Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

ДИФРАКЦИОННАЯ ЭФФЕКТИВНОСТЬ И МЕТОДЫ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ДОЭ

ДИФРАКЦИОННАЯ ЭФФЕКТИВНОСТЬ И МЕТОДЫ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ДОЭ  [c.193]

Голографической чувствительностью, согласно ГОСТ 24 865.1-81, называют величину экспозиции, обеспечивающую получение максимальной дифракционной эффективности голограммы. При этом принимают суммарную экспозицию, обусловленную как объектным, так и опорным пучками. Чувствительность пластинок для голографии иногда оценивают по другим критериям, например по величине экспозиции, соответствующей оптической плотности, равной 0,5 плюс плотность вуали (Ьо + 0,5). Иногда чувствительность определяют в единицах ГОСТ, как для обычных кинофотоматериалов. При изготовлении изобразительных голограмм по методу Ю. Н. Денисюка удобнее всего пользоваться величиной голографической чувствительности, оцениваемой по суммарной экспозиции (объектной и опорной), соответствующей максимальной дифракционной эффективности. По голографической чувствительности пластинки и пленки, используемые для получения изобразительных голограмм, могут быть разбиты на следующие группы  [c.58]


Метод хода лучей основан на построении двумерного распределения интенсивности в фокальной плоскости системы с помощью дискретных лучей, траектории которых определяются их координатами и направляющими косинусами на входном отверстии системы, а также геометрией поверхностей зеркал. При существующей точности изготовления искажения фронта волны при отражении значительно больше дифракционных пределов, поэтому фазовые соотношения между отдельными лучами в фокальной плоскости не учитываются. Таким образом, расчет по методу хода лучей ведется в рамках геометрической оптики. Важным обстоятельством для рентгеновской области спектра является то, что расчет траектории каждого луча позволяет определить точные значения локальных углов скольжения на каждом из зеркал, от которых зависят и коэффициенты отражения. Учитывая эти коэффициенты при суммировании лучей в фокальной плоскости, можно рассчитать разрешение и эффективность с точностью, не достижимой никакими аналитическими методами. Общие принципы расчета характеристик оптических систем методом хода лучей можно найти в литературе [2].  [c.169]

Результаты испытаний фокусаторов лазерного излучения дальнего ИК-диапазона в кольцо и отрезок описаны в работе [70]. Энергетическая эффективность фокусировки, измеренная методом калиброванных диафрагм, составила для различных фокусаторов 60-75% 70 , что соответствует приведенным данным моделирования фокусаторов в отрезок (5.59) с учетом технологических погрешностей изготовления дифракционного микрорельефа.  [c.338]

Мысль о том, что дифракционные решетки можно получать голографическим способом, впервые высказал Ю. Н. Денисюк в 1962 г. С тех пор голографические решетки получают все большее распространение в спектральном приборостроении благодаря своим преимуш,ествам отсутствию духов (порядков, обусловленных нарушением периодичности), малого случайного светорассеяния, быстроты изготовления, дешевизны, меньшей трудоемкости. Естественно, что от голографических решеток сложнее добиться нужных дифракционных характеристик, чем в случае нарезной решетки, например типа эшёлетт, где геометрия просто определяет так необходимый оптикам угол блеска. Однако, как неоднократно отмечалось во многих работах, при меньшей, чем у нарезных решеток, дифракционной эффективности решетки, изготовленные голографическим методом, обеспечивают более высокое качество волнового фронта в рабочем порядке (гармонике). К тому же в последнее время появился ряд работ, в которых утверждается, что с использованием фоторезиста и определенных схем записи — восстановления голограмм — возможно получение рельефно модулированных решеток с заданным профилем, в том числе и эшелеттов.  [c.6]


В предисловии проф. М. М. Бутусова отмечено, что большую роль в возрождении интереса к ДОЭ сыграла голография, хотя в настоящее время ясно, что голографический метод малопригоден для создания фокусирующих элементов (для высокочастотных спектральных решеток он по-прежнему сохраняет свое значение). Во-первых, трудно зарегистрировать интерференционную картину двух соосных пучков. Во-вторых, элементы, изготовленные на светочувствительных слоях, имеют низкие эксплуатационные качества. Наконец, при голографической записи невозможно совместить высокую дифракционную эффективность с низкой угловой селективностью получаемых элементов. Наиболее совершенный метод изготовления ДОЭ в настоящее время — фотолитографический, который основан на использовании прецизионного оптико-механического оборудования и ионного травления [2, 27, 36, 59]. ДОЭ, получаемые с помощью этого метода, удовлетворяют всем требованиям, предъявляемым к элементам оптических систем.  [c.6]

Дифракционная эффективность голографических решеток характеризуется отношением Х/й. Для решеток фирмы Жобен Ивон при условии 0,8 с Х/с1 < 1,7 эффективность имеет максимальное значение 60 %. Для соотношений Ш < 0,8 эта цифра снижается. В целом можно считать, что светосила голографических решеток ниже, чем классических (нарезных). Однако могут быть использованы методы изготовления голографических решеток с асимметричным профилем штриха путем экспонирования толстого слоя и получения стоячих волн. Специальное проявление с выборочным растворением дает возможность получить решетку с пилообразным профилем штриха (рис. 43.2). Для X = 488 нм удается достичь в пер-  [c.316]

Рассмотренные выше широко распространенные методы формирования дифракционного микрорельефа, являясь многоэтапными и дорогостоящими, в то же время не всегда позво.1шют добиться требуемого результата. Сложности начинаются, например, когда необходимо получить микрорельеф на неплоской (сильно выгнутой или вогнутой) поверхности, изготовленной из труднообрабатываемого материала. Метод прямой лазерной записи микрорельефа [68-70] предлагает альтернативный, относительно недорогой, способ получения дифракхщонного микрорельефа на раз-личных материалах. Использование высоко1штенсивного излучения эксимерного лазера для прямого лазерного травления микрорельефа с помощью селективного удаления (абляции) материала подложки оказывается в современных условиях высокопроизводительной и эффективной технологией изготовления ДОЭ [69, 70]. В настоящее время показана возможность получения этим методом субмикронных структур на ПММА, поликарбонате, алюминии, нержавеющей стаяли [70]. Экспериментальная схема для прямой записи микрорельефа с помощью эксимерного лазера 70] представлена на рис. 4.47. Устройство основано на высокопрецизионном пьезоэлектрическом перемещении подложки вдоль осей Х- с точностью 0,05 мкм в  [c.281]

Однако/область применения голографии в оптическом приборостроении не ограничивается только теми вопросами, которые были рассмотрены в кни1 е. Существует ряд областей, где. эффект от применения голографии в настоящее время не выяснен до конца. Например,, не ясны до конца перспективы использования голографических методов получения оптических. элементов со свойствами, аналогичными волоконно-оптическим устройствам. Разработчиков и технологов здесь привлекает то, что. элементы имеют все свойства оптического волокна, но отличаются от него простотой изготовления. В связи с ограниченным объемом книги в ней недостаточно полно освещены некоторые аспекты современного голографического приборостроения. В последнее время существует тенденция заменять в некоторых случаях оптические элементы голограммами. Приведенные в книге примеры использования голограмм в качестве линз и дифракционных решеток можно было бы дополнить еще множеством других примеров использования голографической оптики. Эта область голографии активно развивается, хотя возможности и эффективность использования голографи-  [c.121]

Важнейшими параметрами рентгеновских зеркальных систем являются их разрешающая способность и эффективная апертура. Последняя может сильно отличаться от геометрической апертуры из-за резкой зависимости коэффициента отражения от угла скольжения. Вследствие этой особенности расчет рентгеновских зеркальных систем скользящего падения представляет собой довольно сложную задачу. Обычный для оптики видимого диапазона расчет аберраций методом производных от функции оптического пути в данном случае может да-взть оольшую ПО вшкость, Б осоойшюсти коротковолновой части диапазона, где углы скольжения близки к критическим. Поэтому чаще используется более точный расчет на ЭВМ методом хода лучей с учетом реальных коэффициентов отражения для каждого луча при прохождении его через оптическую систему. Результаты этих расчетов могут быть представлены в аналитическом виде, удобном для быстрой оценки разрешения и эффективности и нахождения оптимальных параметров системы в каждом конкретном случае. Точность метода хода лучей в настоящее время вполне достаточна, поскольку разрешение реальных зеркальных систем из-за погрешностей изготовления далеко от дифракционного.  [c.158]


Экспериментальные результаты исследований процессов резки и сверления различных материалов с помощью ЛПМ Карелия стимулировали создание первой отечественной лабораторной технологической установки АЛТУ Каравелла , предназначенной для прецизионной обработки тонколистовых (до 1 мм) материалов изделий электронной техники. Средняя мощность излучения АЛТУ Каравелла в пучке дифракционного качества составляет не менее 20 Вт при ЧПИ 10 кГц. Многолетняя эксплуатация АЛТУ Каравелла убедительно показала, что импульсным излучением ЛПМ можно эффективно производить прецизионную обработку целого ряда материалов тугоплавких металлов (Мо, W, Та и т.д.), металлов с высокой теплопроводностью (Си, А1, Ag, Au и др.) и их сплавов, полупроводников (Si, Ge, GaAs, Si и др.), керметов, графита, естественных и искусственных алмазов, прозрачных материалов (стекло, кварц, сапфир) и др. Прецизионная обработка излучением ЛПМ имеет следующие преимущества высокую производительность изготовления деталей по сравнению с традиционными методами обработки (включая и электроискровой способ), прогнозируемое и контролируемое удаление обрабатываемого материала микропорциями, малую зону термического влияния, отсутствие расслоения материала, возможность обработки сложных поверхностей и под разными углами. Излучением ЛПМ эффективно производятся следующие технологические операции прямая прошивка отверстий диаметром 3-100 мкм, прецизионная контурная резка, скрайбирование.  [c.285]


Смотреть страницы где упоминается термин ДИФРАКЦИОННАЯ ЭФФЕКТИВНОСТЬ И МЕТОДЫ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ДОЭ : [c.286]    [c.64]    [c.391]    [c.419]   
Смотреть главы в:

Оптика дифракционных элементов и систем  -> ДИФРАКЦИОННАЯ ЭФФЕКТИВНОСТЬ И МЕТОДЫ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ДОЭ



ПОИСК



Дифракционная эффективность

Дифракционные методы

Метод эффективности



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте