отечественных графитовых материалов, облученных при различной температуре, приведены на рис. 3.9.  [c.109]

Рис. 3.13. Зависимость запасенной энергии Н в графите марки SF от флюенса нейтронов [138, т. 6, с. 454] Рис. 3.13. Зависимость запасенной энергии Н в <a href="/info/325672">графите марки</a> SF от флюенса нейтронов [138, т. 6, с. 454]

Обзор многочисленных работ, посвященных изучению скрытой энергии, позволяет отметить следующие закономерности. Запасенная энергия при уровне облучения 10 ° нейтр./см растет практически линейно с флюенсом (рис. 3.13). С увели-  [c.113]

Полагают, что кристаллическая решетка графита может запасать энергию до 700 кал/г [23]. Характер изменения запасенной энергии привел авторов работы [138, т. 6, с. 454] к уравнению, связывающему запасенную энергию Я с флюенсом,  [c.114]

Наиболее интенсивный резкий пик выделения энергии соответствует небольшому интервалу температуры it 200° С. Здесь скорость энерговыделения может быть значительной, что приводит к быстрому, почти мгновенному саморазогреву графита до температуры, которая в каждом конкретном случае определяется условиями теплоотвода, накопленной дозой, свойствами графита. Отмечается, что повышение температуры может достигать 1500—1600° С 138, т. 6, с. 454]. Для низкотемпературного облучения максимум количества выделяющейся при 200° С энергии увеличивается с увеличением флюенса до 4Х Х10 ° нейтр./см . При большем флюенсе величина максимума уменьш ается значительная доля запасенной энергии освобождается во время отжига при более высокой температуре. Этому соответствует размытие дифракционных рентгеновских линий,, связанное с трансформацией простых дефектов в более сложные.  [c.115]

Облучение вызывает рост электросопротивления поликри-сталлического графита, причем начальному периоду (при флю-енсе 10 8—]()20 нейтр./см ) свойственна наиболее высокая скорость этого процесса. Затем электросопротивление стабилизируется. Достигнутый уровень в малой степени зависит от температуры облучения [30]. Ее рост от 80—100 до 250 и 350° С при флюенсе (3- 4) 10 ° нейтр./см снижает прирост электросопротивления Ар/р от 2,2 соответственно до 1,5 н 1,3. Однако при более высокой температуре облучения, от 400 до 825° С (рис. 3.17), различие относительного изменения электросопротивления образцов графита SF не отмечено [170]. Из литературы известно, что прирост электросопротивления у природного  [c.117]

Рис. 3.17. Зависимость относительного изменения электросопротивления от флюенса нейтронов Рис. 3.17. Зависимость относительного изменения электросопротивления от флюенса нейтронов
Для исследования механических свойств и микроструктуры использовались образцы хромоникелевой стали в аустенитном состоянии с различным размером зерен и после холодной деформации. Образцы облу юли при температуре 80 С до флюенсов от 5 10 0 н/м до 2x10 3 и/м2.  [c.100]

Определение более высокой температуры облучения с помощью алмазных индикаторов можно проводить лишь при достаточно больших флюенсах, что необходимо для получения заметного изменения параметра решетки. Это ограничивает применение метода. Однако, используя алмаз, предварительно облученный при температуре 100° С, можно повысить чувстви-  [c.94]

Наибольшее внимание уделяется измерению флюенса нейтронов. Однако если учесть, что графит является одним из наиболее чувствительных материалов к изменению плотности tiOTO-ка и спектра нейтронов, то следует более детально рассмотреть принятые масштабы доз нейтронного облучения. Авторы ряда работ приводят коэффициенты пересчета повреждающей дозы для различных условий облучения, что позволяет сравнивать результаты экспериментов, проведенных в различных лабораториях разными исследователями.  [c.95]

Американские данные по высо- Флюенс ( >0,18 МэВ) 1,26  [c.96]

Абсолютная величина Да/а с ростом температуры облучения убывает медленнее, чем Дс/с. Так, по данным Гейна [220, р. 651], для облучения при 62° С и флюенсе нейтр./см  [c.105]

Рис. 3.6. Связь степени текстурированности /г до и после облучения при температуре 100—200° С и флюенсе (1- 2) 10 ° нейтр./см для материалов ГМЗ (О), ЕР (X), пирографИта (ф) Рис. 3.6. <a href="/info/109564">Связь степени</a> текстурированности /г до и после облучения при температуре 100—200° С и флюенсе (1- 2) 10 ° нейтр./см для материалов ГМЗ (О), ЕР (X), пирографИта (ф)
Много 1исленные экспериментальные данные по изменению АЛ7/С от флюенса в работе [39] были аппроксимированы уравнением, аналогичным уравнению (3.1),  [c.110]

Рис. 3.9. Зависимость относительного изменения термического сопротивления ДХ/Х отечественных графитовых материалов (а) и графита на основе гилсонитового кокса (б) от флюенса нейтронов при различной температуре облучения [214] Рис. 3.9. Зависимость относительного изменения <a href="/info/29259">термического сопротивления</a> ДХ/Х отечественных графитовых материалов (а) и графита на основе гилсонитового кокса (б) от флюенса нейтронов при различной температуре облучения [214]
Если приведенные в работах [151, 206] значения запасенной энергии (отнесенной к флюенсу 102° нейтр./см ) нанести в по-/лулогарифмическом масштабе от величины, обратной температуре облучения, то зависимость между ними представится двумя пересекающимися в точке л 200°С прямыми (рис. 3.14).  [c.114]


Смотреть страницы где упоминается термин Флюенс : [c.100]    [c.96]    [c.97]    [c.103]    [c.103]    [c.104]    [c.104]    [c.106]    [c.107]    [c.108]    [c.108]    [c.109]    [c.110]    [c.111]    [c.114]   
Ядра, частицы, ядерные реакторы (1989) -- [ c.25 ]



ПОИСК





© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте