Система со сканированием лазерным лучом

В этих системах используется ряд приемов, позволяющих развернуть луч в пространстве механическое вращение зеркал и призм, колебание зеркала с помощью вибраторов и пьезоэлементов и др. [261. На рис. 35, д показана схема сканирования лазерного луча 1 по поверхности детали 3 с помощью вибрационного дефлектора 2. Управление углом поворота дефлектора можно осуществлять как механическим, так и электромагнитным способом. Механический способ управления имеет ряд существенных недостатков вследствие своей инерционности, в частности, невысокую точность и сравнительно малые скорости перемещения светового пятна. Эти недостатки выражены слабее в системе с вибрационными дефлекторами, принцип работы которых основан на том, что отражающее зеркало крепится к рамке гальванометра, находящейся в постоянном магнитном поле. При прохождении тока через рамку зеркало поворачивается и смещает отраженный луч с требуемой скоростью на определенный угол [771. [c.57]

Рис. 52. Акустооптическая система для сканирования лазерного луча

В четвертой главе исследуется и разрабатывается метод статистической оценки среднего времени вхождения в связь двух объектов, снабженных системами сканирования узких лучей ОКГ и соответствующими приемниками Необходимость включения этого материала в монографию объясняется чрезвычайной актуальностью проблемы, поскольку реализация преимуществ оптических (лазерных) систем связи существенно зависит от ширины диаграмм направленности антенн передающих и приемных устройств, что определяет, с одной стороны, энергетику передатчика и чувствительность приемника, а с другой — вес и габариты оптических антенных устройств. Анализ этой проблемы со статистических позиций объясняется практической возможностью создания антенных устройств приемопередатчиков с чрезвычайно узкими диаграммами направленности, относительно большими областями сканирования лучей, что не исключает возможность случайного поиска корреспондента, и, наконец, действием интенсивных помех в канале связи при больших дальностях. [c.15]

Рис. 19.5. Принципиальная схема работы системы со сканированием лазерным лучом.

Для измерения геометрических характеристик линии сварки и самого шва в зоне сварки применяется способ сканирования луча лазерного дальномера вокруг точки сварки. Этот способ адаптивной сварки иллюстрируется рис. 5.18. В качестве излучателя здесь используется полупроводниковый лазер с мощностью импульса от 1 до Ш Вт, работающей в инфракрасном диапазоне. На свариваемые поверхности оптическая система лазера проецирует световое пятно диаметром 0,3 мм. Другая оптическая система воспринимает отраженный луч и фокусирует изображение пятна на фотоприемники прибора с зарядовой связью (ПЗС) с разрешающей способностью порядка 10 мкм. [c.175]

Если фотослой сканируется лазерным лучом, то пьезоэлектрический заряд, имеющийся в точке, освещенной в данный момент, может стекать и использоваться для управления экраном, работающим синхронно с системой лазерного сканирования. Иными словами, возникает изображение распределения зарядов, т. е. звукового давления на пьезоэлектрической пластине. [c.295]

Минимально обнаруживаемый дефект достигает порядка 0,1 мм в диаметре. Применение металлического вращающегося зеркала увеличивает скорость сканирования в 4 раза по сравнению со стеклянным зеркалом. Возможно контролирование поверхности материала, двигающегося со скоростью свыше 15 м/с. Сканирующие лазерные системы бегущего луча могут также использоваться для получения изображения объектов контроля. Схема лазерного сканирующего инфракрасного микроскопа для контроля внутренних дефектов полупроводниковых материалов с механическим сканированием объекта контроля и неподвижным лучом лазера отличается низким быстродействием, но имеет высокую разрешающую способность. Схема с системой сканирующих зеркал отличается большим быстродействием (до 50 кад/с при 200. .. 400 строках разложения телевизионного изображения), однако наличие полевых аберраций оптической системы приводит в этом случае к снижению пространственного разрешения. [c.509]

Мезрих с соавторами [1035] в 1974 г. опубликовали интер-ферометрический метод лазерного сканирования (раздел 13.2). В качестве одного из двух зеркал интерферометра Майкельсона служит тонкая гибкая мембрана. Она располагается в акустической ячейке, заполненной жидкостью, и перемещается вместе с ультразвуковым волновым полем. Поверхность мембраны сканируется системой отклонения лазерного луча (ультразвуковидение, камера R A). [c.194]

Особенностью механической системы сканирования является то, что лазерный луч необходимо прерывать на время нрохожде- [c.80]

В этом направлении в ИМАШ выполнены соответствующие разработки, в результате которых создан лазерный технологический комплекс ЛТК-01, состоящий из СО2-лазера непрерьшного излучения мощностью до 5 кВт (ЛТ-1) и технологического поста с программным перемещением лазерного луча относительно обрабатываемой детали в системе прямоугольных координат. Технологический пост снабжен оригинальным сканатором, обеспечивающим развертку луча с частотой до 200 Гц. Сканирование луча позволяет за счет более рационального использования энергии, излучения увеличивать производительность обработки примерно на 30-40%. [c.23]

КС измеряется по интерференции отраженного там света со (фавнительным светом. Для этого используется фотодетектор, который преобразует сигнал световой интерференции в электрический сигнал. Изображение формируется на экране,. который управляется синхронно с системой лазерного сканирования. Мембрана настолько тонка (меньше 6 мкм), что она может следовать за отклонениями поля ультразвуковых волн вплоть до частот около 10 МГц. Ее угол раскрытия как ультразвукового приемника составляет 50° (по уменьшению отклонения мембраны по сравнению с нормальным падением звукового луча на [c.295]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...