Матрица пропускания слоя. См. Характеристическая матриц

Продолжим ализ структур, состоящих из т одинаковых слоев толщиной Л, причем каждый элементарный слой характеризуется матрицей М. Периодичность слоев приводит к хорошо известному явлению частичной непрозрачности. Это означает, что в среде могут распространяться лишь волны, частоты которых лежат в определенных интервалах, называемых полосами пропускания. Вне этих полос поле затухает экспоненциально, аналогично тому, как затухают волны в средах с потерями. Изучение свойств полос непрозрачности возможно с помощью теоремы Флоке. Этим мы займемся в разд. 3.17. Положение различных полос и их ширина зависят от характеристик элементарного слоя (толщин и показателей преломления составляющих их тонких пленок). С математической точки зрения полосы непрозрачности соответствуют тем частотным интервалам, для которых модули собственных значений 7 характеристической матрицы элементарного слоя отличны от единицы, т. е. I Л Н- D > 2, [c.185]

Входящая сюда матрица 2x2 называется характеристической матрицей, или матрицей пропускания слоя [19]. В оптике эти матрицы впервые использовали Херпин и Мачмор при рассмотрении простых сред. Позднее они были обобщены на анизотропные кристаллы [20]. Элементы характеристической матрицы зависят от оптической толщины <8 и импеданса 2 однородного слоя, а ее детерминант равен единице. [c.181]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...