Принцип работы электронно-лучевой трубки

ПРИНЦИП РАБОТЫ ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВОЙ ТРУБКИ [c.23]

Отражательные электронные микроскопы работают по принципу сканирования ( ощупывания ) исследуемой поверхности электронным лучом, имеющим развертку по двум взаимно перпендикулярным направлениям (растровые электронные микроскопы — РЭМ). Изображение в РЭМе получается на экране электронно-лучевой трубки и может быть сфотографировано. Диаметр электронного пучка не превышает 10 м (100 А), что позволяет исследовать малые участки поверхности. [c.112]

В промышленности используются позиционные системы программного управления серии Размер-2М , изготовляемые предприятиями электротехнической промышленности для автоматизаций сверлильно-расточных, токарно-карусельных и протяжных станков с длительным циклом обработки. Система предусматривает три вида управления позиционное управление с автоматическим и ручным вводом программы (прямоугольное формообразование) то же без программирования скоростей подачи и главного движения (позиционирование) позиционное управление только с ручным вводом программы (преднабор). Система построена по принципу абсолютного отсчета положения с использованием многоотсчетных сель-синовых фазовых ДОС. Работа узлов ввода, хранения и переработки информации контролируется системой индикации, выполненной на телевизионной электронно-лучевой трубке позволяющей выводить на экран до 160 знаков, что одновременно обеспечивает оценку положения всех подвижных органов введенной программы, а также вспомогательной контрольной информации. [c.209]

Принцип работы растроюго электронного микроскопа заключается в том, что, изменяя длину волны электронов, можно вызвать и зафиксировать или характеристическое рентгеновское излучение микрообъемов поверхности о кта, или поток вторичньк электронов. Изображение в растровом микроскопе дается на экране катодно-лучевой трубки и синхронизировано со сканированием поверхности образца электронным лучом. Таким образом, на экране можно получать изображения сканируемого участка поверхности в рентгеновских лучах, поглощенных или отраженных электронах, а также получать, используя эталоны элементов, их концентрационную кривую вдоль линии сканирования. [c.44]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...