Статистические методы оценки шероховатости поверхности

Статистические методы оценки шероховатости поверхности [c.22]

Косвенный метод измерения параметра шероховатости поверхности применяют при измерении крупногабаритных изделий, например оболочек большого диаметра или в труднодоступных местах деталей (пазы, канавки и т. п.). Этот метод заключается в том, что с измеряемой поверхности ВКПМ снимают отпечаток (слепок) и производят его измерение. Для определения оптимального материала для снятия слепков были проведены экспериментальные исследования. В качестве материалов для снятия слепков применяли воск, целлулоид, масляно-гуттаперчевую массу и протакрил. Удовлетворительные результаты получаются при применении масляно-гуттаперчевой массы и протакрила (табл. 3.5). В таблице приведены средние из десяти измерений значения параметров Рг и Ро, исправленной дисперсии 5 , среднеквадратического отклонения 5, точности оценки б величин Рг и Ро с надежностью 7 = 0,99 и доверительные интервалы для Рг и Ра, вычисленные по методике статистической оценки параметров распределения [87]. [c.59]

Величина поверхности и пористость. Для сравнения эксперимента с теорией и для анализа механизмов разыгрывающихся на поверхностях разнообразных процессов, измеренные электрофизические и адсорбционные параметры свободных поверхностей относят к единице поверхности исследуемого объекта. Возникает вопрос — как измерить величину этой поверхности. Данные измерений на монокристаллах обычно относят к величине геометрической поверхности, которая, как видно из рис.1 (введение) может быть во много раз меньше величины поверхности, доступной для адсорбции сравнительно небольших по размеру молекул. Отношение такой "адсорбционной" поверхности к геометрической часто называют коэффициентом шероховатости. Качественные оценки этого коэффициента делаются на основе статистической обработки данных оптической и электронной микроскопии. Прямое определение поверхности адсорбционными методами в случае массивных тел, как правило, невозможно из-за малой величины поверхности. Значительный професс в измерении полной поверхности тонких пленок был достигнут в последние годы благодаря использованию пьезорезонансных кварцевых весов. В них измеряется сдвиг резонансной частоты монокристалла а-кварца с нанесенной на его поверхность пленкой [c.227]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...