Оптическая ось тонкие, основные параметр

Кривизна изображения, даваемого центрированной оптической системой, определяется четвертой суммой Siv, равенство нулю которой обеспечивает выполнение условия Пецваля, т. е. плоскостность изображения (если объект сам расположен на плоскости). Для системы, состоящей нз некоторого числа бесконечно тонких компонентов, сумма Siv пропорциональна выражению где Ф( — оптическая сила компонента i, я, — его основной параметр, определяемый формулой [c.584]

При расчетах оптических систем может возникнуть необходимость в вычислении основных параметров тонкого компонента для обратного хода лучей. Чтобы установить связь между основными параметрами в прямом (Р , Wl) и в обратном (Р , W ) ходе лучей, предположим, что луч, входящий в -й тонкий компонент, проходит через передний фокус (рис. 266, а) под углом =1, тогда а/ = О и в соответствии с формулами (506) имеем [c.356]

Так как марки оптического стекла двухлинзового объектива вы. браны, то по формулам (543) можно вычислить величину Р щ каждой линзы. Подставляя выражения (541) в формулы (540) и учитывая зависимости (542), получаем два уравнения квадратное и первой степени. В этих уравнениях неизвестными являются основные параметры и тонких линз объектива. Если квадратное уравнение будет иметь вещественные корни, то из по-, лученных решений целесообразно взять такие, которые соответствуют меньшим абсолютным значениям параметров Wx и ВТ, . 370 [c.370]

Величины Р, В/ и л называются основными параметрами бесконечно тонкого компонента они введены Г. Г. Слюсаревым в практику расчета оптических систем. Эти величины вычисляются при условии 1 = О и Ор = 1, зависят только от внутренних элементов компонента (радиусов поверхностей и показателей преломления стекол) и полностью определяют все пять аберраций 3-го порядка монохроматического луча. [c.36]

При расчете микрообъективов небольшой числовой апертуры и увеличения наиболее распространен алгебраический метод. Оптическая схема этих объективов обычно состоит из двух компонентов. В начальной стадии расчета влиянием толщин линз можно пренебречь, поэтому при разработке таких объективов весьма эффективна методика, основанная на применении теории аберраций 3-го порядка для систем, состоящих из тонких компонентов, которая разработана проф. Г. Г. Слюсаревым. Суть расчета заключается в составлении и решении нескольких линейных уравнений относительно основных параметров тонких компонентов Р, и С [64—66]. По найденным значениям основных параметров определяются конструктивные элементы и проводится контрольный расчет хода лучей. В случае, если вычисленные аберрации заметно отличаются от заданных вследствие перехода к реальным толщинам линз и влияния аберраций высших порядков, производится интерполяция отдельных коэффициентов аберраций 3-го порядка либо применяется описанный выше метод проб. [c.64]

Изучение состояния поляризации можно провести как в отраженном, так и в проходящем свете. В случае металлов преломленная волна практически поглощается в очень тонком поверхностном слое. Поэтому в данном случае целесообразно использовать измерения в отраженном свете. Наоборот, при слабом отражении от диэлектриков основным методом исследования является эллипсометрия в проходящем свете. В тех случаях, когда возможны соответствующие измерения в отраженном и проходящем свете, эллипсометрия в отраженном свете удачно дополняет эллипсометрию в преломленном свете, и наоборот. Следует отметить, что эллипсометрия позволяет не только определять оптические константы чистых поверхностей материалов, она позволяет также, исходя из непосредственно измеряемых параметров эллипса поляризации, определить характеристики тонких поверхностных пленок, возникающих вследствие адсорбции и т. д., например толщину (вплоть до долей ангстрема) и показатель преломления (с точностью до 10" ) поверХНОСТНОГО слоя. [c.64]

Рассмотрим оптическую систему, состоящую из k бесконечно тонких оптических элементов (преломляющих поверхностей или ДЛ). Все обозначения параметров элементов и соотношения между ними даны в п. 2.2, где получены суммы Зайделя. При необходимости воспользуемся рис. 2.5, на котором показан ход нулевых лучей в системе. Приведенный ниже вывод первой хроматической суммы в основном соответствует работе [45], однако имеется и ряд отличий. Во-первых, как и в п. 2.2, не использованы углы нулевых лучей с осью системы. Во-вторых, несколько иначе определены вспомогательные величины (в них не включены высоты нулевых лучей). Наконец, исходным соотношением служит не инвариант Аббе [первое из выражений (1.24)], а обобщенная формула отрезков (1.25), которую запишем для /-го элемента в следующем виде [c.182]

Основная часть этой книги посвящена стеклянным волокнам, но и пластиковые волокна нельзя оставить совсем без внимания. Самая высокая производительность пластиковых волокон составляет 50 Мб/сек на расстоянии более 100 метров. Этот уровень производительности является вполне конкурентным по сравнению с медными скрученными парами. Пластиковые волокна имеют относительно большие размеры ядер и очень тонкие оптические оболочки. Типичные размеры составляют 480/500, 735/750 и 980/1000 микрон, при этом допустимые отклонения от геометрических характеристик у пластиковых волокон намного большие, чем у стеклянных. Пластиковое волокно с диаметром ядра 480 микрон и 500-микронной оптической оболочкой в действительности допускает отклонения от указанных параметров на 15 микрон в ту или другую сторону. [c.58]

Предположим, что на основании изложенных выше соображений рассчитаны основные параметры Р, W и С компонентов оптической системы в предположении, что они бесконечно тонкие. По методике, изложенной в гл. V [21, при переходе к конечным (отличным от нуля) толщинам лняз возникают разные воз-можиости. [c.590]

Рассмотрим коррекционные возможности такой оптической схемы. Из теории аберраций 3-го порядка следует, что один тонкий компонент обладает тремя основными параметрами Р, Х и С (параметр я практически постоянен и равен 0,7). Таким образом, у системы из двух тонких компонентов имеется шесть параметров, то есть можно в принципе исправить четыре монохроматические аберрации и две хроматические. В большинстве случаев при расчете объективов микроскопа требуется исправление двух хроматических аберраций (положения и увеличения) и трех монохроматических сферической, комы и астигматизма. Если требуется более тщательное исправление кривизны поверхности, то ее можно исправить путем выбора соответствующего типа фронтальной части с нужным значением коэффициента Петцваля. [c.85]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...