Интерференционная метрология

Проблема получения узких спектральных линий очень важна, в частности, для интерференционной метрологии, так как такие линии могут служить стандартами длины. Узкие спектральные линии необходимы и как стандарты (нормали) при измерении длин волн неизвестных линий или при градуировке шкал спектральных приборов. [c.253]

Интерференционные методы измерений позволяют сравнивать большие и малые длины, а также линейные перемещения с большой надежностью и точностью. Эти и другие вопросы охватывает интерференционная метрология. [c.211]

Опыт оптической лаборатории Всесоюзного научно - исследовательского института метрологии им. Д. И. Менделеева (ВНИИМ) по созданию и использованию интерференционных эталонов типа Фабри и Перо показал, что наиболее подходящей конструкцией нерегулируемых эталонов для спектрометрических целей являются трубчатые эталоны. На рис. 19 представлен схематический чертеж трубчатого эталона. [c.34]

Вторичные эталонные длины волн должны также обладать точностью воспроизведения, близкой к точности первичной нормали. Их роль в метрологии подобна роли вторичных материальных искусственных эталонов, так как с их помощью значение длины волны оранжевой линии Кг будет передаваться непосредственно рабочим мерам — применением абсолютного интерференционного метода измерения концевых и штриховых мер. [c.70]

Б нашей стране организация этого дела находится в ведении Всесоюзного научно-исследовательского института метрологии им. Д. И. Менделеева, а во всем мире — в ведении Международного бюро мер и весов. Уже теперь ВНИИМ имеет большой опыт по сличению интерференционных установок всей системы Государственного комитета стандартов, мер и измерительных приборов СССР для измерения концевых мер длиною до 100 мм. В ближайшем будущем эти сличения распространятся на штриховые меры и на концевые длиною до 1 м. [c.74]

Многолучевые интерференционные методы успешно [гриме--няются в метрологии. С их помощью определяют характеристики оптических деталей, изучают качество плоских поверхностей, измеряют длины, углы клиньев и т. д. [c.7]

Измерения длин. Большое значение имеют интерференционные методы в метрологии, где с их помощью оказывается возможным использовать в качестве эталона длины длину световой волны. Преимущество применения световой волны в качестве эталона длины состоит в том, что этот эталон общедоступен, легко воспроизводится и не подвержен старению. [c.702]

Большое число когерентных световых пучков может возникнуть в результате дифракции при прохождении плоской волны через экран с одинаковыми регулярно расположенными отверстиями (метод деления волнового фронта). Распределение интенсивности в такой многолучевой интерференционной картине будет рассмотрено в 6.5 на примере дифракционной решетки. Здесь мы изучим интерференцию при многократных отражениях света от двух параллельных поверхностей (метод деления амплитуды). На этом принципе действует интерферометр Фабри—Перо, широко используемый в спектроскопии высокого разрешения и в метрологии. Он может быть выполнен в виде плоскопараллельной стеклянной или кварцевой пластины, на обе поверхности которой нанесены отражающие слои, либо в виде двух пластин, у которых покрытые отражающими слоями плоскости установлены строго параллельно друг другу и разделены воздушным промежутком. [c.256]

Измерение показателя преломления — это особая область метрологии, названная рефрактометрией. Проведенная оценка показывает, что интерференционный метод обеспечивает весьма высокую чувствительность относительных рефрактометрических измерений. Это позволяет использовать такой метод для решения разнообразных задач. Вместе с тем ясно, что реализов 1ть столь высокую чувствительность совсем не просто и, чтобы добиться высокой стабильности интерферометрических измерений, необходимы чрезвычайная аккуратность и тщательность в подготовке эксперимента. [c.223]

Так, по существу, был получен первый четио-четный элемент, т. е. элемент с четным атомным весом и четным номером в периодической системе Д. И. Менделеева. Выявилось, что зеленая линия ртути 198 не имеет сверхтонкой структуры. Единственная причина, по которой Майкельсон не выбрал длину волн зеленой линии ртути в качестве эталонной, отпала. Встал вопрос о возможности замены красной линии естественного d зеленой линией ртути Начались подробные исследования этого излучения. Следует отметить, что одновременно с описанными выше исследованиями во ВНИИМ в 1940 г. и в начале 1941 г. излучение ртути без сверхтонкой структуры было получено чисто оптическим путем— так называемой интерференционной монохроматизацией (о которой будет сказано несколько ниже). Почти одновременно с этим, в 1942 г., Клаузиус и Диккель в Германии, используя зависимость скорости диффузии газов от атомного веса, применили метод термодиффузии для разделения изотопов криптона. Ими были получены изотопы Кг с атомными весами 84 и 86 при большом коэффициенте обогащения — около 99%. В распоряжение метрологов поступили еще два четно-четных элемента. Предложенная ранее Кёстерсом желто-зеленая линия естественного Кг теперь уже могла быть заменена на ту же линию Кг , не имеющую сверхтонкой структуры. [c.44]

Принципы измерений длин и перемещений с помощью лазерных интерферометров. Появление высокомонохроматических (когерентных) источников света — лазеров привело к весьма разнообразным их применениям. Лазерные интерферометры являются важным инструментом для современной метрологии и широко используются как измерительные средства в машиностроении и приборостроении. Одной из особенностей интерференционных измерений с помощью лазеров являет ся существенное повышение точности измерений некоторые лазерные измерители перемещений имеют шкалу с ценой деления один нанометр. [c.189]

Современная техника измерений сложилась в результате длительного развития методов и средств измерений на основе учения об измерениях — метрологии. Ускоренный прогресс техники измерений начался во второй половине XVIII в. и был связан с развитием промышленности. Повышение точности и производительности измерительных приборов происходило благодаря использованию новых принципов измерений, основанных на достижениях науки и техники. Первые приборы для высокоточных линейных измерений — компараторы для сравнения штриховых мер — были созданы в 1792 г. Промышленное производство инструментов для абсолютных измерений — штангенциркулей — организовано в 1850 г., а микрометров — в 1867 г. В конце XIX в. получили широкое распространение сначала нормальные, а затем предельные калибры, появились концевые меры длины. Механические приборы, предназначенные для относительных измерений, резко повысили точность в 1890 г. разработаны рычажные, затем зубчатые и рычажнозубчатые измерительные головки, в 1937 г. — пружинные измерительные головки. С 20-х гг. нашего столетия быстро развиваются оптико-механические приборы оптиметры созданы в 1920 г., интерференционные приборы — в 1923 г., универсальный микроскоп и измерительные машины — в 1926 г., проекторы — в 1930 г. В [c.4]

В интерференции и дифракции проявляются волновые свойства света. После открытия этих явлений на них смотрели сначала как на доказательство исключительно волновой природы света. Такая точка зрения оказалась недостаточной. В XX веке были открыты корпускулярные свойства света, а затем волновые свойства обыкновенных частиц-, электронов, протонов, нейтронов, атомов, молекул И пр. Как это ни парадоксально, природа света и вещества оказалась двойственной корпускулярно-волновой. С открытием этого факта связан коренной пересмотр физических воззрений, приведший к тюстроению квантовой механики. От этого, однако, значение интерференционных И дифракционных явлений не уменьшилось. В наши дни интерференция и дифракция света имеют важные практические применения, например в спектроскопии и метрологии. [c.188]

С точки зрения метрологии любое излучение в оптическо.м диапазоне целесообразно оценивать коэффициентом качества излучения, учитывающим степень когерентности (способность света образовывать неподвижную интерференционную картину) и интенсивность. Этот коэффициент определяется выражением [c.359]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...