Магний Количественный анализ

Освоенные промышленностью и выпускаемые серийно приборы МАР-1 и МАР-2 (СССР), MS-46 (Франция), JXA-3 (Япония) и др. имеют минимальный размер зонда около 0,1 мкм. Электроннооптические схемы всех приборов схожи [12]. Анализировать с применением рентгеноспектрального анализа можно элементы начиная с магния, а на некоторых установках —с бериллия. Разрешающая способность метода при количественном анализе—2 мкм, при качественном — десятые доли микрона. [c.237]

Метод микрорентгеноспектрального анализа основан на том, что пучок электронов с большой энергией фокусируется системой электромагнитных линз до микронного диаметра и направляется на выбранный участок образца, поверхность которого наблюдается под оптическим микроскопом при увеличении 400— 600. Попадая на образец, электроны возбуждают в анализируемом участке рентгеновское излучение, которое разлагается системой кристаллов в спектр и регистрируется счетчиками. По длине волны и интенсивности.рентгеновского излучения производится качественный и количественный анализы. Чувствительность метода различна для различных элементов. Точность количественного анализа зависит от условий возбуждения излучения и химического состава объекта, так как зависимость интенсивности от концентрации нелинейная. Для точных количественных измерений нужны эталоны, использование которых дает точность до 5 % без эталонов точность 10—15%. В настоящее время применяются серийные отечественные установки МАР-2, французские, английские, японские микроанализаторы. Они позволяют производить анализ элементов от магния до урана при локальности 2—5 мкм. Проектируются установки, которые будут анализировать бор, азот и др. Почти все микроанализаторы снабжены сканирующим устройством, поэтому одновременно можно производить анализ элементов в точке и получать топографическую картину распределения элементов в нескольких характеристических излучениях, а также в отраженных и поглощенных электронах. Метод микрорентгеноспектрального анализа обладает широкими возможностями для анализа структуры и состава переходной зоны. Принципиальным преимуществом этого метода является возможность с наивысшей пока степенью локальности изучать переходную зону многокомпонентных систем. [c.35]

Выпускаемые серийно приборы МАР-Г и МАР-2 (СССР), MS-46 (Франция), JXA-3 (Япония) и другие имеют минимальный размер зонда около О, мкм. Электронно-оптические схемы всех приборов схожи. С помощью рентгеноспектрального анализа можно анализировать химические элементы, начиная с магния, а на некоторых установках — с бериллия. Разрешаюп ая способность метода при количественном анализе — 2 мкм, при качественном — десятые доли микромиллиметра. [c.315]

Изучение процессов диффузии и микронеоднородного распределения легирующих элем ентов в сплавах осуществляли на металлографических шлифах. Количественный анализ проводили на микроанализаторах МАР-1М и Камебакс французской фирмы Камека ( Сатеса ) при силе тока 30 нА и напряжениях 10 кВ для сплавов алюминия с кремнием и магнием и 15 кВ для сплавов алюминия с цинком. Кроме того, для изучения структуры сплавов использовали микроанализатор JXA-5A фирмы Джеол ( / 0L ). [c.33]

С помощью спектрального анализа с некоторыми ограничениями в стали и чугуне выявляются марганец, хром, медь, ванадий, вольфрам, кобальт, никель, титан и магний. Однако содержание углерода этим методом можно определить лишь для простых углеродистых сталей. Количественного спектрального анализа углерода, фосфора, серы и кремния в легированных сталях не делают, поэтому, если изменяется лишь процентное содержание этих составляющих, стали рассортировать спектральным методом лельзя. [c.119]

Малые количества элементов типа серы в сплавах на никелевой основе и бора в сплавах на кобальтовой основе известны как вредные примеси если их содержание лишь слегка превышает установленный допустимый уровень, они катастрофически усиливают растрескивание в процессе сварки. В этих случаях чрезвычайно расширяется температурный интервал нулевой пластичности. Однако нередко у плавок с повышенной склонностью к растрескиванию содержание всех этих "малых примесей" не выходит за пределы, установленные спецификацией. Чтобы углубить понимание этой проблемы, на сплаве Hastelloy X было проведено статистическое исследование [23] с применением многофакторного анализа. Цель заключалась в том, чтобы определить количественно влияние восьми малых примесей на склонность к растрескиванию в зоне термического влияния сварного шва. Эта склонность усиливалась при повышенном содержании бора, серы, фосфора и углерода. Вредное влияние кремния и магния было небольшим, а марганец и цирконий оказывали слабое благоприятное [c.280]

Р. отличается от оптич. спектроскопии и инфракрасной спектроскопии специфич. особенностями а) благодаря малым частотам со и, следовательно, малым энергиям квантов в Р. исследуются квант, переходы между близко расположенными уровнями энергии. Это делает возможным изучение таких вз-ствий в в-ве, к-рые вызывают очень малые расщепления энергетич. уровня, незаметные для оптич. спектроскопии. В Р. исследуются вращат. и инверсионные уровни зеемановское расщепление уровней эл-нов и ат. ядер во внеш. и внутр. магн. полях [см. Микроволновая спектроскопия. Электронный парамагнитный резонанс (ЭПР) Ядерный магнитный резонанс (ЯМР)] уровни, образованные вз-ствием квадрупольных моментов ядер с внутр. электрич. полями [см. Ядерный квадрупольный резонанс (ЯКР)] и вз-ствием эл-нов проводимости с внеш. магн. полем [см. Циклотронный резонанс (ЦР)]. В магнитоупорядоченных средах наблюдается резонансное поглощение радиоволн, связанное с коллективным движением магн. моментов эл-нов (см. Ферромагнитный резонанс, Антиферромагнитный резонанс), б) Естеств. ширина спектральной линии в радио-диапазоне очень мала (Aw (o ). Наблюдаемая ширина Ло) обусловлена разл. тонкими вз-ствиями в в-ве. Анализ ширины и формы линий позволяет количественно их оценивать, причём ширина и форма линии в Р. может быть измерена с очень большой точностью, в) Измерение длины волны Я, характерное для оптич. спектроскопии, в Р. заменяется измерением частоты со, что осуществляется обычно радиотехнич. методами с большой точностью. Это позволяет измерять тонкие детали спектров, связанные с малыми сдвигами уровней [c.610]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...