Рассеяние нейтронов общая теория

Рассмотрение рассеяния медленных нейтронов протонами с точки зрения общей теории рассеяния медленных частиц будет сделано в 24, где будет дан другой вывод формулы (3.9). [c.32]

Общие основы нейтронографического анализа изложены в работах [214 — 217], теория дифракции нейтронов в кристаллах —в [218, 219], теория магнитного рассеяния нейтронов —в [220 — 223], теория неупругого рассеяния—в [224 — 229], некоторые экспериментальные результаты приведены в [230 — 234]. Данные, полученные в последние годы, сведены в обзорах 177, 235]. [c.843]

Здесь мы рассмотрим применение изложенной в т. 1, 107, теории критических точек в колебательных спектрах к кристаллам с пространственной группой алмаза. Систематически исследуя этот вопрос, мы прежде всего установим и классифицируем симметрический набор критических точек, определяемых только из свойств симметрии. После этого можно использовать несколько подходов. Если имеются точные данные по неупругому рассеянию нейтронов, то из них можно определить дополнительные критические точки. Эти динамические критические точки необходимо классифицировать в соответствии с общей теорией. Если экспериментальные данные по неупругому рассеянию нейтронов отсутствуют, но имеются рассчитанные дисперсионные кривые, то дополнительные критические точки можно установить на основании этих расчетов. Наконец, можно использовать теорию Морзе, чтобы определить, выполнены ли топологические условия, связывающие число и тип критических точек на каждой ветви. Если условия Морзе не выполнены, то данная ветвь должна содержать дополнительные критические точки. Однако их положение остается при этом неопределенным. Теорию Морзе молено использовать скорее как ориентир для поиска таких точек, чем для установления их точного положения, которое следует искать путем интерполяции или экстраполяции имеющихся результатов. Насколько известно автору, за исключением нескольких модельных расчетов с произвольными силовыми постоянными [89—90], теория Морзе до сих пор не нашла [c.159]

В более точных теориях рассеяния нейтронов жидкостями коэффициент перед т. е. Dvt, заменяется более общими функциями времени [48]. [c.277]

С другой стороны, хорошо известно, что если длина волны света мала по сравнению с размерами препятствия, то возможно получение общей формулы, описывающей диффракционные явления. Основываясь на этой оптической диффракционной формуле, найдём сперва диффракционную картину, возникающую при рассеянии быстрых нейтронов, а затем убедимся, что та же картина получается, если исходить из строгой квантовомеханической теории рассеяния. Прежде всего напомним эту формулу и, пользуясь ею, установим диффракционную картину в том случае, когда свет падает на абсолютно чёрный, поглощающий шар радиуса R. [c.187]

Перейдём к рассмотрению рассеяния быстрых заряженных частиц, которые могут поглощаться ядрами (55. ei]. При этом также должны происходить диффракционные явления, в некоторой мере аналогичные диффракции быстрых нейтронов. Явление, однако, усложняется наличием заряда у частиц. В силу этого мы не можем пользоваться элементарной оптической теорией для описания интересующего нас рассеяния, которое можно охарактеризовать как диффракцию заряженных лучей около абсолютно чёрного заряженного тела. Чтобы определить амплитуду рассеяния, следует с самого начала пользоваться общей формулой теории рассеяния (17.5). [c.204]

Общая теоретическая основа метода рассматривается в 2 нй базе представлёния о функции рассеяния S к, ю). Здесь же приведены основные свойства этой функции. Далее устанавливается связь с обычным методом интерпретации рассеяния рентгеновских лучей в рамках так называемого статического приближения. В 4 из лагается теория, лежащая в основе обычного метода дифракции нейтронов, и описываются методы, позволяющие учесть поправки, связанные с многократным рассеянием и неупругими эффектами. В 5 дается обзор последней серии экспериментов Эгельстафа, Эндерби и их сотрудников, а в 6 сделана попытка оценить относительные достоинства рентгеновских и нейтронных методов. [c.67]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...