Дифракция в изогнутый кристалл

Если тонкие кристаллы, используемые для дифракции электронов, изогнуты, то вращение обратной решетки по отношению к сфере Эвальда будет обеспечивать возникновение значительно большего числа дифрагированных пучков, что придаст дифракционной картине вид полного сечения обратной решетки, как показано на фиг. 6.3, которая представляет собой дифракционную картину, полученную от тонкого изогнутого кристалла с падающим пучком, приблизительно перпендикулярным плоскости ккО обратной решетки. [c.135]

Большую часть точечных дифракционных картин, получаемых от несовершенных, изогнутых или мозаичных кристаллов, следует рассматривать как сумму динамических дифракционных картин от отдельных почти совершенных кристаллов. В некоторых случаях, когда перекрываются непараллельные кристаллы, будут существовать эффекты двойной дифракции, при которой дифракционный пучок от первого кристалла действует как первичный пучок для второго кристалла положения возникающих при этом дифракционных пятен определяются суммами действующих векторов дифракции для отдельных кристаллов. Когда не существует простого соотношения между ориентациями двух кристаллов, направления дважды дифрагировавших пучков таковы, что никакие когерентные взаимодействия с однократно рассеянными пучками не возникают. Этот случай называют вторичным упругим рассеянием [69], чтобы показать его отличие от когерентного многократного (динамического) рассеяния. [c.358]

Рис. 3. Схемы расположения узлов основных типов рентгеновских камер для исследовании поликристаллов а — дебаевская камера 6.—фокусирующая камера с изогнутым кристаллом-монохроматором для исследования образцов на просвет (область передних углов дифракции) в — фокусирующая камера для обратной съёмки (большие углы дифракции) на плоскую кассету. Стрелкам показаны направления прямого и дифрагирог ванного пучков. Механизмы движения образца, установки камеры у рентгеновской трубки и защита от рассеянного излучения на схеме не приведены. О — образец Г — фбкус рентгеновской трубки М — кристалл-монохроматор К — кассета с фо-, топлёнкой Ф Я — ловушка, перехватывающая первичный пучок ФО — окружность фокусировки дифракционных максимумов КЛ — коллиматор МЦ — механизм центрировки образца.

Широкое распространение получили рентгенооптические схемы с изогнутыми фокусирующими кристаллами. Как уже отмечалось в п. 8.1, многослойные молекулярные структуры могут быть изготовлены непосредственно нанесением на подложки необходимой формы [34]. Монокристаллы изгибаются и приклеиваются к соответствующим подложкам. Феноменологическое полуколиче-ственное описание дифракции в изогнутом кристалле [16, 48] проведено давно, однако строгая математическая теория для совершенной структуры сформировалась лишь в последнее время [2, 11]. Точные количественные расчеты дифракционных параметров цилиндрически изогнутых кристаллов возможны численным методом с помощью ЭВМ. [c.308]

Из-за сильных эффектов динамического рассеяния, возникающих при дифракции электронов в большинстве случаев, когда делались попытки провести электронографические структурные исследования, использовались очень тонкие изогнутые кристаллы, разупорядоченные кристаллы чли прликристаллические агрегаты, поскольку для каждого из этих случаев динамические эффекты минимизировались процессом усреднения. Обзор современного состояния электронографического структурного анализа сделан Каули [87]. [c.147]

Оптич. схемы рентг. спектрометров г а — фокусирующий спектрометр с кристаллом-анализатором К, б — фокусирующий спектрометр с дифракц. решёткой О, в — спектрометр с плоским кристаллом К и коллиматором Соллера (С1 и Се) 8 — источник излучения и. 82 — щели f — фокальная окружность, О — её центр О—центр окружности, по к-рей изогнут кристалл или центр вогнутой поверхности решётки В — детектор Р — фотокатод М — ВЭУ. [c.703]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...