Кристаллография индексы плоскостей

Большинство исследователей, однако, считают, что переход от одной стадии упрочнения к другой независимо от типа кристаллической решетки в той или иной степени связан с изменением кристаллографии скольжения, а именно числа и индексов плоскостей скольжения. [c.113]

При выборе кристаллографических осей необходимо придерживаться правил (см. табл. 1.1), принятых в кристаллографии и обязательных для всех исследователей. Выполнение этих правил сводит к минимуму возможный в этом случае произвол. Следует всегда помнить, что от расположения осей координат зависят кристаллографические индексы, определяющие положение узловых плоскостей и направлений в кристалле. [c.16]

Кристаллографические плоскости. Направления кристаллографических плоскостей рт.носительно выбранных осей координат определяются особыми индексами. В кристаллографии эти индексы, , [c.17]

Так как взаимно параллельные плоскости с точки зрения кристаллографии равнозначны, справедливо, что (200) = (100) (202) S (101). Эти тождества вытекают также из уравнения (6). В кубической системе миллеровские индексы (Л + -г 1 ) формально взаимозаменяемы, включая отрицательные индексы, например (202), (220), (022), (202) и т. д. [c.161]

Понятие об индексах и обозначении посредством их гео.метрически.х форм кристалла дает гео.метрическая кристаллография. Замети.м только, что индексы получаются из параметров и что параметры представляют целые числа, указывающие отношение отрезков осей кристалла, отсекаемых взятой плоскостью на воображаемой координатной системе. Например, для куба три указанные направления его плоскостей будут иметь следующие индексы (фиг. 15, а, 6, в). [c.18]

Индексы кристаллических решеток, В кристаллографии принято характеризовать плоскости и направления так называемыми индексами Миллера. Индексация в удобной форме определяет различные положения плоскостей и направлений в кристаллической решетке. Используемая индексация основана на том, что все параллельные плоскости в кристаллической решетке, построенные идентично, должны иметь одинаковые индексы. [c.117]

Прежде чем перейти к анализу распространения волн в конкретных кристаллах, напомним основные сведения о широко распространенном в кристаллографии методе обозначений кристаллографических осей и плоскостей с помош,ью индексов Миллера (см., например, [5]). Метод основан на том, что положение / любого узла кристаллической решетки (рис. 9.2, а) выражается через три основные [c.216]

Из кристаллографии известно, что индексы направления и нер-пендякулярной к нему плоскости одинаковы. Тогда пл0(ск0сть (hkl) перпендикулярна [hkl], лежащему в (uvw) и, следовательно, этой плоскости. Косинус угла ф между перпендикулярными плоскостями равен О, а числитель выражения для os ф в кубических рещетках и есть сумма произведений индексов плоскостей, расположенных под углом ф друг к другу. Отсюда os [c.49]

МИЛЛЕРОВСКИЕ ИНДЕКСЫ — взаимно простые (но имеющие общего делителя) целые числа /г, k, I, принятые для обозначения граней кристалла. ] сл1г за начало координат (см, рис.) взять один из узлов пространственной решетки, а за оси х,у, z — любые три ряда узлов о общим узлом в начале, то всякая узловая плоскость (возможная грань кристалла) может быть параллельным переносом смещена так, что в новом положении она будет отсекать от осей отрезки та, пЬ, рс, где т, числовые параметры грани, ницы, равные наименьшим расстояниям между узлами но осям. Раньше для обозначения граней кристалл, применялись (ио предложению Вейсса) именно эти числа т, п, р. В современной кристаллографии д. гя этой цели пользуются исключительно миллеровской символикой, как паиболее удобной при всех расчетах. Вейссовские параметры связаны с М. и. соотношением [c.249]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...