Нейтроны функция распределения в кристаллах

Функция распределения нейтронов в кристалле [c.400]

Остановимся ещё на вопросе о нахождении функции распределения нейтронов в кристалле. [c.400]

ФУНКЦИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ НЕЙТРОНОВ В КРИСТАЛЛЕ 461 [c.401]

Функция распределения нейтронов в кристаллах 400 [c.416]

Все теории плавления являются слишком упрощенными. Опыт показывает, что при плавлении ионных кристаллов с высокой координацией молярный объем может увеличиваться до 25%, например, как это происходит у щелочных галогенидов. Анализ радиальных функций распределения ионов в расплаве, изученных с помощью рентгеновской и нейтронной дифракции, привел к выводу о том, что чуть выше точки плавления еще имеется некоторая степень упорядочения, подобная той, которая есть в кристалле. Вместе с тем было показано, что наиболее вероятные расстояния соседних ионов от [c.194]

Затем мы дадим перечень тех критических точек, которые могут быть предсказаны из свойств симметрии. Непосредственно может быть определен симметрический набор критических точек и дана их классификация в соответствии с теорией Морзе. Кроме того, будет дан обзор проведенного анализа критических точек в нескольких кристаллах со структурой алмаза (в германии, кремнии и алмазе), основанного на дополнительной ин- формации о дисперсии фононов, полученной комбинированием детальных расчетов и измерений неупругого рассеяния нейтронов. Вслед за изучением роли критических точек в дисперсии фононов (т. е. в однофононных состояниях) полезно привести результаты подобного же анализа для объединенной, т. е. двухфононной, функции распределения частот в различных кристаллах типа алмаза и сравнить их с имеющимися оптическими исследованиями в двухфононной области энергий. [c.148]

Прежде чем перейти к изложению сущности, укажем на различие трех выше указанных дифракционных методов. Оно обусловлено различной силой взаимодействия рентгеновского, электронного и нейтронного излучений с веществом. Рентгеновское электромагнитное излучение при прохождении через кристалл взаимодействует с электронными оболочками атомов (возникающие вынужденные колебания ядер вследствие их большой массы имеют пренебрежимо малую амплитуду), и дифракционная картина связана с распределением электронной плотности, которую можно характеризовать некоторой функцией координат р(л. у, z). В электронографии используют электроны таких энергий, что они взаимодействуют, главным образом, не с электронными оболочками атомов, а с электростатическими потенциальными полями ф(х, у, Z), создаваемыми ядрами исследуемого вещества. Взаимодействие между двумя заряженными частицами (электроном и ядром атома) значительно сильнее, чем между электромагнитным излучением и электронной оболочкой атома. Поэтому интенсивность дифракции электронного излучения примерно в 10 раз сильнее, чем рентгеновского. Отсюда понятно, почему получение рентгенограмм часто требует нескольких часов, электронограмм — нескольких секунд. [c.36]

Если можно определить распределение интенсивности как функцию периода обратной решетки и (или изменения импульса) и изменения частоты V (или энергии падающего излучения), то можно вычислить форму дисперсионной кривой. Это можно выполнить в случае дифракции нейтронов, поскольку энергия падающих тепловых нейтронов порядка 0,02 эВ, а волны тепловых колебаний в решетке имеют энергии такого же порядка. Изменение энергии падающих нейтронов достаточно велико и может быть определено с помощью рассеивающего кристалла при анализе распределения энергии (или волнового спектра) рассеянных нейтронов. Для [c.260]

На рис. 42 пунктирная линия изображает функцию распределения частот в тео рии Дебая, а сплошная линия — решеточную (истинную) функцию распределения, учитывающую дискретную структуру кристалла и специфичную для 1конкретного твердого тела. Функция g(v) определяется экспериментально по рассеянию нейтронов, а теоретически — численными методами. [c.259]

Рис. 3.19. Функция распределения Овт(г) аморфного сплава u4oTi6o, полученная по данным дифракции нейтронов, (а) и парные корреляции Ti—Ti, Си—Ti, Си—Си в кристаллах химического соединения uTi (б) [38]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...