Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Киш проекционные лампы накаливания

Рис. 57. Микроинтерферометр МИИ а — общий вид б—оптическая схема (/ — лампа накаливания 2— конденсор 3 — ирисовая диафрагма 4 — проекционный объектив 5 — разделительная пластинка 6 — пластинка 7 — объектив 8 — фокальная плоскость объектива Рис. 57. Микроинтерферометр МИИ а — общий вид б—<a href="/info/4760">оптическая схема</a> (/ — <a href="/info/69101">лампа накаливания</a> 2— конденсор 3 — <a href="/info/237513">ирисовая диафрагма</a> 4 — <a href="/info/412097">проекционный объектив</a> 5 — разделительная пластинка 6 — пластинка 7 — объектив 8 — <a href="/info/12774">фокальная плоскость</a> объектива

Проекторы, в основу которых положен принцип светового сечения, предназначены для контроля размеров и формы деталей, сложных по контуру (например, турбинные лопатки и т. п.). На фиг. 1, d дана принципиальная схема проектора для контроля деталей по контуру светового сечения. Осветительное проекционное приспособление состоит из четырех-шести ламп накаливания с проекционными линзами б конденсоров 2, которые находятся в одной плоскости, перпендикулярной к оптической оси объектива. Эти осветители установлены на круглом вращающемся столе. Узкая зона света 392  [c.392]

Нить лампы накаливания / проектируется коллектором 2 в плоскость апертурной диафрагмы 4. В фокальной плоскости проекционного объектива 6 помещена полевая диафрагма 5, которая изображается объективом в бесконечности. Параллельный пучок лучей попадает на разделительную пластинку 7, которая одну половину лучей отражает, а другую — пропускает. Отраженный от пластинки 7 пучок лучей собирается в фокусе объектива ]0 на поверяемой поверхности детали 8, установлен-  [c.349]

Голографическая система считывания имеет определенные преимущества в смысле надежности над обычными пленочными проекционными системами, если голограммы выполнены на твердой пластичной пленке и если считывание происходит с помощью лампы накаливания, а не лазера.  [c.458]

Измерение коэффициента поглощения К в функции от длины волны производилось при помощи монохроматора двойного разложения и фотоэлектрического фотометра. Установка позволяла пользоваться источником света малой интенсивности и производить измерения со слабо окрашенными кристаллами, не вызывая- при этом их заметного обесцвечивания. Расположение приборов в установке схематически изображено на рис. 20, где М — монохроматор, К — кристалл, Z — счетчик фотонов, Li — лампа накаливания (12 вольт, 25 ватт), А — источник возбуждения (конденсированная искра или рентгеновская трубка), Р—фотоэлемент. La— источник света для обесцвечивания кристалла (проекционная лам--па 1000 ватт), 1 и 2 — отводы к усилителям.  [c.54]

Для работы в ближней ультрафиолетовой, видимой и ближней инфракрасной областях используются лампы накаливания. Они характеризуются равномерным распределением энергии в спектре. В спектроскопии применяются проекционные лампы, автомобильные лампы и лампы с ленточной нитью, которые обладают достаточно высокой яркостью.  [c.391]

B) Кинопроекторы, которые являются стационарными или портативными аппаратами для диаскопической проекции движущихся изображений, имеющих или не имеющих звуковой дорожки на той же пленке. Они имеют оптическую систему, которая состоит по существу из источника света, рефлектора, конденсатора и проекционного объектива. Проекторы имеют также механизм, обычно состоящий из мальтийского механизма для транспортирования пленки, который прерывистым образом протягивает пленку за оптической системой, обычно с той же скоростью, с которой снимался фильм, и источник света закрывается, когда пленка движется по фильмовому каналу. Источник света в кинопроекторах - обычно электрическая дуговая лампа, но в некоторых проекторах могут использоваться лампы накаливания. Кинопроекторы обычно оснащаются устройством обратной перемотки пленки и вентилятором.  [c.95]


Рис. 5. Микрофотометр МФ-2 а — общий вид б — оптическая схема (/ — нить лампы накаливания 2 — конденсор 3 — зеленые фильтры 4 и 8 — поворотные призмы 5 — объектив 6 — измеряемая спектрограмма 7 — проекционный объектив 9— экран со щелью 10 — линза И — фотоэлемент, отсчетная система 12 — конденсор 13 — стеклянная пластинка со шкалой 14 и 15 — объектив 6 — зеркало гальванометра 17 — поворотная призма 18 — объектив 19 — зеркало 20 — матовый экран 2/— коррекционная линза 22—оптический клин) Рис. 5. Микрофотометр МФ-2 а — общий вид б — <a href="/info/4760">оптическая схема</a> (/ — <a href="/info/69244">нить лампы накаливания</a> 2 — конденсор 3 — зеленые фильтры 4 и 8 — поворотные призмы 5 — объектив 6 — измеряемая спектрограмма 7 — <a href="/info/412097">проекционный объектив</a> 9— экран со щелью 10 — линза И — фотоэлемент, отсчетная система 12 — конденсор 13 — стеклянная пластинка со шкалой 14 и 15 — объектив 6 — зеркало гальванометра 17 — поворотная призма 18 — объектив 19 — зеркало 20 — матовый экран 2/— коррекционная линза 22—оптический клин)
Для того чтобы сильно осветить предмет (диапозитив, шаблон), сложный конденсор собирает световые лучи от источника света (электрической дуги, лампы накаливания). Изображение кратера дуги или тела накаливания лампы, т. е, выходной зрачок осветительного устройства, должно совпадать со входным зрачком проекционного объектива, так как в этом случае достигается равномерное и наиболее яркое освещение изображения у.  [c.206]

Кпд и расчет проекционных уста-н о в о к. Из полного светового потока, даваемого источником света, поступает в осветительную систему лишь част ., определяемая углом захвата этой системы (и кривой распределения света источника). Из этой части теряется известный % за счет того, что мы вырезаем из круглого сечения освещающего пучка прямоугольную часть, соответствующую рамке проектируемого изображения при использовании пучка до углов изображения эта потеря составляет 36%. Далее мы имеем еще потери света в осветительной и проекционной системе, составляющие около 4% на каждую поверхность раздела стекло—воздух на отражение. Предполагается при этом, что не имеется еще потерь за счет неполного использования освещающего пучка проекционной системой. Практически в современных Ф. п. для диапроекции мы получаем при применении конденсоров кпд 3—7%, при п]эименении зеркальной оптики 8—20% для эпископической проекции 0,2—0,4%. Для ориентировочных подсчетов работы проекционных установок могут служить следующие данные освещенность экрана в 1х д. б. для маленьких экранов не менее 10—20 1х, для больших— в 10 раз больше ширины экрана, выраженной в м. Отсюда и из вышеприведенных цифр для кпд можно определить либо величину возможного экрана по заданному световому потоку источника либо величину источника света для данного экрана Е 8=Ф>г1, где Е—освещенность на экране в 1х, S—площадь экрана в м , Ф—световой поток источника в Im, jj— коэфициент полезного действия проекционного прибора. Для примерного подсчета светового потока источника можно пользоваться соотношениями для дуговых ламп Ф — 900 х силу тока, для проекционных ламп накаливания Ф = 154-20 X мощность в W.  [c.37]

Оптическая схема прибора представлена на рис. 33, а. Микроскоп ОРИМ-1 выполнен по схеме однообъективного прибора, в котором роль объективов проекционного и наблюдательного тубусов выполняет один объектив. Нить лампы накаливания 23 расположена в фокусе коллектора 22. Параллельный пучок света, отразившись от зеркала 2], поступает через светофильтр /7  [c.116]

Фиг. 23. Схема поляризационной установки БПУ 1 — источник света (ртутная лампа СВДШ-250 или лампа накаливания с короткой нитью) 2—коллектор 120/180 J — светофильтр Х=54б,1. илл 4 У — поворотные поляроиды с лимбами, свободный 0 130 мм Su 7 — поворотные, откидные слюдяные пластинки четверть волны , свободный 0 130 мм 5 — модель в нагрузочном устройстве на координатнике 9телецентрический проекционный объектив /= 400, совместно с коллектором изображающий источник света на ирисовой диафрагме 10 (перемещается вместе с объективом) с увеличением 2,2 и модель — на фотопластинке 11 в масштабе от —1 до —1,5 или на настенном экране в масштабе от —1 до —5 /2 — устройство с поворотным зеркалом для наблюдения со стороны модели. Фиг. 23. <a href="/info/75316">Схема поляризационной установки</a> БПУ 1 — <a href="/info/10172">источник света</a> (<a href="/info/176012">ртутная лампа</a> СВДШ-250 или <a href="/info/69101">лампа накаливания</a> с короткой нитью) 2—коллектор 120/180 J — светофильтр Х=54б,1. илл 4 У — поворотные поляроиды с лимбами, свободный 0 130 мм Su 7 — поворотные, откидные слюдяные <a href="/info/25447">пластинки четверть волны</a> , свободный 0 130 мм 5 — модель в <a href="/info/89398">нагрузочном устройстве</a> на координатнике 9телецентрический <a href="/info/412097">проекционный объектив</a> /= 400, совместно с коллектором изображающий <a href="/info/10172">источник света</a> на <a href="/info/237513">ирисовой диафрагме</a> 10 (перемещается вместе с объективом) с увеличением 2,2 и модель — на фотопластинке 11 в масштабе от —1 до —1,5 или на настенном экране в масштабе от —1 до —5 /2 — устройство с поворотным зеркалом для наблюдения со стороны модели.

Эго — формула Чиколева—Манжена. Она применима к тем случаям, когда выходной зрачок имеет сложный вид, например в проекционных системах, когда источник света в, виде нитей или спирали лампы накаливания изображается конденсором на входной зрачок проектирующего объектива.  [c.426]

Пример. Определить освещенность в люксах на экране (матовое стекло), полученную при помощи проекционной системы со светопропу-сканием % — 0,3 входная апертура объектива А = 0,17, масштаб изображения на экране М = 60 , источником света служит лампа накаливания СЦ-61. Коэффициент светонропускания экрана = 0,7. Решение. По формуле (61)  [c.130]

К качеству проекционной оптики предъявляются высокие требования. Проекционные объективы хорошо исправляются на дис-торсию и астигматизм. Тело накала источника света желательно иметь возможно меньшим, так как от его размера зависит резкость изображения объекта. В качестве источников света применяются специальные интенсивные лампы накаливания.  [c.119]

Рис. 4. Спектропровктор ПС-18 а — общий вид б — оптячеслая схема (1 — зеркальный рефлектор 2 — нить лампы накаливания 3—9 — сложный конденсор 10 — поворотная призма 1 — стекло предметного столика с рассматриваемой спектрограммой 12 — проекционный объектив 13 — экран) Рис. 4. Спектропровктор ПС-18 а — общий вид б — оптячеслая схема (1 — зеркальный рефлектор 2 — <a href="/info/69244">нить лампы накаливания</a> 3—9 — сложный конденсор 10 — поворотная призма 1 — <a href="/info/465476">стекло предметного</a> столика с рассматриваемой спектрограммой 12 — <a href="/info/412097">проекционный объектив</a> 13 — экран)
Пример. Определить освещеннсють в люксах на экране (матовое стекло)> полученную при помощи проекционной системы со светопропусканием т = 0,25 входная апертура объектива А = 0,2 масштаб изображения на экране М = = 50Х источником света служит лампа накаливания СЦ-61 (яркость В— 280 сб). По формуле (П.23) находим, что Е = 35 лк.  [c.22]


Смотреть страницы где упоминается термин Киш проекционные лампы накаливания : [c.214]    [c.183]    [c.183]    [c.36]    [c.37]   
Смотреть главы в:

Справочник конструктора оптико-механических приборов  -> Киш проекционные лампы накаливания



ПОИСК





© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте