Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Микрорентгенография

Контактная микрорентгенография, для которой образец помещают как можно ближе к точечному фокусу, а рентгеновское изображение фиксируется пленкой, прижатой к образцу, при увеличении 1 1.  [c.385]

Метод скользящего пучка рентгеновских лучей. По числу решаемых вопросов рентгенографический метод не имеет себе равных среди других методов исследования Именно это обстоятельство интенсифицирует его развитие в теоретическом и прикладном аспектах, поиск новых методов на базе использования особенностей и свойств рентгеновского излучения. Большие успехи достигнуты в области дифракционной микрорентгенографии — совокупности методов исследования несовершенств кристаллической решетки, преимущественно монокристаллов [931.  [c.77]


МИКРОРЕНТГЕНОГРАФИЯ — см. Рентгеновская микроскопия.  [c.234]

В соответствии с принципами, положенными в основу методов получения рентгеновского изображения исследуемых объектов, различают отражательную Р. м., проекционную Р. м., контактную микрорентгенографию и дифракционную Р. м.  [c.422]

Методы дифракционной микрорентгенографии, подобно контактной микрорентгенографии, позволяют получать дифракционное изображение строения кристаллич. тел в натуральную величину (или близких к ней размеров). В зависимости от природы возникающего па дифракционном изображении контраста эти методы можно разделить иа 3 группы  [c.423]

Методика исследования с помощью рентгеновского теневого микроскопа во многом подобна методике, разработанной для кон тактной микрорентгенографии [1, 2, 3]. При работе с рентгеновским микроскопом необходимо такл< е учитывать принципиальные его особенности—непосредственное рентгеновское увеличение. Рентгеновский микроскоп во многом подобен оптическому и его оптическая система имеет многие аналогичные недостатки (аберрации и др.).  [c.179]

Как и при контактной микрорентгенографии, большое значение имеет качество применяемого фотоматериала (разрешающая способность, контрастность). Однако при съемках на рентгеновском теневом микро-  [c.179]

Рис. 3. Карбид вольфрама в быстрорежущей стали. Снимок получен методом контактной микрорентгенографии. Кобальтовое излучение толщина образца несколько сотых долей миллиметра. Увелич ение (включая оптическое) 160 [11 Рис. 3. Карбид вольфрама в <a href="/info/1746">быстрорежущей стали</a>. Снимок <a href="/info/473555">получен методом</a> <a href="/info/188928">контактной микрорентгенографии</a>. Кобальтовое излучение толщина образца несколько сотых долей миллиметра. Увелич ение (включая оптическое) 160 [11
Рис. 4. Никель — графитовый сплав. Контактная микрорентгенография в кобальтовом излучении. Отчетливо видны участки, обогащенные графитом (темные частицы). X 120 [I] Рис. 4. Никель — графитовый сплав. <a href="/info/188928">Контактная микрорентгенография</a> в кобальтовом излучении. Отчетливо видны участки, обогащенные графитом (темные частицы). X 120 [I]
Еще нет методов, которые позволили бы с полной достоверностью изучать кинетику изменения распределения углерода и ряда легирующих элементов в твердом растворе. Любой из применяемых сейчас методов (авторадиография, микрорентгенография, рентгеноструктурный анализ, измерение микротвердости, локальный рентгеноспектральный анализ в точке) имеет свои недостатки.  [c.93]


Метод рентгеновской адсорбционной микрорентгенографии основан на различном поглощении элементами монохроматического рентгеновского излучения при его прохождении через тонкую пластинку анализируемого объекта. Коэффициент поглощения не зависит от того, в каком виде находится элемент (твердый раствор или химическое соединение) поглощение рентгеновских лучей элементом пропорционально концентрации последнего. При определенных длинах волн рентгеновского излучения, характерных для каждого элемента, коэффициент поглощения меняется скачкообразно. Если пластинку с неоднородным содержанием анализируемого элемента поместить на фотопленку и осветить пучком моно-  [c.34]

Микрорентгенография адсорбционная — Методы исследования сварных соединений  [c.268]

Исследование алюминиевых сплавов с различным содержанием цинка (1,6—21,4%) разными методами (микротвердость, микрорентгенография, авторадиография и др.) подтвердило это предположение чем выше концентрация цинка в сплаве, тем больше число мест с повышенной концентрацией цинка и больше пор. При содержании в алюминии 1,6 5,0 9,1 и 21,4% (по массе 2п) число пор на 1 после нагрева при 550° С в течение 8 ч составляло 95 213 3897 и 6327 соответственно. Длительная голюгенизация (550° С, 40 у) уменьшала склонность сплава к порообразованию.  [c.408]

Следует остановиться на весьма своеобразном влиянии малых добавок свинца на образование горячих трещин в высоконикелевых аустенитных швах. Свинец, как известно, не растворяется в железе. При введении маль1х количеств свинца он весь располагается по границам зерен, о чем свидетельствуют результаты микрорентгенографии сварных швов. Свинец, несомненно, поверхностно-активен. Об этом свидетельствует тот факт,  [c.214]

В металловедении наиболее широко распространена контактная микрорентгенография и эмиссионный микроанализ проек-  [c.385]

Применение. Детальные обзоры металловедческих работ в этой области опубликованы Трийа [88], Шарпом [84], Косслет том и Никсоном [24]. Метод контактной микрорентгенографии  [c.387]

Хотя в настоящее время этот метод мало используется в металловедении, интерес к нему возрастает, поскольку он позволяет получать такие количественные данные, которые не может дать ни один из описанных выше методов микрорентгенографии. Его основой является большая разница в поглощении различными элементами излучения с данной длиной волны (или одним и тем же элементом излучения с различными длинами волн). Подробное описание этого метода дал Трийа [88].  [c.390]

Л), геометрич. разрешение определяется толщиной образца, угловым размером источника излучения и разрешением фотоматериала. Разрешение метода ограничивается также разрешающей способностью оптич. прибора (микроскопа, проекторам т. п.), применяемого для увеличения рентгеновской картины. Дифракционное разрешение и контрастность изображения определяются теми же условиями, что и в проекционной Р. м. Разрешающая способность контактной микрорентгенографии достигает 1 мк [8]. Примепение беззернистых фотографич. эмульсий, очень тонких образцов (1 мк) и электронных микроскопов дли увеличепия микрорептгенограмм позволит повысить разрешающую способность до 1000—500Л [9].  [c.423]

Светлое кольцо 2, постепенно темнеющее по направлению к центру точки, выявляет зону термического влияния металла, затронутого нагревом. В этой зоне имеются значительные неоднородности в виде так называемых усов , которые представляют собой эвтектические образования, обогащенные медью (фиг. 99). На периферии зоны термического влияния концентрация меди наиболее значительна, о чем свидетельствует светлое кольцо. Наличие зон с повышенной концентрацией меди подтверждается микрорентганограммой этого участка сварного соединения, показанной на фиг. 100. Эвтектика СиАЬ выявляется в виде прослоек- усов по границам зерен. Следует отметить, что усы при металлографических исследованиях часто принимают за трещины ввиду повышенной травимости этих зон реактивами. Усы не снижают прочности соединений и их не следует считать дефектом, если они не выходят на поверхность листов и не достигают плакирующего слоя. В опорных случаях для решения вопроса о наличии трещин или усов целесообразно применять метод микрорентгенографии.  [c.159]

Большинство соединений, приведеинг>1х в таблице, встречается в сплавах в качестве неметаллических включений и исследуется методами абсорбционной микрорентгенографии [5].  [c.37]


Подобно микрорентгенографии метод растровой рентгеновской микроскопии свободен от влияния эффектов дифракции, и кроме того, от ограничений накладываемых размером зерна пленки, оптическим разрешением. Независимость от дифракции обеспечивается расположением объекта в непосредственном контакте с анодом (при микрорентгенографированин объект поме-  [c.24]

Р. т. применяют в рентгеновском структурном анализе, спектральном анализе рентгеновском, дефектоскопии, рентгенотерапии и рентгенодиагностике, рентгеновской микроскопии, микрорентгенографии и рентг. литографии. В зависимости от области применения Р. т. могут различаться по типу конструкции, способу получения и фокусировки пучка эл-нов, вакуумированию, охлаждению анода, размерам и форме фокуса (области  [c.637]


Смотреть страницы где упоминается термин Микрорентгенография : [c.245]    [c.104]    [c.386]    [c.387]    [c.388]    [c.389]    [c.478]    [c.481]    [c.177]    [c.143]    [c.22]    [c.21]    [c.35]    [c.637]   
Смотреть главы в:

Металлография железа 1  -> Микрорентгенография


Физическое металловедение Вып II (1968) -- [ c.0 ]



ПОИСК



Микрорентгенография адсорбционная — Методы исследования сварных соединений

Микрорентгенография дифракционная

Микрорентгенография контактная

Микрорентгенография проекционная

Рентгеновская микроскопия и микроанализ контактная микрорентгенография



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте