Мультиплекс-интерферометры

Мультиплекс-интерферометр. При установке последовательно двух многолучевых интерферометров с расстоянием между зеркалами h-i < fts (см. гл. II, п. 3) один из них можно использовать как монохроматор, вырезающий спектральный интервал бЯ. = = При этом выделение максимума интерференции в интерферометре с осуществляется перестройкой интерферометра с ht, например, изменением длины волны максимума за счет варьирования плотности внутри интерферометра. Этот способ так же, как предыдущий, связан с существенными световыми потерями. [c.72]

К о р о л е в Ф. А., М а м е д - 3 а д е С. М. Выделение монохроматических излучений на рубине с помощью клинообразного мультиплекс интерферометра со встречной дисперсией. Вестник Москопского Университета сер. Физика, 1966, № 1, стр. 105—109. [c.239]

Мультиплекс-интерферометры в настоящее время иснользуются для изучения сверхтонкой структуры спектральных. линий при определении ядерных моментов, изотопических сдвигов спектральных линий, количественном спектральном анализе при определении концентрации изотопов и т. д. [c.205]

Рис. 7.3,3. Распределение интенсивности а — тонкий интерферометр б — толстый интерферометр б — мультиплекс-интерферометр

Доплеровское уширение спектральных линий в значительной степени лимитирует возможности оптической спектроскопии высокого разрешения. Известно (см. 5.7), что, увеличивая коэффициент отражения зеркал интерферометра при высокой точности их изготовления, повышая расстояния между отражающими поверхностями и используя сложные интерфером.етры (мультиплексы), можно довести разрешающую силу интерферометра до значения порядка 10 и даже более. Однако при реализации столь большой разрешающей силы в оптических экспериментах часто возникают серьезные затруднения. Конечно, могут появиться задачи, при которых требуется с высокой точностью записать широкий контур, но если обратиться к возможности раздельного наблюдения двух близких по длине волны линий при учете неизбежных флуктуаций источника, то, даже используя прибор высокой разрешающей силы, нельзя их разрешить, если доплеровские контуры сильно перекрываются. Нетрудно оценить ту область, где возникают такие перекрытия пусть л = 5000А и 6Лдо = 0,005А тогда У./ЪУ. 10 , что и объясняет трудность реализации разрешающей силы, если она составляет несколько миллионов. [c.393]

Следует отметить, что многолучевые интерферометры можно классифицировать по числу зеркальных отражательных поверхностей. Наибольшее распространение получили многолучевые интерферометры с двумя зеркальными поверхностями. Интерферометры также могут состоять из трех (последовательный тип) или Четырех (мультиплекс) зеркальных поверхностей. [c.12]

Одним из вариантов клинового интерферометра является мультиплекс-эталои со встречной дисперсией [66]. Оп состоит из двух простых интерферометров Фабри-Перо 1—2 и 3—4, работающих в клинообразном режиме (рис. 42). В отличие от обычного Мультиплекс-эталона ход дисперсии в обоих интерферометрах направлен в противоположные стороны, поэтому совмещение максимумов Интерференции в каком-либо направлении будет только для одной длины волны. Варьируя величины ftj и h , ФJ и фз (соответственно расстояние между зеркалами и углы интерферометров), можно добиться гашения других максимумов, j[c.73]

Из изложенного вьппе следует, что для повышения разрешаю-ш,ей способности многолучевого интерферометра необходимо увеличивать его размеры и в случае интерферометра Фабри — Перо расстояние между его зеркальными поверхностями. Однако при этом СИЛЬНО уменьшается область дисперсии, что при исследовании СЛОЖНЫХ спектров очень затрудняет работу. Поэтому при решении ряда задач по исследованию сверхтонкой структуры спектральных линий применяют сложные интерферометры тина мультиплексов, которые представляют собой два последовательно установленных интерферометра Фабри — Перо ). [c.203]

Сочленение двух интерферометров в мультиплекс приводит, в) с одной стороны, к повышению [c.203]

Иногда мультиплекс изготавливают в виде сложного интерферометра, компоненты которого посажены на оптический контакт, что образует единую систему. [c.203]

Интерферометр Фабри — Перо проще в обращении и обеспечивает более высокую разрешающую силу, чем приборы с большими дифракционными решетками. Основной его недостаток — малая величина свободной области дисперсии. Система из двух последовательных интерферометров, толщины которых находятся в простом кратном отношении (мультиплекс), имеет область дисперсии, ха- [c.326]

Рис. 7.3.2. Принцип работы сложного интерферометра мультиплекса

Сложный интерферометр Фабри—Перо — мультиплекс . Одиночный интерферометр Фабри—Перо не может обеспечить большую область дисперсии и одновременно высокую разрешающую способность. Это утверждение вытекает из соотношения (3.7.23). Чем меньше величина бЯ, и следовательно, больше разрешающая способность прибора, тем меньше область дисперсии Л.Х. [c.465]

Рассмотрим способ увеличения области дисперсии, в котором используется дополнительный ИФП. Это так называемый сложный интерферометр, состоящий из двух последовательно расположенных интерферометров, толщины которых находятся в кратном отношении (рис. 7.3.2). Такой сложный прибор называют мультиплексом . В фокальной плоскости объектива О1 [c.465]

Чтобы преодолеть это противоречие, используют сложный интерферометр, состоящий из двух последовательно расположенных интерферометров (рис. 18.1). Такой сложный прибор называют мультиплексом. В фокальной плоскости объектива 0 можно наблюдать интерференционную картину, [c.137]

Распределение интенсивности в тонком , толстом интерферометрах и в интерферометре-мультиплексе [c.138]

Интерферометр-мультиплекс ИТ-36. Интерферометр ИТ-36 состоит из двух эталонов Фабри—Перо, имеюш,их кратное отношение тол-щ,ин. В комплект прибора входят набор кварцевых промежуточных колец (с толщ,инами 1, 2, 4, 8, 16, 32, 64 и 128 мм), соответствующейй набор корпусов, проекционный объектив и форвакуумный насос. Прибор предназначается для изучения сверхтонкой структуры спектральных линий. [c.138]

Трехзеркальный многолучевой интерферометр. Рассмотрим систему, которая образуется при сближении двух эталонов, входящих в мультиплекс (см. рис. 18.1), до совпадения второй пластинки первого эталона с первой пластинкой второго эталона. Схематически такая система изображена в виде трех полупрозрачных зеркальных поверхностей М, М и Ы (см. рис. 8.3). Луч, попавший в такую систему, испытывает многократные отражения на всех трех полупрозрачных поверхностях. При этом интерферируют не только лучи, отразившиеся в промежутках М—М и М —Л , но и лучи, испытавшие отражение в промежутке между зеркалами М—Л , как показано на рисунке. [c.140]

СДВИГОВ уровней энергии атомов, изучение вакуумных эффектов, исследование тонкой структуры линий рэлеевского рассеяния и др. К спектроскопам высокой разрешающей силы относятся ступенчатая решетка (эшелон Майкельсона) отражательный эшелон, пластина с боковым входом луча (пластина Люммера—Герке) интерферометр (пластина) Фабри —Перо и сложный интерферометр-мультиплекс (на основе последнего прибора). [c.448]

Сложный интерферометр (мультиплекс) [c.457]

Стожный интерферометр (мультиплекс) состоит из двух эталонов Фабри —Перо с разными толщинами и Лз (рис. 288, вверху). Условием максимума для двух пластин является [c.457]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...