Силы осцилляторов, измерение излучения

Когда распад возбужденного состояния обусловлен не одним переходом, а двумя или несколькими, но один из них представляет собой переход в основное состояние, так что сила осциллятора этого перехода может быть рассчитана по данным измерения поглош,ения, величину можно вычислить по отношению интенсивностей излучения разных линий и по абсолютной величине силы осциллятора для известной линии. Точность таких расчетов не очень велика, поскольку наблюдающаяся интенсивность излучения при переходе в основное состояние изменяется из-за поглощения. В случае же частично разрешенных переходов показатель поглощения обычно слишком мал для того, чтобы он мог дать значительный вклад. [c.290]

Контур линии излучения может искажаться реабсорбцией. Если этого не учитывать, то измеренные -силы осцилляторов могут отличаться от истинных на несколько порядков [36]. [c.295]

Последние измерения силы осциллятора первой отрицательной системы азота дают значения, близкие полученным в работе [9]. Так, в работе [10] при исследовании излучения дугового разряда в азоте найдено значение 0,032 значение, близкое этому, дают также экспериментальные данные по исследованию излучения азота, полученные в настоящей работе их анализ приведен ниже. Измерения абсолютной интенсивности излучения азота в области (0,1) полосы первой отрицательной системы азота, проведенные в работе [11], дали значения 0,034. В работах [7, 8] на основе анализа экспериментальных значений излучательной способности азота, нагретого ударной волной, получено значение силы осциллятора, равное 0,053. Это [c.314]

Предложенный академиком Д. С. Рождественским метод крюков для этих целей сыграл большую роль в развитии представлений об излучении атомов. Метод позволяет измерить важнейшие спектроскопические характеристики — вероятности переходов (сил осцилляторов). Поскольку такие измерения имеют принципиальное значение, рассмотрим этот вопрос более подробно, для чего приведем основные сведения из теории дисперсии. [c.152]

Отношение измеренной интенсивности излучения из расчета на слой единичной толщины к интенсивности абсолютно черного тела дает непосредственно исправленный коэффициент поглощения к %. Сила осцилляторов для системы полос Шумана — Рунге была определена путем исследования интенсивности излучения в чистом кислороде при сравнительно низких температурах 3000—4000° К, получающихся в прямой волне. [c.284]

ДЛЯ натрия показан на фиг. 104. Если бы мы попытались интерпретировать результаты измерений мягкого рентгеновского излучения в модели, где сила осциллятора — константа, то из измерений интенсивностей, отвечающих переходам в s- и р-состояния, мы получили бы отличающиеся друг от друга плотности состояний. [c.384]

Определение силы осциллятора фиолетовой системы СК осуществлялось путем независимого измерения излучательной и поглощательной способностей О—О полосы фиолетовой системы СМ. Измерение излучательной способности О—О полосы проводилось с помощью фотоэлектрического канала установки по методике, изложенной выше. Затем с помощью закона Кирхгофа вычислялась поглощательная способность. Метод непосредственного измерения поглощательной способности состоял в следующем. Излучение вспомогательного источника света (ксеноновая лампа ДКСШ-1000), [c.317]

Как ВИДНО ИЗ табл. 11.2, имеется сильный разброс в данных о силах осцилляторов для полос /<>>. Существует также большая неопределенность в функциях Re (г). Таким образом, совпадение расчетов с интегральными характеристиками излучательной способности не должно рассматриваться как доказательство того, что рассчитанные спектральные коэффициенты поглощения корректны во всех деталях. Например, по данным недавней экспериментальной работы Вюрстера, Тринора и Томпсона [39, 40] излучение вблизи Я = 1 мк, ранее приписывавшееся первой полон и-тельной полосе N2, вероятно, определяется переходами между возбужденными состояниями N0. Это наблюдение не только означает, что придется, по-видимому, считать иной силу осциллятора для первой положительной полосы N г, но для сохранения прежнего измеренного значения интегральной излучательной способности необходимо будет приписать новые значения еще нескольким силам осцилляторов. [c.415]

Спектроскопия фотолюминесценции твердых тел методически основана на измерении спектра вторичного свечения при фиксированном спектральном составе возбуждающего света и на измерении спектра возбуждения фотолюминесценции, когда приемник регистрирует вторичное излучение в узком спектральном интервале и измеряется зависимость сигнала от частоты возбуждающего света. В первом методе измеряемый спектр определяется главным образом силой осциллятора и временем жизни излучающих состояний, энергетически расположенных вблизи края фундаментального поглощения, и косвенно процессами энергетической релаксации горячих возбужденных состояний. Во втором методе в первую очередь получается информация о спектре и силе осциллятора (но не о времени жизни) электронных возбуждений в энергетической области выше края поглощения. Вклад в фотолюминесценцию полупроводников могут вносить различные механизмы излучательной рекомбинации, такие как зона—зона , зона—примесь , донор—акцептор , с участием фонона, излучение свободных, связанных или локализованных экситонов, а также экситон-поляритонная и биэкситонная рекомбинации. Фотолюминесценция структур с квантовыми ямами имеет свои характерные особенности. В частности, низкотемпературная люминесценция нелегированных квантовых ям обычно связывается с излучательной рекомбинацией экситонов, локализованных на шероховатостях интерфейсов и флуктуациях состава. Дело в том, что в реальности интер- [c.134]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...